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- 型号: Sii SFT9550X型 X射线荧光镀层厚度测量仪
- 供应商:广州昌利信科学仪器有限公司
Sii SFT9550X型 X产品 精工(SEA1000SⅡ、SEA1000A、SEA1000AⅡ、SEA1200VX、SEA6000VX,均能升级至测定卤素,膜厚仪SFT-110、SFT9300、SFT9355、SFT9455、SFT9500X、SFT9550X)纳米科技有限公司,SFT9550X系列产品,搭载了高性能X射线管,实现了高精度的测定。SFT9550X极微小准直管和可变焦距光学系统的组合,实现了对极微小部分的测定。对有段差的样品也适用。 1.SFT9550X搭载了75W高性能X射线管。2.搭载标准的Φ50μm微小准直管(Z小Φ15μm)。3.容易对微小领域进行观察。SFT9550X搭载了能4阶段切换的可变焦距光学系统。4.依据照明能很容易对以前观察困难的样品进行观察。5.SFT9550X搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。6.搭载了焦点切换功能,能够对有高度...
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上海艾测电子科技有限公司: ,, , ,:-602,-602地址:上海市嘉定区南翔金通路1736弄1号312邮箱:网址:http://www.ai-test.com·概要 X射线发生系统为X射线聚焦光学系统(聚焦导管)与X射线源相结合,并且可以照射出实际照射直径为0.1mmφ以下高强度的X射线束。为此,可以对以往X产品由于照射强度不足而无法得到理想精度的导线架、插接头、柔性线路板等微小部件及薄膜进行测量。同时搭载高计数率、高分辨率的半导体检测器,在测量镀层厚度的同时,也能对RoHS、ELV、ZG版RoHS等法规所管制的有害物质进行分析测量。 特长 1. X射线发生系统采用了聚光导管 由于采用了X射线聚光导管方式,可得到以往十倍以上的X射线强度,从而可以提高微小样品的膜厚测量及有害物质测量的精度。 2. 无需液氮的半导体检测器 在进行薄膜测量与有害物质的浓度测量时,高分辨率...
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上海艾测电子科技有限公司: ,, , ,:-602,-602地址:上海市嘉定区南翔金通路1736弄1号312邮箱:网址:http://www.ai-test.com·概要 高速X射线管球的搭载,实现了高精度的测定。而且配合极微小准直器和光学变焦镜头可以实现极微小部分的测定。更可以对有高低平面差异的样品进行测定。 特长1.搭载了75W高性能X射线管。 2.搭载标准的Φ50μm微小准直管(Z小Φ15μm)。 3.容易对微小领域进行观察。搭载了能4阶段切换的可变焦距光学系统。 4.依据照明能很容易对以前观察困难的样品进行观察。 5.搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。 6.搭载了焦点切换功能,能够对有高度的样品的低部分进行测定。 7.利用伺服马达精确的驱动平台。 8.运用激光聚焦功能简单实现位置的调整。
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上海艾测电子科技有限公司: ,, , ,:-602,-602地址:上海市嘉定区南翔金通路1736弄1号312邮箱:网址:http://www.ai-test.com·75W高速X射线管和双重检验装置(半导体检验装置十比例计数管)。适用“薄膜”、“金属膜”、“极微小部分测定”等所有镀膜膜厚测定要求的高性能膜厚测量仪器。而且在镀膜厚度测量功能的基础上还可以用作异物定性分析和材料成分分析。 特长 搭载双向分离工检测器(半导体检测器+比例计数管):搭载在X射线能量分辨率上,的半导体检测器(起作用液化氮)和计数率的比例计数管,能够根据运用需要对应使用。特点是半导体检测器,能够区分Ni和Cu这样相似的元素。它有以下的特点: 1.能够对Ni/Cu和Au/Ni/Cu不需要二次过滤的情况下进行测定。 2.对于含Br的打印基板,可以做到不受Br干扰进行高精度的Au镀膜厚度测定。3.能够测定0.01μm以下极薄
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上海艾测电子科技有限公司: ,, , ,:-602,-602地址:上海市嘉定区南翔金通路1736弄1号312邮箱:网址:http://www.ai-test.com·概要 是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量计。SFT系列是本公司标准机型。防止样品和仪器装备结构不吻合的功能是本系列的标准装备。 特长1.依据照明,可以看到以前观察困难的样品。 2.搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。 3.运用激光聚焦功能简单实现位置的调整。 4.微小领域的观察也很容易。搭载了能4阶段切换的可变焦距透镜。(任选) 5.搭载了焦点切换功能,能够对有高度的样品的低部分进行测定。(任选)
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上海艾测电子科技有限公司: ,, , ,:-602,-602地址:上海市嘉定区南翔金通路1736弄1号312邮箱:网址:http://www.ai-test.com·1.即放即测! 2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量! 3.可无标样测量! 4.通过样品整体图像更方便选择测量位置! 特长 1. 通过自动定位功能提高操作性 测量样品时,以往需花费约10秒的样品对焦,现在3秒内即可完成,大大提高样品定位的操作性。 2. 微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等,致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。 3. 多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件,即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。 4. 广域观察系统(选配) 可从Z大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。 5. 对应大型印刷线路板(选配) 可对600×600mm的大型
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上海艾测电子科技有限公司: ,, , ,:-602,-602地址:上海市嘉定区南翔金通路1736弄1号312邮箱:网址:http://www.ai-test.com·概要 是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量计。可以测定结构部件有凹凸的样品和印刷基板等大面积样品。对照采用激光射线的Z轴方向的焦点,可以发挥测定值的再现性。而且物美价廉。 特长 1.操作非常简单。 2.运用激光焦点的功能,简单的调整位置。 3.针对有凹凸的样品也搭载了放心的防止冲突传感器。 4.搭载焦点切换机构,可以对高的样品的低部分进行测定。(任意选择) 5.采用可以测定大型打印基板的狭小间隙机构。
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