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- 型号: 微孔孔径分析仪
- 产地:湖北 武汉市
- 供应商:金埃康科技(武汉)有限公司
产品测试方法:氮吸附静态容量法产品主机功能:吸附及脱附等温线测定;样品真密度测定;BJH介孔分析-总孔体积及孔径分布分析;t-plot图法微孔分析;MP法微孔分析;HK微孔孔径分布;SF微孔孔径分布;Langmuir法比表面积测定;BET法比表面积测定(单点及多点);平均粒径估算;t-plot图法外比表面积测定;产品真空系统:V-Sorb独创的的全不锈钢微焊真空管路系统,真空管路必须采用全金属VCR连接,Z大限度减小管路死体积空间的同时,可长时间维持高真空度;采用VCR方式全金属连接,真空漏气率可达1x10-10 (Pa*m3/s),不能采用任何形式的O型圈密封方式,以避免高真空状态下O型圈自身释放气体影响真空度;产品真空腔体:V-Sorb独创的的集装式腔体及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径分析的...
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JW-BK400精微高博四站微孔孔径分析仪
- 产地:中国大陆
JW-BK400型精微高博四站产品,完全继承BK系列产品所有技术特点,自主创新,国内首台真正实现多站并列独立运行的高精度孔径分析仪。仪器重要硬件全部采用国际先进品Pai,产品综合性能完善,测试结果准确性、精确性、稳定性完全达到进口同等仪器水平,性价比极高,非常适合中大型企事业单位纳米粉体材料的快速检测。参数规格 测试功能: 等温吸脱附曲线;单点、多点BET比表面积;Langmuir比表面积;外表面积(STSA);单点吸附总孔体积、平均孔径;BJH介孔大孔孔容积及孔径分布分析;t-plot法、as- plot法、DR法、MP法微孔常规分析;平均粒径估算; 特殊功能:NLDFT法孔径分布分析;真...
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精微高博四站微孔孔径分析仪
- 型号: JW-BK400
- 产地:中国大陆
JW-BK400精微高博四站产品,完全继承BK系列产品所有技术特点,自主创新,国内首台真正实现多站并列独立运行的高精度孔径分析仪。仪器重要硬件全部采用国际先进品Pai,产品综合性能完善,测试结果准确性、精确性、稳定性完全达到进口同等仪器水平,性价比极高,非常适合中大型企事业单位纳米粉体材料的快速检测。参数规格 测试功能: 等温吸脱附曲线;单点、多点BET比表面积;Langmuir比表面积;外表面积(STSA);单点吸附总孔体积、平均孔径;BJH介孔大孔孔容积及孔径分布分析;t-plot法、as- plot法、DR法、MP法微孔常规分析;平均粒径估算; 特殊功能:NLDFT法孔径分布分析;真密...
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精微高博微孔孔径分析仪
- 型号: JW-132F
- 产地:中国大陆
JW-BK132F型精微高博产品,完全继承JW系列孔径分析仪所有技术特点,自主独特创新。该款仪器核心硬件全部采用国际先进品Pai,配备有“涡轮分子泵”及1torr小量程压力传感器,配合微孔分析模型的准确应用,完全实现了微孔的精确分析,氮吸附微孔Z小孔径实际可测达0.35nm,测试结果准确性、精确性、稳定性完全达到进口同类仪器水平,性价比极高。参数规格 测试功能: 等温吸脱附曲线;单点、多点BET比表面积;Langmuir比表面积;外表面积(STSA);单点吸附总孔体积、平均孔径;BJH介孔大孔孔容积及孔径分布分析;t-plot法、as- plot法、DR法、MP法微孔常规分析;HK法、SF法微孔...
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JW-BK400精微高博四站微孔孔径分析仪
- 产地:中国大陆
JW-BK400精微高博四站产品完全继承BK系列产品所有技术特点,自主创新,国内首台真正实现多站并列独立运行的高精度孔径分析仪。仪器重要硬件全部采用国际先进品Pai,产品综合性能完善,测试结果准确性、精确性、稳定性完全达到进口同等仪器水平,性价比极高,非常适合中大型企事业单位纳米粉体材料的快速检测。性能参数:测试功能:等温吸脱附曲线;单点、多点BET比表面积;Langmuir比表面积;外表面积(STSA);单点吸附总孔体积、平均孔径;BJH介孔大孔孔容积及孔径分布分析;t-plot法、as- plot法、DR法、MP法微孔常规分析;平均粒径估算; 特殊功能:NLDFT法孔径分布分析;真密度精确测试;气体吸附量、吸附热测试;质量输入法测试;测试气体:氮、氧、氢、氩、氪、二氧化碳、甲烷等;测试范围:比表面:0.0005m2/g至无上限,...
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山西超微超微孔孔径分析仪
- 产地:中国大陆
超产品,具有2个样品预处理脱气站,2个样品分析站。测试精度高、重现性好。重复性误差小于±1.5%。测试范围:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。国内知名品Pai,远销海外,获得多项国内技术专利,技术国际。 超产品背景知识: 细小粉末中相当大比例的原子处于或靠近表面。如果粉末的颗粒有裂缝、缝隙或在表面上有孔,则裸露原子的比例更高。固体表面的分子与内部分子不同,存在剩余的表面自由力场。同样的物质,粉末状与块状有着显著不同的性质。与块状相比,细小粉末更具活性,显示出更好的溶解性,熔结温度更低,吸附性能更好,催化活性更高。这种影响是如此显著,以至于在某些情况下,比表面积及孔结构与化学组成有着相当的重要性。因此,无论...
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并列式GX介孔微孔孔径分析仪
- 型号: JW-BK300C
- 产地:中国大陆
JW-BK300系列高精密三站并列式全自动介孔微孔分析仪,在JW系列孔径分析仪的基础上,自主研发的新一代高端微孔分析仪。该款仪器核心硬件全部采用国际先进品Pai,配备有“涡轮分子泵”和1000Torr、10Torr、1torr等不同量程的压力传感器,通过全模块化设计,配合微孔分析模型的准确应用,真正实现了微孔的精确分析,Z小孔径可测达0.35nm,测试结果准确性、精确性、稳定性达到进口同类仪器水平,性价比极高,非常适合活性炭、活性氧化铝、分子筛、沸石、MOF材料等超微孔纳米粉体材料的研究应用。性能参数:测试范围:0.0005(m2/g)--至无上限(比表面积);2nm-500nm(介孔及大孔分析);0.35nm-2nm(微孔分析);孔体积0.0001cm3/g-至无上限; 测试精度:≤± 1.0%(比表面);≤0.02nm(Z可几孔径); 测
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高精密并列式介孔微孔孔径分析仪
- 型号: JW-BK300C
- 产地:中国大陆
JW-BK300系列高精密三站并列式全自动介孔微孔分析仪,在JW系列孔径分析仪的基础上,自主研发的新一代高端微孔分析仪。该款仪器核心硬件全部采用国际先进品Pai,配备有“涡轮分子泵”和1000Torr、10Torr、1torr等不同量程的压力传感器,通过全模块化设计,配合微孔分析模型的准确应用,真正实现了微孔的精确分析,Z小孔径可测达0.35nm,测试结果准确性、精确性、稳定性达到进口同类仪器水平,性价比极高,非常适合活性炭、活性氧化铝、分子筛、沸石、MOF材料等超微孔纳米粉体材料的研究应用。性能参数:测试范围:0.0005(m2/g)--至无上限(比表面积);2nm-500nm(介孔及大孔分析);0.35nm-2nm(微孔分析);孔体积0.0001cm3/g-至无上限; 测试精度:≤± 1.0%(比表面);≤0.02nm(Z可几孔径); 测
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高精密介孔微孔孔径分析仪
- 型号: JW-BK300
- 产地:中国大陆
JW-BK300系列高精密三站并列式全自动介孔微孔分析仪,在JW系列孔径分析仪的基础上,自主研发的新一代高端微孔分析仪。该款仪器核心硬件全部采用国际先进品Pai,配备有“涡轮分子泵”和1000Torr、10Torr、1torr等不同量程的压力传感器,通过全模块化设计,配合微孔分析模型的准确应用,真正实现了微孔的精确分析,Z小孔径可测达0.35nm,测试结果准确性、精确性、稳定性达到进口同类仪器水平,性价比极高,非常适合活性炭、活性氧化铝、分子筛、沸石、MOF材料等超微孔纳米粉体材料的研究应用。性能参数: 测试功能: 等温吸脱附曲线;单点、多点BET比表面积;Langmuir比表面积;外表面积(STSA);
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高精密全自动介孔微孔孔径分析仪
- 型号: JW-BK300
- 产地:中国大陆
JW-BK300系列高精密三站并列式全自动介孔微孔分析仪,在JW系列孔径分析仪的基础上,自主研发的新一代高端微孔分析仪。该款仪器核心硬件全部采用国际先进品Pai,配备有“涡轮分子泵”和1000Torr、10Torr、1torr等不同量程的压力传感器,通过全模块化设计,配合微孔分析模型的准确应用,真正实现了微孔的精确分析,Z小孔径可测达0.35nm,测试结果准确性、精确性、稳定性达到进口同类仪器水平,性价比极高,非常适合活性炭、活性氧化铝、分子筛、沸石、MOF材料等超微孔纳米粉体材料的研究应用。性能参数: 测试功能: 等温吸脱附曲线;单点、多点BET比表面积;Langmuir比表面积;外表面积(STSA);
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经济型比表面介孔微孔孔径分析仪
- 型号: JW-BK222
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JW-BK122型经济型静态比表面及微孔分析仪,JW发明专利,完全继承JW系列孔径分析仪所有技术特点,自主独特创新。该款仪器核心硬件全部采用国际先进品Pai,配备有“二级吸附泵技术”及小量程压力传感器,配合微孔分析模型的准确应用,完全实现了微孔的精确分析,测试结果准确性、精确性、稳定性完全达到进口同类仪器水平,性价比极高,非常适合各大企事业单位纳米粉体材料微孔、介孔、大孔的研发及生产检测。性能参数: 测试功能: 等温吸脱附曲线;单点、多点BET比表面积;Langmuir比表面积;外表面积(STSA);单点吸附总孔体积、平均孔径;BJH介孔大孔孔容积及孔径分布分析;t-plot法、as- plot法、DR