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- 型号: DL10-GT14-ST-21
- 产地:北京
- 供应商:北京北信科仪分析仪器有限公司
产品 四探针产品 半导体方块电阻测量仪 型号:DL10-GT14-ST-21详细说明产品是四探针产品中的新一代产品,是一种依照类似国家标准和美国A.S.T.M标准而设计,专门测量半导体方块电阻(或称薄屋电阻、面电阻,单位Ω/□)的新型仪器。可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(如ITO透明导电氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。该仪器以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;带回路有效正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。特 点* 采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定;* 以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;* 采用单个干电池供电,带电池欠压指示;* 体积≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;* 轻便手持式设计操...
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M-2型便携数字式四探针电阻率方阻测试仪 M-2便携数字式四探针电阻率方块电阻测试仪
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是否提供加工定制是类型电参数测量仪 品PaiJG晶格型号M-2型便携数字式四探针电阻率方阻测试仪 测量范围电 阻 率:0.001~ 2000 Ω-cm ,方阻0.001 ~ 2000Ω/口测量精度±0.5%FSB±1LSB 功率0.005(KW) 频率50(HZ) 重量0.5(kg) 尺寸外形尺寸:W×H×L=16cm×5cm×12cm(mm) 电源可充电锂电池 M-2型数字式四探针测试仪简介一、结构特征 如上图二、概述M-2型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻(简称方阻),换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。本测试仪可赠设电池供电,适合手持式变动场合操作!仪
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6500元 方块电阻测试仪 四探针方块电阻测试仪
- 型号: 6500元
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产品/方块电阻测定仪/四探针产品 型号:HAD-XX-2HAD-XX-2型产品,是XX型系列四探针产品中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻特点:1、采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定。2、以大屏幕LCD显示读数,直观清晰3、采用单个电池供电,带电池欠压指示4、体积≤175mmX92mm X42mm,重量≤300g5、可配台式探头和特制之手握式探头,对应可采用台式和手握式操作,使用简易6、带探头与被测物质接触良好指示(LED)7、单电源开关,推拉式探头-主机接插件,操作极其简便。 技术指标测量范围:基本量程:方块电阻 1.00-199.99(Ω/口)扩展量程: 方块电阻 10.0-1999.9(Ω/口)测量不确定度≤5%...
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DL10-GT14-ST-21 方块电阻测试仪 四探针方块电阻测试仪
- 型号: DL10-GT14-ST-21
- 产地:北京
产品 四探针产品 半导体方块电阻测量仪 型号:DL10-GT14-ST-21详细说明产品是四探针产品中的新一代产品,是一种依照类似国家标准和美国A.S.T.M标准而设计,专门测量半导体方块电阻(或称薄屋电阻、面电阻,单位Ω/□)的新型仪器。可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(如ITO透明导电氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。该仪器以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;带回路有效正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。特 点* 采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定;* 以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;* 采用单个干电池供电,带电池欠压指示;* 体积≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;* 轻便手持式设计操作...
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方块电阻测试仪, 四探针方块电阻测试仪
- 型号: DL10-GT14-ST-21
- 产地:中国大陆
产品 四探针产品 半导体方块电阻测量仪 型号:DL10-GT14-ST-21详细说明产品是四探针产品中的新一代产品,是一种依照类似国家标准和美国A.S.T.M标准而设计,专门测量半导体方块电阻(或称薄屋电阻、面电阻,单位Ω/□)的新型仪器。可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(如ITO透明导电氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。该仪器以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;带回路有效正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。特 点* 采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定;* 以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;* 采用单个干电池供电,带电池欠压指示;* 体积≤175mm X90mm X...
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GZXY-5C 全国供应方块电阻测试仪,方块电阻测试仪
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DL50-ST-20 掌上型方块电阻测试仪 方块电阻测试仪
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产品名称:掌上型产品产品型号: DL50-ST-20产品编号: 12351掌上型产品 的详细介绍DL50-ST-20掌上型产品是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。 ◆ 特点: 1 采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定 2 低功耗 3 采用单个电池供电,带电池欠压指示 4 仪器体积仅为:130mmX65mm X23mm 5 特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜 6 探头带抗静电模块 ◆ 技术指标: 测量范围基本量程:方块电阻10.0-199.9(Ω/口) 扩展量程:方块电阻100-1999(Ω/口) 测量不确定度≤5% 探针规格 探针间距:...
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BXA53 双电四探针方阻电阻率测试仪 塑料薄膜金属镀层方块电阻测试仪
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双电四探针方阻电阻率测试仪 塑料薄膜金属镀层产品 探针电阻率/方阻测试仪型号:BXA53BXA53双电四探针方阻电阻率测试仪:双电四探针方阻电阻率测试仪 塑料薄膜金属镀层产品 探针电阻率/方阻测试仪本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率,配置不同的测试...
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HAD-XX-2 方块电阻测定仪 四探针方块电阻测试仪
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产品 方块电阻测定仪 四探针产品 型号:HAD-XX-2HAD-XX-2型产品,是XX型系列四探针产品中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻特点:1、采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定。2、以大屏幕LCD显示读数,直观清晰3、采用单个电池供电,带电池欠压指示4、体积≤175mmX92mm X42mm,重量≤300g5、可配台式探头和特制之手握式探头,对应可采用台式和手握式操作,使用简易6、带探头与被测物质接触良好指示(LED)7、单电源开关,推拉式探头-主机接插件,操作极其简便。 技术指标测量范围:基本量程:方块电阻 1.00-199.99(Ω/口)扩展量程: 方块电阻 10.0-1999.9(Ω/口)测量不确定度≤5%...
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DP-XX-2 方块电阻测定仪/四探针方块电阻测试仪/
- 型号: DP-XX-2
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【简单介绍】DP-XX-2型产品,是XX型系列四探针产品中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻【详细说明】产品/方块电阻测定仪/四探针产品 型号:DP-XX-2DP-XX-2型产品,是XX型系列四探针产品中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻特点:1、采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定。2、以大屏幕LCD显示读数,直观清晰3、采用单个电池供电,带电池欠压指示4、体积≤175mmX92mm X42mm,重量≤300g5、可配台式探头和特制之手握式探头,对应可采用台式和手握式操作,使用简易6、带探头与被测物...
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DP-XX-2 方块电阻测试仪/方块电阻测定仪
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产品/方块电阻测定仪/四探针产品 型号:DP-XX-2DP-XX-2型产品,是XX型系列四探针产品中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻特点:1、采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定。2、以大屏幕LCD显示读数,直观清晰3、采用单个电池供电,带电池欠压指示4、体积≤175mmX92mm X42mm,重量≤300g5、可配台式探头和特制之手握式探头,对应可采用台式和手握式操作,使用简易6、带探头与被测物质接触良好指示(LED)7、单电源开关,推拉式探头-主机接插件,操作极其简便。 技术指标测量范围:基本量程:方块电阻 1.00-199.99(Ω/口)扩展量程: 方块电阻 10.0-1999.9(Ω/口)测量不确定度≤...