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- 产地:江苏 苏州市
- 供应商:昆山三友新天机电科技有限公司
品PaiAMERICA型号NT1100 可对表面进行快速,重复性高,高分辨率的三维测量,测量范围可以从亚纳米级粗糙到毫米级的台阶高度。NT1100可提供工业标准的Wykol产品所有的优点,包括完整的Vision32 分析软件包.先进的光学元件可确保在所有放大倍率上具有纳米级的垂直分辨率. D选配曾加了一个马达驱动的平台用在一个更大的视场中进行高分辨率测量.NT1100给MEMS,厚膜,光学元件,陶瓷个先进材料的研发个生产提供了一个精确的,价格合理的计量方案.
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Nt1100 美国Wyko光学轮廓仪
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是否提供加工定制否品Pai美国Wyko 型号Nt1100测量精度0.001 可对表面进行快速,重复性高,高分辨率的三维测量,测量范围可以从亚纳米级粗糙到毫米级的台阶高度。NT1100可提供工业标准的Wykol产品所有的优点,包括完整的Vision32 分析软件包.先进的光学元件可确保在所有放大倍率上具有纳米级的垂直分辨率. D选配曾加了一个马达驱动的平台用在一个更大的视场中进行高分辨率测量.NT1100给MEMS,厚膜,光学元件,陶瓷个先进材料的研发个生产提供了一个精确的,价格合理的计量方案.
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NT9100 veeco NT9100光学轮廓仪 特价特价!!
- 产地:福建 福州市
是否提供加工定制是品Paiveeco 型号NT9100 产品详细信息Wyko NT 9100产品是一款便捷的、精确的、实用的非接触三维形貌测量系统。作为第九代系统,它采用已申请的双光源照明技术,同时实现了对超光滑表面和粗糙表面进行非接触表征,应用范围涵盖了亚纳米量级粗糙度测量到毫米尺度台阶高度测量。作为行业内值得信赖的及重现性的桌面式机台,NT9100可满足研发、磨损分析、失效分析及工艺控制等领域的需求。
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XTY5130351 非接触式三维光学轮廓仪
- 型号: XTY5130351
- 产地:北京
非接触式三维产品测量原理:相干相关算法(Coherence Correlation Interferometry)垂直方向测量范围(Z):2.2mm,拼接后可达10mm垂直向分辨率:0.01nm(0.1 Å)垂直方向噪音:<0.08nm垂直方向测量重复性:<0.02nmZ大测量区域(X,Y):6.6mm × 6.6mm,拼接后可达75mm ×75mm光学分辨率(X,Y):0.4~0.6µm(与被测面有关)工作台尺寸:X,Y=150mm × 150mm,Z=100nm台阶高度重复性:< 0.1%测量物镜:2.5× 5× 10× 20× 50× 100×标准平面:平面度< 0.2nm (RMS)数据分析软件:Talymap (Golden版),可以分析所有的二维和三维形貌和轮廓参数
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美国Rtec光学轮廓仪
- 型号: UP-
美国Rtec公司生产的UP系列产品测量系统沿着纵轴捕获一系列位置的光强数据。通过白光干涉图的形状,干涉图的局部相位或者是二者的结合来确定表面位置。本公司还有激光共焦,白光共焦,拉曼光谱仪等,可以把这些设备自由组合在一起,以实现客户的不同需求产品UP有如下特点快速直观的操作较高的计算程序,精确的高测量速度和简便的操作软件,使用户能够快速的分析和创建报告多个物镜该UP 带有6物镜转轮,包括多个物镜:长焦,短焦,不同数值孔径,投射镜头等电子器件先进的控制器,低机械噪声,自校准系统,可选波长,64位并行处理器,标准分辨率达到1920*1920硬件UP能够被固定到全自动化的平台,高强度LED10年保修,高级精加工零部件,低能耗,远程访问,内置相机侧视图,有效照明等。软件三维虚拟软件影像分析多种标准,粗糙,...
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Nanovea非接触3D光学轮廓仪PS50
- 型号: PS50
PS50型三维表面形貌仪是一款科研版的三维表面形貌测量设备,采用国际领先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,具有测量精度高,速度快,重复性好的优点,该仪器性价比高,可用于取代传统的探针式表面形貌仪与干涉式表面形貌仪。产品特性采用白光共聚焦色差技术,可获得纳米级的分辨率测量具有非破坏性,测量速度快,精确度高测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛 光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…);尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面不受环境光的影响测量简单,样品无需特殊处理Z方向,测量范围大:为27mm主要技术参数扫描范围:50×50(mm)扫描步长:0.1μm扫描速度:20mm/sZ方向测量范围:27mmZ方向测量分辨率:2nm产品应用MEMS、
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光学轮廓仪(三维共聚焦表面测量系统/3D显微镜)
- 型号: μsurf custom
- 产地:欧洲
n 产品介绍μsurf系列产品采用多孔共聚焦技术,结合CCD的影像摄取,以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞,再将物镜垂直移动,以类似断层摄影方式,可在短时间(约几秒)内精确量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式,不会破坏样品的表面,不需要在真空环境下测量,也可以用显微镜测量的功能来观测样本,其在严酷的工作环境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在测量渐变较大的高度时,跟其他方法相比,可以更精确量测物体高度,建立3D立体影像,优势相当明显。NanoFocus μsurf custom三维共聚焦表面测量系统,可以根据客户的具体需求进行样品平台和软件的定制,功能齐全,可以自动测量,能精确捕捉样品的三维结构和微纳米尺度的复杂几何形状,并拥有超高光学分辨率和Z全面广泛的三维表面形貌分析处理能力。该机台还配备了整合计算机和测量系统的工作台,可以
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NanoFocus μsurf explorer光学轮廓仪(非接触三维表面测量系统/3D显微镜)
- 型号: 德国NanoFocus
- 产地:欧洲
μsurf系列产品采用多孔共聚焦技术,结合CCD的影像摄取,以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞,再将物镜垂直移动,以类似断层摄影方式,可在短时间(约几秒)内精确量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式,不会破坏样品的表面,不需要在真空环境下测量,也可以用显微镜测量的功能来观测样本,其在严酷的工作环境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在测量渐变较大的高度时,跟其他方法相比,可以更精确量测物体高度,建立3D立体影像,优势相当明显。NanoFocus μsurf explorer机台功能齐全,结构紧凑,性价比高,并拥有超高光学分辨率和Z全面广泛的三维表面形貌分析能力。n 应用μsurf系列用来测量表面物理形貌,进行微纳米尺度的三维形貌分析,如3D表面形貌、2D的纵深形貌、轮廓(纵深、宽度、曲率、角度)、表面粗糙度等。ü 精密部件:检测对表
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光学轮廓仪WIVS-I
- 产地:其它
1、简介 干涉显微镜自上世纪至今一直是非接触测量高等级表面粗糙度的主要仪器。上海光机厂生产的6JA干涉显微镜是国内市场上的主要产品。6JA干涉显微难以满足科技不断发展的需要。不过在它基础上发展起来的垂直扫描干涉显微镜近年来得到广泛的应用。如美国VEECO公司的Wyko NT系列产品,Taylor-Hobson公司的CCI工艺产品等。国内市场几乎被国外公司垄断。 2、主要特点 WIVS—1型垂直扫描白光干涉轮廓测量仪在6JA干涉显微镜的基础上改造而成。 1) 保留原显微镜人工读数、评定功能。 2) 可通过单幅图像原理,获取二维参数及曲线。 3) 垂直扫描由自主设计的反镜式垂直扫描工作台完成,具有粗、精两级,其垂直位移量由衍射光栅干涉计量,工作台具有大量程高精度特征。 4 )可以用两种方法测量表面三维参数及图形: (1)对峰谷高度小于...
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ContourGT 光学轮廓仪系统
- 产地:美洲
批量生产及科研必不可少的非接触式三维产品提供从粗糙界面到光滑界面,硬到软,粘性的或者其它一些比较难以测量的轮廓的三维形貌精确测量。其应用范围极广,如科研 ,产品研发,工艺控制,失效分析等领域ContourGTTM 集合领先的64-bit,多功能操作和分析软件,专利的白光干涉技术以及的简易操作性于一身,是目前进的三维产品。这款第十代的产品可以快速测量垂直方向由埃至毫米级视野范围内的工业领域中领先的高分辨率图像。ContourGT是目前功能大,应用范围Z广的三维轮廓测量系统。 ContourGT-K0ContourGT-K1ContourGT-X3andX8属性台式;需要防震台式;需要防震自带防震台;可选Ergotron armX-Y样品台150mm手工;±6°倾斜调制系统150mm手工;可选150mm自动;±6°倾斜调制系统20...
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光学轮廓仪 布鲁克(原veeco)
- 型号: NPFLEX
- 产地:美洲
NPFLEX 3D 产品是目前市场上Z具灵活性的非接触式大样品三维表面形貌测量系统。在数据密度、分辨率和重复性等方面,基于白光干涉原理的NPFLEX 3D远远超过了接触式测量仪器所能达到的水平,因此完全可以作为独立的测量方案应用。 NPFLEX 3D具有突破性的开放式样品台设计,使样品的表面测量角度超过了300o,解决了以往由于样品尺寸过大和形状不规则造成的测量难题。另外,NPFLEX所具有的快速数据获取、自动缝合和多重分析等功能更是大大提高了工作效率。 NPFLEX 3D 非接触式产品可广泛应用于航空航天,汽车工业,精密机械制造和医学整形材料等领域。