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- 产地:欧洲
- 供应商:江苏万科科教仪器有限公司
品Pai 日立 型号 HF-3300 仪器放大倍数 观测模式 2000x~1,500,000x 适用范围 实验研究 装箱数 1 产品介绍:具有超高分辨和分析能力的冷场发射透射电镜日立公司久负盛名的冷场发射电子枪和300KV高压系统相结合保证了HF-3300具有超高分辨成像和高灵敏分析能力,它具有的双重双棱镜全息摄影功能、空间分辨元素电子能量损失谱(EELS)和高精度平
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JEM-2100F 发射透射电子显微镜
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类型电子显微镜型号JEM-2100F 200kV场发射产品型号:JEM-2100F 参考价格:USD 1500000 产地:日本仪器介绍 JEM-2100F应用广泛,从材料科学、生命科学、YL、制药、半导体到纳米技术。利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。高亮度的场发射电子枪,轻松实现各种分析功能。JEM-2100F新设计的侧插式侧角台,在倾斜、旋转、加热、制冷时都不会造成机械飘移。SJEM-2100F可与TEM,MDS,EDS,EELS,andCCD-camera实现一体化控制。技术参数1.点分辨率:0.19nm2.线分辨率:0.14nm3.加速电压:80, 100, 120, 160, 200kV4.倾斜角:255.STE...
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HF-3300 日立HF-3300 场发射透射电子显微镜
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是否提供加工定制否类型电子显微镜 品Pai日立型号HF-3300 仪器放大倍数200x~500x(低倍模式) 2000x~1500000x(观测模式)目镜放大倍数/ 物镜放大倍数/重量/(g) 适用范围材料、电子、半导体、食品和生命科学等领域装箱数1 具有超高分辨和分析能力的冷场发射透射电镜日立公司久负盛名的冷场发射电子枪和300KV高压系统相结合保证了HF-3300具有超高分辨成像和高灵敏分析能力,它具有的双重双棱镜全息摄像功能*、空间分辨元素电子能量损失谱(EELS)*和高精度平行纳米光束衍射技术为材料的研究打开了一扇新的大门。特点:高亮度冷场发射电子枪冷场发射电子枪先天具有的高亮度和高能量分辨率能力 保证了纳米量级分析研究成为可能,对超高分辨图像和电子全息摄影具有极大贡献。300KV高压系统 300KV高压系统保证了厚样品的原子分辨率图像,而在金属和陶瓷等高原
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场发射透射电子显微镜 HF-3300
场发射产品 HF-3300主要特点:高亮度场发射电子枪冷冷场发射电子枪先天具有的高亮度和高能量分辨率的特点,使纳米量级分析研究成为可能,对超高分辨图像和电子全息摄影具有极大贡献。300kV高压系统300kV高压系统具有更高的穿透能力,保证了厚样品的原子分辨率图像,降低了样品制备难度,尤其对于金属、陶瓷等高原子序数样品的观测十分有利。独特的分析能力新引入了双重双棱镜全息摄影功能、高空间分辨率电子能量损失谱(EELS)和高精度平行纳米束衍射技术等独特的分析技术。可与FIB联用样品杆日立公司专有的样品杆可适应FIB、TEM和STEM的使用。简便易用的控制系统基于Windows开发的电脑控制系统、马达驱动可动光阑和5轴马达样品台使得仪器简单易用,10分钟的升压时间和1分钟的换样时间保证了仪器GX率的运转。分辨率0.1 nm(晶体点阵)0.19 nm(点对点)0.13 nm(信息极限)放大...
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JEOL JEM-2800 场发射透射电子显微镜
日本电子株式会社(JEOL)推出了一款特殊设计的产品即JEOL JEM-2800 场发射产品,在兼顾高分辨高稳定性的同时,Z求分析效率的化和操作的自动化。JEOL JEM-2800 场发射产品技术参数:1. 点分辨率:0.21nm;2. 晶格分辨率:0.1nm;3. STEM 分辨率:0.16nm;4. 二次电子分辨率:0.5nm;5放大倍数:高达2,000,0006. 能谱:可以安装两个超级能谱7. 洛伦兹模式:标配自成立以来,我们和Bruker、FEI、Leica、Agilent、Perkin Elmer、Shimadzu等公司建立了良好的关系,并以完善到位的专业化售前、售中和售后服务赢得了广大客户的信赖和好评。公司致力于追求客户价值的化,争取推动的Z前沿技术和产品的运用,成为世界同类先进产品设备制造商的代理和服务商。
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200kV场发射透射电子显微镜
技术参数:1.点分辨率:0.19nm2.线分辨率:0.14nm3.加速电压:80, 100, 120, 160, 200kV4.倾斜角:255.STEM分辨率:0.20nm主要特点:1.高亮度场发射电子枪。2.束斑尺寸小于0.5nm。3.新式侧插测角台,更容易倾转、旋转、加热和冷冻,无机械飘移。4.稳定性好、操作简便。5.微处理器和PC两套系统控制,防止死机。
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HF-3300 日立场发射透射电子显微镜HF-3300
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日立场发射产品HF-3300产品介绍:HF-3300是一款300kV的冷场发射透射电镜,日立公司久负盛名的冷场发射电子枪和300kV高压系统相结合保证了HF-3300具有超高分辨成像和高灵敏分析能力。HF-3300具有独特的双重双棱镜全息摄影功能,可以获得许多透射电子显微术无法获得的信息,特别是与材料的物理性能相关的相位信息(如电势场、磁场等)。配合元素电子能量损失谱(EELS)和高精度平行纳米束衍射技术,HF-3300还可以研究超高空间分辨率的元素分析和材料结构特点,为材料研究打开了一扇新的大门。 日立场发射产品HF-3300主要特点:高亮度场发射电子枪冷冷场发射电子枪先天具有的高亮度和高能量分辨率的特点,使纳米量级分析研究成为可能,对超高分辨图像和电子全息摄影具有极大贡献。300kV高压系统300kV高压系统具有更高的穿透能力,保证了厚样品的原子分辨率图像,降低了样...
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HF-3300场发射透射电子显微镜
产品介绍: 具有超高分辨和分析能力的冷场发射透射电镜 日立公司久负盛名的冷场发射电子枪和300KV高压系统相结合保证了HF-3300具有超高分辨成像和高灵敏分析能力,它具有的双重双棱镜全息摄影功能、空间分辨元素电子能量损失谱(EELS)和高精度平行纳米束衍射技术为材料的研究打开了一扇新的大门。 特点: 高亮度冷场发射电子枪冷 场发射电子枪先天具有的高亮度和高能量分辨率能力保证了纳米量级分析研究成为可能,对超高分辨图像和电子全息摄影具有极大贡献。 300KV高压系统 300KV高压系统保证了厚样品的原子分辨率图像,而在金属和陶瓷等高原子序
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HF-3300场发射透射电子显微镜
- 品牌:HITACHI,JAPAN
- 型号: HF-3300
- 产地:进口
产品介绍: 具有超高分辨和分析能力的冷场发射透射电镜日立公司久负盛名的冷场发射电子枪和300KV高压系统相结合保证了HF-3300具有超高分辨成像和高灵敏分析能力,它具有的双重双棱镜全息摄影功能、空间分辨元素电子能量损失谱(EELS)和高精度平行纳米束衍射技术为材料的研究打开了一扇新的大门。 特点:高亮度冷场发射电子枪冷场发射电子枪先天具有的高亮度和高能量分辨率能力保证了纳米量级分析研究成为可能,对超高分辨图像和电子全息摄影具有极大贡献。300KV高压系统300KV高压系统保证了厚样品的原子分辨率图像,而在金属和陶瓷等高原子序数样品观测时由于电子透过能力弱,300KV高压更是经常需要用到。独特的分析能力新引入了双重双棱镜全息摄影功能、空间分辨电子能量损失谱(EELS)和高精度平行纳米束衍射技术等独特的分析能力。可与FIB联用样品杆日立公司专有
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JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜
- 产地:北京市
JEM-3200FS 场发射产品配备了高加速电压为300kV的场发射电子枪(FEG)和镜筒内置式Ω型能量过滤器,能为广泛的研究领域提供各种全新的解决方案。镜筒内置式Ω型能量过滤器(omega 过滤器)镜筒内置式Ω型能量过滤器内置于成像透镜系统,能容易地获得能量过滤像和能量损失谱,同时还能获得与传统电子显微镜同等的放大倍率范围。此外、Ω型过滤器的电子光学系统在设计上一定程度地减少了图像畸变,出厂前还将剩余一点的畸变做了ZH的修正。JEM-3200FS还采用了高灵敏度的相机系统及图像处理系统(选配件),可以构建元素面分布系统及能量损失谱系统。新型控制系统电子枪、电子光学系统、测角台、抽真空系统等电子显微镜基本功能的系统化,实现了高稳定、高性能的控制系统。图像画面和用户界面采用Windows ®*1,可以进行编程操作和附件的集中控制。新型测角台系统化的新型测角台内置压电陶瓷...
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场发射透射电子显微镜
- 品牌:JEOL
- 型号: JEM-F200
以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射产品,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。 外观设计精炼 精炼的外型,全新的视觉感受。 为分析型电镜全新设计的GUI,使操作更加直观方便。 JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现,与旧机型相比,电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。 四级聚光镜系统 现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术-- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技...