供应商：金埃康科技（武汉）有限公司

催化剂比产品 催化剂比表面测定仪详细信息-催化剂比产品 催化剂比表面测定仪测试方法：氮吸附静态容量法催化剂比产品 催化剂比表面测定仪主机功能：吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分布分析,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,Langmuir法比表面积测定 BET法比表面积测定（单点及多点）,平均粒径估算,t－plot图法外比表面积测定；催化剂比产品 催化剂比表面测定仪测量范围：0.01(m2/g）--至无上限（比表面积） 0.35nm-400nm（孔径）催化剂比产品 催化剂比表面测定仪测量精度：重复性误差小于1.5%真空系统：V-Sorb的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径分布测定的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命.液位控...

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金埃谱科技是比产品,比表面积仪,比表面积测试仪,比表面积分析仪,比表面积测定仪,孔径分析仪,孔隙率测定仪,比表面积和微孔分析仪,孔径分布测试仪,比表面及孔隙度分析仪国产实现真正完全自动化智能化测试技术的开拓者和引领者,多项独特技术已成为业内厂商仿效典范 活性碳比产品应用领域:吸附剂(如活性碳,硅胶,活性氧化铝,分子筛,活性炭,硅酸钙,海泡石,沸石等);陶瓷原材料(如氧化铝,氧化锆,硅酸盐,氮化铝,二氧化硅,氧化钇,氮化硅,石英,碳化硅等);橡塑材料补强剂(如炭黑,白碳黑,纳米碳酸钙,碳黑,白炭黑等);电池材料(如钴酸锂,锰酸锂,石墨,镍钴酸锂,氧化钴,磷酸铁锂,钛酸锂,三元素,三元素材料,聚合物,聚合物材料,聚合物电池材料,碱锰材料,锂离子材料,锂锰材料,碱性材料,锌锰材料,石英粉,镁锰材料,碳性材料,锌空材料,锌汞材料,乙炔黑,镍氢材料,镍镉材料,隔膜,活性物资,添加剂,导电...

供应商：金埃康科技（武汉）有限公司

硅酸锆比产品 硅酸锆比表面积测量仪的详细信息-硅酸锆比产品 硅酸锆比表面积测量仪F-Sorb 3400是目前国内同类产品中完全自动化,智能化的比表面积及孔径分布测量仪器,08年和09年国内市场销量一,众多科研院所及500强企业应用案例,由金埃谱科技与兵器系统合作研发,秉承兵器行业高标准,严要求的技术宗旨,依据国际经典比表面测量理论和原理,采用国内外通用比表面测量方法,符合国际比表面测量标准,显著提高产品稳定性和使用寿命,测试结果更准确,操作简单快捷,大大降低测试人员工作量.可用于电池材料比表面积测量,催化剂材料比表面积及孔径分布测量,硅酸锆比表面分析 硅酸锆比表面积测量、炭黑总表面积及外表面积测量等,广泛适用于高校及科研院所材料研究和粉体材料生产企业产品质量监控.金埃谱科技是国内早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性,并获取上海计量院检测证书,北京金埃...

供应商：北京金埃谱科技有限公司

4站全自动比表面积检测仪静态容量法4站比表面积检测仪V-Sorb 4800S是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积检测仪器,采用静态容量法测量原理,众多科研院所及500强企业应用案例,相比国内同类产品,金埃谱比表面积检测仪多项技术的采用使产品整体性能更加完善,金埃谱比表面积检测仪测试结果的准确性和一致性进一步提高,金埃谱比表面积检测仪测试过程的稳定性更强,金埃谱比表面积检测仪达到国际同类产品先进水平,部分功能超越国外产品.比表面积检测仪F-Sorb 2400是目前国内同类产品中WY完全自动化,智能化的产品,2008年、2009年和2010年连续3年国内市场销量.金埃谱科技是国内参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性Z好,并获取权威认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中现金注册资本规模,WY通过ISO900

供应商：南京巴鲁仪器设备有限公司

  3H-2000A型比表面积分析仪 性能参数：测试方法： 多功能性，可进行固体标样参比法比表面测试、粒度估算；测试精度：测试精度高、重现性好。测试相对误差小于±1.5%；测试范围： 测试范围广，可测定比表面积在0.01m2/g以上的范围内的物质，满足所有粉体物质及多孔物质比表面积的测试；样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等。测试时间：测试时间:同时可测试3个样品，平均每个样品测定时间约6分钟，仅为国外同类仪器测试时间的四分之一；以上测试时间不包含样品吹扫净化预处理时间。由于具有风热助脱，为国内测试速度Z快比表面仪；吹扫处理： 具有国内WY一体式脱气装置（非分体式），解决了脱气、测试一体化问题，实现了试样原位处理，只需一次安装，与空气零接触，保证了样品预处理的GX性与有效性；（专利名称：具有原位吹扫功能的比表面仪专利号:ZL200920110

供应商：北京宏昌信科技有限公司

仪器名称：ZETA电位分析仪研究对象：纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。主要用途：测量材料的表面电荷，了解材料表面上的电荷状况，研究材料表面性能。主要应用：材料表面改性          材料表面黏附、吸附、脱附等          材料组成          材料亲水性与疏水性          材料洁净处理等          表面活性剂相互作用SurPASS 固体电运动分析仪/ 固体表面ZETA 电位仪帮助科研人员在化学与材料科学领域内改善和调整表面特性，设计新型、特定性质的材料，如聚合物、纺织、陶瓷、玻璃、或表面活性剂等。通过测量宏观固体物表面的流动电流或流动电压（电势），SurPASS 固体电运动分析仪给出了ZETA 电位这样一个重要的信息。 ZETA 电位是一种界面特性，这对于理解固体材料在很多工艺技术处理方面非常重要。ZETA 电位给出了固体表面电荷、吸附性质

供应商：北京精微高博科学技术有限公司

 (欢迎您致电咨询或选购其他型号\功能的仪器仪表) JW－004全自动比表面仪 一、比表面仪技术参数如下： 主机功能比表面仪：（1）单点及多点比表面仪，并可测定吸附常数C 值（2）直接对比法比表面仪快速测定（3）Langmuir比表面仪 测定范围：（1）比表面仪：0.1-3500㎡/g 比表面仪重复精度： ≤±3% 比表面仪测量原理：动态常压连续氮吸附法，BET原理，直接对比法 比表面仪样品种类： 纳米材料，氧化物，氧化硅，氧化锆，催化剂、钴酸锂、锰酸锂、正极材料、锂电池、纤维及其它可装入U型样品管样品 二、产品特点 1.采用本公

供应商：北京精微高博科学技术有限公司

比表面及孔径分析仪精微高博是比表面及孔径分析仪具权威的厂商,精微高博比表面及孔径分析仪一并荣获ZG计量院测试证书,ISO9001认证及CE认证并且还有的产品是通过高新技术企业 精微高博比表面及孔径分析仪经技术鉴定，控制精度和测试精度达到国际先进水平，已在国内普遍应用。比表面及孔径分析仪功能比表面测定：    BET（单点、多点）比表面，Langmuir比表面，外表面测定；BJH孔径分布测定：    总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布；微孔常规分析：    微孔总孔体积、总内表面积（t-图、D&R、MP等）真密度测试比表面及孔径分析仪技术参数比表面及孔径分析仪原理方法：  低温氮吸附，静态容量法比表面及孔径分析仪吸附气体：  高纯氮气，也可用氪、氦、二氧化碳等其他气体比表面及孔径分析仪极限真空：  4 - 6.7×10-2Pa ( 3- 5×10-4   Torr)比表面及孔径分

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比产品精微高博是比表面积测定仪具权威的厂商,精微高博比表面积测定仪一并荣获ZG计量院测试证书,ISO9001认证及CE认证并且还有的产品是通过高新技术企业 精微高博比表面仪具有两个独立分析站，两个样品同时测试，效率提高一倍，控制和测试精度达国际先进水平产品型号：JW-BK222 比产品：静态容量法比产品，具有BET（单点、多点）、Langmuir、外表面、孔体积（孔容）、吸（脱）附等温线、BJH法吸（脱）附介孔大孔孔径分析等多种测试功能。采用进口高精度压力传感器（1000torr）及低温电磁阀控制，具有外气室温度实时监测功能，的外气室体积精确测试功能，配备进口机械泵，真空度可高达10-2Pa。具有2个独立的样品分析站（可同时进行2个样品分析），可同时进行同位脱气处理，可程序升温控制脱气速度，脱气温度Z高可达400℃。全新的多功能软件操作系统，支持Windows 7/XP系...

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测试方法:氮吸附静态容量法主机功能:吸附及脱附等温线测定;样品真密度测定;BJH介孔分析-总孔体积及孔径分布分析;t-plot图法微孔分析;MP法微孔分析;HK微孔孔径分布;SF微孔孔径分布;Langmuir法比表面积测定;BET法比表面积测定(单点及多点);平均粒径估算;t－plot图法外比表面积测定;真空系统:V-Sorb独创的的全不锈钢微焊真空管路系统,真空管路必须采用全金属VCR连接，Z大限度减小管路死体积空间的同时,可长时间维持高真空度;采用VCR方式全金属连接，真空漏气率可达1x10－10 (Pa*m3/s)，不能采用任何形式的O型圈密封方式,以避免高真空状态下O型圈自身释放气体影响真空度;真空腔体:V-Sorb独创的的集装式腔体及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径分析的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器