供应商：北京亿诚恒达科技有限公司

NANOMAP 500LS产品/三维形貌仪/粗糙度仪，既有高精密度和准确度的局部（Local）SPM扫描，又具备大尺度和高测量速度；既可用来获得样品表面垂直分辨率高达0.05nm的三维形态和形貌，又可以定量地测量表面粗糙度及关键尺寸，诸如晶粒、膜厚、孔洞深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等，并计算关键部位的面积和体积等参数。样件无须专门处理，在高速扫描状态下测量轮廓范围可以从1nm 到10mm。产品/三维形貌仪/粗糙度仪的应用领域覆盖了薄膜/涂层、光学，工业轧钢和铝、纸、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介质和半导体等几乎所有的材料领域。美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造，是表面测量解决方案行业的ling先供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。NANOMAP 500LS技术特点常规的接触式轮廓仪和扫描探针显微镜技...

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NANOMAP 500LS轮廓仪/三维形貌仪，既有高精密度和准确度的局部（Local）SPM扫描，又具备大尺度和高测量速度；既可用来获得样品表面垂直分辨率高达0.05nm的三维形态和形貌，又可以定量地测量表面粗糙度及关键尺寸，诸如晶粒、膜厚、孔洞深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等，并计算关键部位的面积和体积等参数。样件无须专门处理，在高速扫描状态下测量轮廓范围可以从1nm 到10mm。该仪器的应用领域覆盖了薄膜/涂层、光学，工业轧钢和铝、纸、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介质和半导体等几乎所有的材料领域。美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造，是表面测量解决方案行业的领先供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。NANOMAP 500LS轮廓仪/三维形貌仪技术特点常规的接触式轮廓仪和扫

供应商：上海昭沅仪器设备有限公司

   Kosaka ET4000产品        ET4000具有高精确性、稳定性和重复性，可测量FPD、晶片、磁盘，和与纳米材料相关物件的表面特性、台阶高度和粗糙度等。坚固的花岗岩材料铸成的机身框架以及支撑部件显著提高了仪器的重复精度，并降低了地板噪音对测量的干扰。ET4000为满足用户不同应用方向的需要提供了多种可选配置，通过选配三维成像附件套装还可以极大地扩充仪器的功能。 主要特点：1. 具有的台阶高度重复性5Å (1σ)和线性度（垂直线性度：200nm以上为±0.25%；200nm以下为0.5nm）；2. 高分辨率，纵轴分辨率为0.1nm，横轴为0.01μm，可精确测量纳米级至几百微米级台阶高度；3. 超高直线度： 0.005μm/5mm，可测定微细表面形状、段差、平面度、粗度、应力分析等；4. 低测定力：采用直动力LVDT检...

供应商：东莞市湘龙自动化设备有限公司

光伏电池台阶仪、KLA-Tencor产品 做为ZG权威科研供应商之一，本公司一直努力为广大科研用户提供优质的产品和优惠的价格，为ZG的科研领域献出一份绵薄之力。光伏电池少子寿命测试仪/椭偏仪/QE量子效率测试/薄膜电池检测系统/电池IV测试系统/光伏组件载荷、PID、通电连续性测试系统等，刘专业为您服务 KLA-Tencor产品   产品说明: The Alpha-Step IQ is a state-of-the-art, stylus-based surface profiler that combines high measurement precision with versatility and economy. Ideal for applications such as pilot lines and materials research, this adva...

供应商：北京亿诚恒达科技有限公司

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供应商：春龙仪器有限公司

测量技术 探针式表面轮廓测量技术 ( 接触模式)测量范围 二维表面轮廓的测量可选择三维测量及数据分析样品观测 可选择放大倍数，视场（FOV）范围： 1 to 4mm探针传感器 低惯量传感器 (LIS 3)探针作用力 LIS 3 传感器中1 到15mg低作用力模式 N-Lite+ 低作用力 0.03 到 15mg探针选项 探针曲率半径 50nm to 25μm高径比针尖 (HAR) 10 μm x 2 μm and 200 μm x 20 μm; 也可根据需求采用用户定制的针尖样品 X/Y载物台 手动X/Y（4英寸）：100mm*100 mm,可手动校平马达X/Y（6英寸）：150mm*150mm, 可手动校平样品 R-? 载物台 手动, 360度连续旋转马达, 360度连续旋转计算机系统 64位 多核并行处理器, Windows® 7.0系统; 可选配23英寸平板显示器软件 Vision6

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北京NANOMAP500LS产品厂家NANOMAP 500LS产品/三维形貌仪，既有高精密度和准确度的局部（Local）SPM扫描，又具备大尺度和高测量速度；既可用来获得样品表面垂直分辨率高达0.05nm的三维形态和形貌，又可以定量地测量表面粗糙度及关键尺寸，诸如晶粒、膜厚、孔洞深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等，并计算关键部位的面积和体积等参数。样件无须专门处理，在高速扫描状态下测量轮廓范围可以从1nm 到10mm。该仪器的应用领域覆盖了薄膜/涂层、光学，工业轧钢和铝、纸、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介质和半导体等几乎所有的材料领域。 NANOMAP 500LS产品/三维形貌仪技术特点常规的接触式轮廓仪和扫描探针显微镜技术的结合。双模式操作（针尖扫描和样品台扫描），即使在长程测量时也可以得到优化的小区域三维测图。针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式，三维扫描范围从1...

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P-170是cassette-to-cassette产品，将行业领先的P-17台式系统的测量性能和经过生产验证的HRP®-260的机械传送臂相结合。 这样的组合为机械传送臂系统提供了极低的拥有成本，适用于半导体，化合物半导体和相关行业。 P-170可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达200mm而无需图像拼接。该系统结合了UltraLite®传感器、恒力控制和超平扫描平台，因而具备出色的测量稳定性。通过点击式平台控制、顶视和侧视光学系统以及带光学变焦的高分辨率相机等功能，程序设置简便快速。P-170具备用于量化表面形貌的各种滤镜、调平和分析算法，可以支持2D或3D测量。并通过图案识别、排序和特征检测实现全自动测量。主要功能·        台阶高度：几纳米至1000μm·        微力恒力控制：0.03...

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Alpha-Step D-500产品支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量，大垂直范围和低触力测量功能。探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量，与材料特性无关。 可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行精确测量。 通过测量粗糙度和应力，可以对工艺进行量化，确定添加或去除的材料量，以及结构的任何变化。主要功能·        台阶高度：几纳米至1200μm·        低触力：0.03至15mg·        视频：500万像素高分辨率彩色摄像头·        梯形失真校正：消除侧视光学系统引起的失真·        圆弧校正：消除由于探针的弧形运动引起的误差·        紧凑尺寸：Z小占地面积的台式产品·        软件：用户友好的软件界面主要应...