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- 型号: LICS-100
- 产地:浙江 宁波市
- 供应商:宁波乔福贸易有限公司
美国光动激光干涉仪 浙江宁波乔福贸易有限公司 欢迎您的光临简单介绍: 美国光动LICS-100激光多普勒位移测量系统集光动公司创新的多普勒激光测量技术和现今先进的光电子技术于一身,是激光测量系统的创新之举,主要用于长度(位置)精度等线性测量。详细介绍 技术参数 主要技术参数: 激光稳定性 0.1ppm 测量精度 优于2ppm(取决于环境补偿) 分辨率 0.01μm 测量范围 0-15米 Z大速度 1000mm/秒. 输出 计算机USB接口。 温度范围 50 到 95 °F (10 到 35ºC). 海拔高度 0 到 10,000 英尺 (0 到 3000 m) 湿度 0 to 95 % (非凝结) 电源要求 85-264 VAC, 50-60HZ, 100W 温度和大气压力补偿方式: 手动录入仪器介绍 LICS-100激光多普勒位移测量系统集光动公司创新的多普勒激光测量技术
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厂价直销激光干涉仪,便携式干涉仪,高精度激光干涉仪,优质激光干涉仪AK-40
- 型号: AK-40
- 产地:中国大陆
配置方式 立式、卧式配置 平面总成,球面总成 静态测量,相位移调制测量 附件 标准平面和球面参照镜 与ZYGOTM参照镜相容 标准衰镜 干涉仪支撑/调整用四脚座 水平五轴调整座 IntelliWave TM分析 Windows XP系统 干涉条纹静态与相位移调制分析 完整的分析工具
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干涉仪 激光干涉仪 法布里珀罗干涉仪 FPI
- 品牌:Fabry-Perot Interferometer
- 型号: FPI 100
- 产地:进口
法布里珀罗干涉仪 FPI 法布里珀罗干涉仪(Fabry-Perot Interferometer,FPI 100)是一款共聚焦扫描 FPI,它自带光电探测器单元,设计用于测量和控制连续波激光器的模场分布。其主要特点有: 激光模式分析简单方便 可选八种反射镜用于波长范围 300 到 3000 纳米 自由光谱范围 1GHz 或 4GHz 标准反射镜反射率 99.8%,对应 finesse 大于 400 可选配 光纤耦合器套件 – 方便使用 FC/APC 光纤接头进行耦合 光电二极管更换套件 – 可见光/近红外/红外,通过内置聚焦透镜自动对准 用户规定 finesse 值 扫描选项 – 集成光电二极管放大器的独立扫描发生器 miniScan 杭州
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FS.11-F-DGS1160 供应多光束干涉仪_F-P扫描干涉仪_FS.11-F-DGS1160多光束干涉仪
- 型号: FS.11-F-DGS1160
- 产地:北京市
FS.11-F-DGS1160多光束干涉仪实验内容: 调整两个反射镜之间的相对位置,使之平行,形成F-P干涉仪。 观察激光在F-P干涉仪中的多光束干涉现象,了解F-P干涉仪的工作原理和理论。 改变腔长,测量计算干涉仪的特征参数。用压电陶瓷微调两个反射镜的间距,观察其对透射光波长的扫描特性,了解F-P扫描干涉仪的工作原理。 观察激光器的频率特性,测量激光器的特征参数产品特点:F-P干涉仪附件,既可以调整角度和间距,又是一体化的结构,大大地提高了整个系统的抗振动干扰的能力,有利的将驻波、干涉、模式谐振腔等概念和知识点起来,对于深入理解相关理论非常有帮助。 技术参数:光学实验导轨:800mm。 干涉仪附件:4自由度可调 氦氖激光器+调制架(含稳流电源) 硬封长寿命激光管≥0.7mW 标准配置: 序号型号配置规格单位数量1DGS-01光学实验导轨800mm根12DGS-02氦氖激光器+
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深圳激光干涉仪 雷尼绍激光干涉仪,球杆仪,对刀仪
- 产地:广东 深圳市
是否提供加工定制:是品Pai:雷尼绍 型号:XL-80激光干涉仪测量范围:0 - 80 metres 规格:XL-80 新型雷尼绍XL-80激光测量系统为坐标测量机和机床等运动系统提供高性能精度校准。XL-80系统快速、精确、非常轻便,保留了雷尼绍ML10在日常使用中所表现出的高精度、可靠性和耐用性等重要优点。XL-80与先进的软件解决方案和优异的性能相结合,可以提高贵公司的经营业绩。顶部XL-80的主要优点雷尼绍设计、制造和供应激光系统已有二十多年的历史。XL-80是这些设计和制造丰富经验的结晶,具有真正领先的系统性能和操作优点。便携性和易用性XL-80激光和XC-80补偿器体积小巧,一套完整的线性测量系统装在一个“便携箱”中,重量仅12公斤。再加一个三脚架(装入尼龙拉链携带箱中),您就有了一个真正便携的机器测量方案。激光和补偿器均可通过USB与PC机连接,因此无需单独的接口
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FS.11-F-ZHG2010 组合干涉仪_组合干涉仪实验仪_F-ZHG2010实验仪
- 型号: FS.11-F-ZHG2010
- 产地:北京
产品标题组合干涉仪_组合干涉仪实验仪_F-ZHG2010实验仪型号FS.11-F-ZHG2010图片简介组合干涉仪实验内容:组合迈克尔逊干涉仪 组合马赫-曾德尔干涉仪 组合萨格奈克干涉仪 比较三种干涉仪的不同,并用干涉仪观察测量空气压强与折射率的关系技术指标:光学实验平台:600*400*50mm3, 半导体激光器:635nm, 3mW。 分束镜(含架):分束比1:1,二维可调 反射镜(含架):二维可调反射镜直径:57mm。 二维可调扩束镜: 25倍,调整范围:±2.5mm. 气室+压强计:气室长度:100mm,压强计量程为0-300mmHg。仪器特点:组合干涉仪_组合干涉仪实验仪_F-ZHG2010实验仪可搭制三种经典干涉仪,与传统的迈克尔逊干涉仪相比,实验内容更加丰富,更加灵活。亲自动手搭制三种光路,有利于培养动手能力,通过对比,体会不同干涉仪的光路特点和应用方法,更好地理解光干涉的原
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FS.11-F-ZHG2010 供应组合干涉仪_组合干涉仪实验仪_F-ZHG2010实验仪
- 型号: FS.11-F-ZHG2010
- 产地:北京市
组合干涉仪实验内容:组合迈克尔逊干涉仪 组合马赫-曾德尔干涉仪 组合萨格奈克干涉仪 比较三种干涉仪的不同,并用干涉仪观察测量空气压强与折射率的关系技术指标:光学实验平台:600*400*50mm3, 半导体激光器:635nm, 3mW。 分束镜(含架):分束比1:1,二维可调 反射镜(含架):二维可调反射镜直径:57mm。 二维可调扩束镜: 25倍,调整范围:±2.5mm. 气室+压强计:气室长度:100mm,压强计量程为0-300mmHg。仪器特点:可搭制三种经典干涉仪,与传统的迈克尔逊干涉仪相比,实验内容更加丰富,更加灵活。亲自动手搭制三种光路,有利于培养动手能力,通过对比,体会不同干涉仪的光路特点和应用方法,更好地理解光干涉的原理。 序号型 号配 置规 格单位数量1ZHG-01实验平台600×400×50mm3台12ZHG-02二维+LD635nm、3mW套13Z
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BXS07-JDS-1 接触式干涉仪 接触式干涉检测仪 长度计量仪
- 型号: BXS07-JDS-1
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接触式干涉仪 接触式干涉检测仪 长度计量仪 型号:BXS07-JDS-1 一、仪器用途本仪器是是一种采用量块或标准零件借以高精度的比较方式的立式精密长度计量仪器。主要用于150mm以下块规,亦可用作高精密度的长度和外径的精密测量,是各级计量室的基本长度计量仪器之一。技术参数:1、被测件Z大长度:150 mm2、工作台行程:5 mm3、测杆移动范围:0.5mm4、分划板刻度范围:±50格5、直接测量范围:5-20μm6、分度值调整范围:0.05-0.2 μm7、推荐使用分度值:0.1 μm8、测量压力:(1.5±0.1) N9、仪器示值稳定性:0.02 μm10、仪器误差:±(0.03+1.5ni △λ/λ)um n 是格数, i是格值,λ是滤光片ZX波长,△λ是滤光片波长误差11、仪器体积:280×500×700 mm12、仪器重量:40 kg标准配件:1、五筋园台2
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激光干涉仪-物理光学教学仪器-物理实验-干涉仪
- 型号: F-YPGS3060
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He-Ne激光器的稳频。线偏振光、圆偏振光、晶体双折射,1/4波片、1/2波片。偏振光的分解与合成。迈克尔逊干涉仪,压电效应,偏振分光棱镜,角锥棱镜。圆偏振光干涉,干涉信号的拾取与处理。微小位移的精密测量。扩展内容:配套软件,可以实时快捷的对测量结果进行数据处理。步进电机驱动的电动位移台可以模拟大位移量测量、二次开发专用附件可以实现直线性、平面度、角度、垂直度等几何量的测量。
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北信Pai 接触式干涉仪 接触式干涉检测仪 长度计量仪
- 型号: BXS07-JDS-1
- 产地:中国大陆
一、仪器用途本仪器是是一种采用量块或标准零件借以高精度的比较方式的立式精密长度计量仪器。主要用于150mm以下块规,亦可用作高精密度的长度和外径的精密测量,是各级计量室的基本长度计量仪器之一。技术参数:1、被测件长度:150 mm2、工作台行程:5 mm3、测杆移动范围:0.5mm4、分划板刻度范围:±50格5、直接测量范围:5-20μm6、分度值调整范围:0.05-0.2 μm7、推荐使用分度值:0.1 μm8、测量压力:(1.5±0.1) N9、仪器示值稳定性:0.02 μm10、仪器误差:±(0.03+1.5ni △λ/λ)um n 是格数, i是格值,λ是滤光片ZX波长,△λ是滤光片波长误差11、仪器体积:280×500×700 mm12、仪器重量:40 kg标准配件:1、五筋园台2、九筋玛瑙台3、可调园平台4、辅助台5、平
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接触式干涉仪 ,式干涉检测仪, 长度计量仪
- 型号: BXS07-JDS-1
- 产地:中国大陆
接触式干涉仪 接触式干涉检测仪 长度计量仪 型号:BXS07-JDS-1一、仪器用途本仪器是是一种采用量块或标准零件借以高精度的比较方式的立式精密长度计量仪器。主要用于150mm以下块规,亦可用作高精密度的长度和外径的精密测量,是各级计量室的基本长度计量仪器之一。技术参数:1、被测件长度:150 mm2、工作台行程:5 mm3、测杆移动范围:0.5mm4、分划板刻度范围:±50格5、直接测量范围:5-20μm6、分度值调整范围:0.05-0.2 μm7、推荐使用分度值:0.1 μm8、测量压力:(1.5±0.1) N9、仪器示值稳定性:0.02 μm10、仪器误差:±(0.03+1.5ni △λ/λ)um n 是格数, i是格值,λ是滤光片ZX波长,△λ是滤光片波长误差11、仪器体积:280×500×700 mm12、仪