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- 产地:宝安区沙井街道全至科技创新园
- 供应商:莱森光学(深圳)有限公司
产品本发射率测量仪是用于测量发射率的专用设备。主要特点为:重复性:±0.01辐射单元操作简单:该设备的探测器部分可以电加热,所以样品无需加热。无需进行温度测量。快速测量:设备本身预热时间为30分钟,之后每1.5分钟可以进行一次辐射测量。在150F(65℃)时,发射率测量仪的发射率测量值接近全半球发射率。探测器只对辐射热转移有反应,该设计满足电压随发射率成线性输出。数字电压表是发射率测量仪的读出设备,右下角处设有一个调节钮,通过调节该钮,可以使读出的电压数与校准标样的发射率保持一致。之后,当发射率测量仪的探测器被放置在待测材料表面上时,数字式电压表便会直接显示发射率数值。发射率测量仪可以对横截面直径5.7cm的平面材料进行测量。其适配器1和适配器3可以实现对横截面直径为2.54cm的平面材料进行测量。我们也可以根据用户的需求定制用于圆柱形表面及其他表面测试的适配器。测量发射率需要...
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HAIR-2 双波段发射率测试仪/远红外线测试仪/发射率测试仪
- 型号: HAIR-2
- 产地:北京
双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理,即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率,进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3~5um、8~14um、1~22um三个波段发射率。对特殊需要的用户,通过专用的控温加热装置,在常温至300℃温度范围加热样品,进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所,东南大学等单位使用。 仪器特点: 1.仪器中有小型标准黑体辐射源,采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk),使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围,而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。 2.采用了独特的光学调制技术,使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。 3.在仪器设计中,考虑到样品漫反射引起的测量误差,除镜反射(MR)探测通道外,还增设了专门的
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HAIR-2 双波段发射率测试仪/远红外线测试仪/发射率测试仪
- 型号: HAIR-2
- 产地:北京
双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理,即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率,进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3~5um、8~14um、1~22um三个波段发射率。对特殊需要的用户,通过专用的控温加热装置,在常温至300℃温度范围加热样品,进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所,东南大学等单位使用。 仪器特点: 1.仪器中有小型标准黑体辐射源,采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk),使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围,而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。 2.采用了独特的光学调制技术,使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。 3.在仪器设计中,考虑到样品漫反射引起的测量误差,除镜反射(MR)探测通道外,还增设了专门的
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HAIR-2 双波段发射率测试仪/远红外线测试仪/发射率测试仪
- 型号: HAIR-2
- 产地:北京
双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理,即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率,进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3~5um、8~14um、1~22um三个波段发射率。对特殊需要的用户,通过专用的控温加热装置,在常温至300℃温度范围加热样品,进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所,东南大学等单位使用。 仪器特点: 1.仪器中有小型标准黑体辐射源,采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk),使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围,而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。 2.采用了独特的光学调制技术,使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。 3.在仪器设计中,考虑到样品漫反射引起的测量误差,除镜反射(MR)探测通道外,还增设了专门的
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302远红外线发射率测试仪|远红外线放射率测定器
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种类 体温型 测量放射率读数范围 0.01~1.00 测量波长范围 5~14 μm 温度准确度
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远红外线测试仪、远红外线发射率测试仪、放射率测试仪
- 型号: EM8
- 产地:台湾
种类体温型测量放射率读数范围0.01~1.00读数准确度±0.3 %测量波长范围5~14 μm温度准确度±0.015 ℃温度再现性±0.05 ℃反应时间500 ms放射率读取速度3 Sec.操作温度24~30℃(26℃)操作湿度RH 10~95%无凝结水状态校正温度37.0 ℃测试温度37.0 ℃温度控制方式比例积分控制恒温器φ60±1mm恒温器设定温度37.0 ℃外型尺寸20(H)x15(W)x29(D) cm重量3.92Kg生产地Made in Taiwan
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SOC410VIS-IR 便携式红外发射率和太阳光谱反射率仪
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产品特点: ♦ 在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率 ♦ 半球热辐射的预测 ♦ 测量太阳能吸收/反射 ♦ 在335至2500 nm光谱范围内,测量总辐射、镜面反射和漫反射能量 ♦ 可测量光谱范围:从紫外到远红外 ♦ NIST可溯源标准 ♦ 快速和便携式使用项 目参 数符合标准ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408测量参数定向半球反射比 (DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比,漫反射比,和20°角的镜面反射波段335~2500nm范围内7个波段: 335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500 nm IR范围内6个波段: 1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°& 60°法线入射样品表面:任何表面,...
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发射率、透射率颜色分光光度计
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技术参数观察系统: 8o 照明和漫射观察(8o/D)光源: 高强度氙灯(150W)波长范围: 270-1000nm测量时间: 全波长扫描大约0.8秒测量区域: LAV(1英寸),MAV(1/2英寸), SAV (1/4或1/6英寸)可选重现性: 光谱反射: 小于0.1%(STD)色度值: 小于0.01(ΔE*ab)光源照明: A, C, D50, D65, F1~F12 (total 16)多种颜色指标: 白色,黄色,蓝色,明亮度,不透明度,ASTM, Saybolt, APHA, Gardner, ASBC-10, EBC-10 颜色/色差衡量: CIE L*a*b*, CIE L*u*v*, CIE XYZ , CIE Yxy, CIE L*C*h*, Hunter
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410-VIS-IR 发射率和太阳能反射率仪
- 产地:北京市
410-VIS-IR 发射率和太阳能反射率仪是为了替换经典的Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的,可测量包括13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335 nm至2500 nm,红外测量头测量范围为1.5μm至远红外。利用太阳辐照度函数或黑体函数,通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射,通过计算定向发射率推测半球总发射率。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接,该仪器可作为一个手持单元操作,一次完整的测量用时仅约10秒。该光谱仪还配备了NIST可溯源校准标样。 产品特点: ♦ 在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率 ♦ 半球热辐射的预测 ♦ 测量太阳能吸收/反射 ♦ 在335至2500 nm光谱范围内,测量总辐射、镜面反射和漫反射能量 ♦ 可测量光谱范围:从紫外到远红外 ♦ NIST可溯源标准 ♦ 快速和
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410-VIS-IR 发射率和太阳能反射率仪 美国 型号:410-VIS-IR
- 品牌:中慧
- 型号: 410-VIS-IR
发射率和太阳能反射率仪 美国 型号:410-VIS-IR货号:ZH10941产品简介:可见-红外发射率/反射率仪是为了替换经典的反射率仪而开发的,可测量包括13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm至2500nm,红外测量头测量范围为1.5μm至远红外。利用太阳辐照度函数或黑体函数,通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射,通过计算定向发射率推测半球总发射率。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接,该仪器可作为一个手持单元操作,一次完整的测量用时仅约10秒。该光谱仪还配备了NIST可溯源校准标样。产品特点:在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率;半球热辐射的预测;测量太阳能吸收/反射;在335至2500 nm光谱范围内,测量总辐射、镜面反射和漫反射能量;可测量光谱范围:从紫外到远红外;NIST可溯源标准;快速和便携式使用。
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钬-166 mγ射线发射率标准
- 品牌:NIST
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上海熹垣生物科技有限公司是一家致力于化学、生物医药、精细化工、食品工业、现代农业、生命科学、环境保护、疾病控制、新能源等领域的长远发展,一如既往地秉承 “认真负责,专业服务,诚信合作,客户至上” 的服务精神和服务宗旨,更好地服务于全体用户,为用户提供性价比的产品和Z专业的技术服务! 公司能够面向全国的科学工作者提供超979万种的各类化学标准品,杂质对照品,植物单体,化学试剂,实验室设备,色谱耗材等科研用品。主要客户广泛分布于制药、食品、政府机构、第三方检测机构、化工、科研、临床等行业,欢迎广大科学工作者咨询洽谈。