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- 产地:江苏 苏州市
- 供应商:卓力特光电仪器(苏州)有限公司
加工定制:是品Pai:TRUST型号:TS-SI-3P 类型:教学仪器材质:如图测量范围:如图 适用范围:如图三维相移产品TS-SI-3P产品概述:相移电子散斑干涉(ESPI)技术是继光弹性和全息干涉等光测力学方法之后发展起来的一种实验力学新方法。它直接依靠激光干涉和计算机图像采集处理系统获得干涉条纹。这种方法在工程上已得到了较广泛的运用。可用于解决工程中的强度和刚度问题,并可用于残余应力测量。三维相移产品可满足物体表面面内位移和离面位移同时测量的要求。该仪器采用高性能半导体激光器作光源,并配以电子散斑条纹实时显示和位相处理软件,使得操作方便,测量结果兼容性强(便于通用数据处理软件接口)。主要技术指标◆光源:半导体泵浦固体激光器(绿光)输出功率大于20mw,波长532nm◆相机:1280×1024 USB2.0数字摄像头◆镜头:25mm定焦镜头(标配),可选...
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XTY5124309 电子散斑干涉仪
- 型号: XTY5124309
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产品主要技术条件1. 激光器:532nm泵浦单模激光器; 2. 光学元件镀膜:电子枪硬膜。3. 成像镜:28-80ZOOM。4. 902H型CCD。5. 加拿大M-Ⅱ型图象板。6. 附有延伸臂和晶体错位结构。7. 外壳:铝合金、喷砂、阳极发黑。
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XTY5124302 数字化双波长电子散斑干涉仪
- 型号: XTY5124302
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数字化双波长产品该仪器将激光技术、精密机械、光学、计算机图像处理技术有机的结合。该仪器有如下特点:同时获得数字化的面内u、v场的变形;将时间相移及空间相移同时在一台仪器上实现;不用显影和定影、不用暗房即可显示全场变形条纹;非接触并可获得被测物全场位移;对被测物表面不需特殊处理;可用于结构优化;可为有限元计算提供可靠边界条件;可以用于细观、残余应力、复合材料、结构分析及非破坏性检测上;可以用于现场;还可以研究动态和振动问题。已获得。
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XTY5124301 三维时空相移电子散斑干涉仪
- 型号: XTY5124301
- 产地:北京
三维时空相移产品主要技术指标:1. 激光器;单模532nm泵浦绿光,功率≥16mw。2.相移光程交换范围2λ。3. 物镜:28MM-80MMZOOM镜;4.CCD:902H型(日本)5.图象板:加拿大M-Ⅱ型。6. PZT相移器及电源(0-200V)。7.软件:有相移功能。
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XSG-3D三维时空相移电子散斑干涉仪
XSG-3D三维时空相移产品可以分别测得三维位移场(U场、V场和W场)、是用于材料和结构分析的理想仪器、仪器有精密相移器及驱动电源,可精确定量,该仪器既是工程中对结构进行三维位移测量,获取有限元计算有效边界条件,对材料和结构可靠性精确定量分析的有效工具。也是高等教学、研究生培养、工程应用的理想仪器。*可根据用户要求定制。主要技术指标:1. 激光器;单模532nm泵浦绿光,功率≥16mw。2.相移光程交换范围2λ。3. 物镜:28MM-80MMZOOM镜;4.CCD:902H型(日本)5.图象板:加拿大M-Ⅱ型。6. PZT相移器及电源(0-200V)。7.软件:有相移功能。
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TSG-1数字化双波长电子散斑干涉仪
TSG-1数字化双波长产品该仪器将激光技术、精密机械、光学、计算机图像处理技术有机的结合。该仪器有如下特点:同时获得数字化的面内u、v场的变形;将时间相移及空间相移同时在一台仪器上实现;不用显影和定影、不用暗房即可显示全场变形条纹;非接触并可获得被测物全场位移;对被测物表面不需特殊处理;可用于结构优化;可为有限元计算提供可靠边界条件;可以用于细观、残余应力、复合材料、结构分析及非破坏性检测上;可以用于现场;还可以研究动态和振动问题。已获得。*可根据用户要求定制。
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ESG-3D三维电子散斑干涉仪
ESG-3D三维产品该仪器集中反映激光、机械、计算机有机的结合。该仪器有如下特点:不用显影和定影处理;可以不用暗房;非接触并可获得被测物全场位移;对被测物表面不需特殊处理;可用于结构优化;可为有限元计算提供可靠边界条件;可以用于细观、残余应力、复合材料、结构分析及非破坏性检测上;可以用于现场;还可以研究动态和振动问题。由于仪器用了532mm泵浦激光器,因而体积小巧。仪器不但有时间相移功能而且有空间相移功能,从而能扩展到动态问题测量上。仪器可直接得到三维位移,因而有更好的精度。*可根据用户要求定制。
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ESG-1电子散斑干涉仪
ESG-1产品利用计算机图象处理技术,可以直接在屏幕上分别观察离面位移W场,面内位移U场。不用传统全息干涉复杂的显影和定影处理,而且便于数据后处理。由于仪器采用了体积小、功率大、性能好的绿泵浦激光器,具有灵巧轻便特点。仪器包括光学机械系统,相移器以及软件,是光学、精密机械、计算机图像处理的*结合。配上相关附件还可进行电子剪切散斑实验。仪器可用于材料研究、结构分析、非破坏检查,同时也是高等教学的重要仪器。主要技术条件1. 激光器:532nm泵浦单模激光器; 2. 光学元件镀膜:电子枪硬膜。3. 成像镜:28-80ZOOM。4. 902H型CCD。5. 加拿大M-Ⅱ型图象板。6. 附有延伸臂和晶体错位结构。7. 外壳:铝合金、喷砂、阳极发黑。*可根据用户要求定制。
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4D Technology ESPI电子散斑干涉仪
天津瑞利光电科技有限公司优势经销4D Technology ESPI产品4D Technology ESPI产品美国4D Technology公司成立于2002年,主要致力于为航天、天文、光学制造、半导体及数据存储等领域开发高精度的检测仪器。该公司的动态相移测量技术改变了传统光学干涉仪器对使用环境的苛刻要求,大大拓宽了仪器的应用范围。目前,4D Technology拥有一支在激光干涉测量、光学仪器、软件开发、质量控制、技术支持方面的专业化团队美国4D Technology公司推出的动态激光干涉仪,采用新的瞬时相移干涉技术(SPSI),大大缩短了干涉测量时间,不仅能达到传统相移干涉仪的精度和可靠性,而且无需普通干涉测量 的防振台;适合于大口径、长焦距光学元件的测量,可以应用于光学系统现场检验、复杂/恶劣环境的光学检验,并能进行连续的动态测量,甚至对光学表面的变...
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TP-WSG-1 电子散斑干涉(ESPI)实验装 干涉实验装置
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电子散斑干涉(ESPI)实验装 干涉实验装置 型号:TP-WSG-1 本实验装置主要面向大专院校教学使用。本实验是用激光光束直接照射到测试表面,再用CCD采其变形前后表面散斑颗粒干涉形成的条纹,以测定其离面位移的新型,先进的测试技术。本实验装置可以使学生了解其原理和测量的方法。该实验装置具有机构简单、精度高、灵敏性好、非接触、无需暗房操作,实时显示全场信息及处理信息快等优点,故而应用广泛,如物体形变测量、无损测量、震动测量等。 仪器特点:自己调节光路,可提高动手能力;采用了Z新处理光学信息的CCD测量技术计算机处理图象,软件操作简便可利用软件画出测试表面受力变形后的三维立体图。成套性:CCD摄像头、氦氖激光器、图象采集卡、图象处理软件、精密调整架、光学零件、被测样品。:www.51658042.com
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相移电子剪切散斑干涉仪
- 产地:江苏 苏州市
加工定制:是品Pai:TRUST型号:TS-SS-P 类型:教学仪器材质:如图测量范围:如图 适用范围:如图剪切电子散斑干涉术是一种测量离面位移导数(derivative)场的激光干涉测量新技术。它除了电子散斑干涉术(electronic speckle pattern interferometry)的许多优点外,还有光路(optical path)简单,对测量环境要求低等特点。由于剪切电子散斑干涉是测量位移导数,因此,在自动消除刚体(rigid body)位移的同时对于缺陷受载的应变集中十分灵敏,因此被广泛地应用于无损检测(NDT, nondestructive testing)领域。该仪器使用大功率绿色半导体激光器作光源,具有电子散斑条纹实时处理软件,操作方便,便于携带,可用于现场测量。采用相移技术分析条纹,可获得离面位移导数场的全场数据。★ 光源:半导体激光器,功率50m