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- 型号: THICK800A
- 供应商:深圳市天瑞仪器有限公司
天瑞仪器专业从事光谱膜厚仪(镀层/涂层/氧化膜等)测厚仪器的销售业务及维修服务,天瑞THICK 800A镀金膜厚仪俗称镀层测厚仪,膜厚测试仪,X-RAY膜厚仪等等, 主要检测金属镀层膜厚厚度的仪器,保证镀层厚度品质,减少电镀成本浪费。此仪器特别适合于小的镀层测量,如端子,连接器,细小的金线,在五金,汽车配件.线路板.卫浴,等行业.也有杰出的表现.可测量.单层.双层,合金层等多种镀层金属和塑胶的混合样品应如何测试? 答: 尽可能拆分到均匀介质,既金属和非金属分开放在不同工作曲线测量.与SGS对比差异的产生?答: 因为XRF是属于物理方法,是表面测试仪器.而SGS是采用化学方法,使用试剂溶解测试.从测试原理来讲,这两种方法是存在差异的,另外采用的检测设备是不同的,所以检测结果有可能会产生差异。尤其是一些电镀元器件和不均匀材质更为明显。SGS也使用制样来消除材料不均匀而造成的测量误差。样品不能保
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镀层测厚仪 电镀膜厚测试仪 金属膜厚测试仪 镀层厚度检测仪用于电子元器件,半导体,PCB,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器等多个行业. 高性能、高精密、高分辨。实现了快速、精密、准确的X-射线测量仪器,世界*光学准直器,可以同时测量多至4层的金属镀层的厚度和成分,测量厚度可以从麦(uin)至微米(μm),金属膜厚测试仪也能测量多至24个元素的块状合金成分,其准确度、精密度和稳定性是*的,Z适合用于微电子器件、数据偶合器、光通讯和数据贮存、半导体、光通讯、微电子、光子学、无源器件和薄层磁头金属化分析等。镀层测厚仪 电镀膜厚测试仪 金属膜厚测试仪 镀层厚度检测仪主要特点 ★搭载样品尺寸的兼容性,能够通过一台仪器测量,从电子部件、电路板到机械部件等高度较高的样品 ★具有焦点距离切换功能,适用于有凹凸的机械部件与电路板的底部进行测量 ★彩色CCD摄像头,通过CCD摄像机来观察及选择任意
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韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的.可测量各类金属层、合金层厚度.可测元素范围:钛Ti – 铀U可测量厚度范围:原子序22-25,0.1-0.8μm26-40,0.05-35μm43-52,0.1-100μm72-82,0.05-5μmX-射线管:油冷,超微细对焦高压:0-50KV程控准直器:固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4m
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电镀膜厚仪 镀层膜厚测量仪 镀层厚度检测仪德国Compact eco X-射线荧光分析测厚仪Compact eco X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任. 轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的. 备有Compact eco , Compact 5 , Mixx4 , Mixx5等型号选择,可测量各类金属层、合金层厚度,附带功能:合金成份分析,电镀液成份分析,中文简体、繁体、英文操作系统。可测元素范围:钛Ti – 铀U可测量厚度范围:原子序22-25,0.1-0.8μm26-40,0.05-35μm43-52,0.1-100μm72-82,0
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膜厚仪也叫X射线测厚仪,它的原理是物质经X射线或粒子射线照射后,由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态,此物质必需将多余的能量释放出来,而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度,来进行定性和定量分析。 电子元器件镀层厚度检测仪 连接器端子金属镀层检测仪器 镀层膜厚测试仪有着非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量,从质量管理到成本节约有着广泛的应用。行业用于电子元器件,半导体,PCB,LED支架,五金电镀,连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量. 电子元器件镀层厚度检测仪 连接器端子金属镀层检测仪器 镀层膜厚测试仪应用领域:黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测;