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- 产地:美国泛美
- 供应商:深圳市伟峰仪器仪表有限公司
MG2-DL超声波测厚仪简单介绍 MG2系列超声波测厚仪包括MG2超声波测厚仪,MG2-XT超声波测厚仪和MG2-DL超声波测厚仪,小巧、坚固耐用,操作简单,是测量有内部腐蚀的部件Z为理想的便携式测厚仪。测厚仪使用双晶探头,从被测物体的一面就可以测量被腐蚀、有凹痕、被氧化或呈粒状等其它较难测量物体的厚度。有多种探头可选。可对厚度在0.5mm--635mm之间,温度在-20C°--+500C°之间的物体进行测量。MG2-DL超声波测厚仪 的详细介绍MG2-DL超声波测厚仪 MG2系列超声波测厚仪包括MG2超声波测厚仪,MG2-XT超声波测厚仪和MG2-DL超声波测厚仪,小巧、坚固耐用,操作简单,是测量有内部腐蚀的部件Z为理想的便携式测厚仪。测厚仪使用双晶探头,从被测物体的一面就可以测量被腐蚀、有凹痕、被氧化或呈粒状等其它较难测量物体的厚度。有多种探头可选。可对厚度在0.5mm--
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国产品26MGXTDL 测量腐蚀金属理想的便携式测厚仪·使用双晶探头 ,从被测物的一面就可以测量·测量腐蚀 ,有凹痕,被氧化或呈粒状等物体的厚度 美国产品|26MGXTDL|的详细介绍美国产品|26MGXTDL|26MG超声波测厚仪·测量腐蚀金属理想的便携式测厚仪·使用双晶探头 ,从被测物的一面就可以测量·测量腐蚀 ,有凹痕,被氧化或呈粒状等物体的厚度 技术规格型号26MG26MG-XT26XTDL显示屏液晶显示45×20mm测量范围0.5~500mm频率范围1MHZ ~15MHZ (-3dB)声速范围0.762~13,999mm/μsec显示精度0.1/0.01mm存储装置无无8000组厚度值增益闸门无高/低任选高/低任选差分测量 无有有高低报警无有有背光自动/手动(任选)工作温度-10~50℃测量温度-20~500℃探头种类双晶/自动识别RS2...
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Panametrics 35 美国泛美 超声波测厚仪 Panametrics 35
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35型、35DL型、35HP型和35DL-HP型技术规格*?测量模式1:使用接触式探头,测量在激励脉冲和*个底面回波之间的时间间隔。模式2:使用延迟线式或水浸式探头时,测量在激励脉冲后的*个界面回波和*个底面回波之间的时间间隔。模式3:使用延迟线式或水浸式探头,测量在激励脉冲之后,位于*个界面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔。测量类型:厚度、声速、渡越时间。厚度测量范围*:0.08毫米~635毫米(0.003英寸~25英寸)*厚度范围因型号、材料、探头种类、表面条件和所选设置的不同而不同。材料声速范围:0.5080毫米/微秒~18.699毫米/微秒(0.02000英寸/微秒~0.7362英寸/微秒) 分辨率(通过键区可选):低:0.1 mm(0.01 in.)标准:0.01 mm(0.001 in.)高:0.001 mm(0.0001 in.)(35型和35DL型)渡越时间测量范围:0
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35DL 美国泛美 超声波测厚仪 Panametrics 35DL
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