供应商：上海明策电子科技有限公司

D&S 半球产品主要优势：重复性: ± 0.01操作简单:探测器采用电加热设计，无须加热样品，也不需要测量温度快速测量：预热约30分钟，每1.5分钟测量一次发射率价格实惠: 相较于一些用比较法测量发射率的仪器便宜很多简要描述：AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率，测量仪仅对辐射热传输响应，并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器，RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致，当AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射率。把该仪器放在高发射率标准体（黑体）上，设定RD1来表示发射率标准参数；然后仪器就会根据这个标准，计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。AE1测量样品Z小直径为2.25英寸（5.7cm）。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头能使测量样品Z小直径为1.0英寸（2.54cm），可以...

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MK3产品-第三代改良手持产品（快速、精确测量）MK3是手持式的，大概尺寸是120*80*80 mm。测量发射率的方式是通过直接测量样品表面。测量原理基于测量宽频带下目标的反射振幅调制的热辐射。控制器的上部有一个显示屏可显示测量结果。该显示由微处理器控制，仪器在两种模式下运行。单次触发模式下，仪器测量一个目标10s后会冻结一个数值并显现在显示器上(主要用于生产目的上)。在正常模式下则输出了“滚动平均值”(用于校准和实验室)。本仪器的校准是通过一块标定块实现的，如由上图显示的就是一块我们提供的高到低发射率的标定块。一些简单技术参数：JD精度：大于等于±0.01分辨率：±0.001暖机时间： 5分钟暖机后一起稳定度：≥0.005测量口径：20mm直径的圆仪器使用波段范围：4 - 50 µm功耗：3瓦12伏直流电源 辐射率测量范围：0-1了解更多MK3产品 请...

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D&S 半球产品主要优势：重复性: ± 0.01操作简单:探测器采用电加热设计，无须加热样品，也不需要测量温度快速测量：预热约30分钟，每1.5分钟测量一次发射率价格实惠: 相较于一些用比较法测量发射率的仪器便宜很多简要描述：AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率，测量仪仅对辐射热传输响应，并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器，RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压*，当AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射率。把该仪器放在高发射率标准体（黑体）上，设定RD1来表示发射率标准参数；然后仪器就会根据这个标准，计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。AE1测量样品zui小直径为2.25英寸（5.7cm）。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头能使测量样品zui小直径为1.0英寸（2...

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双波段发射率测试仪/远红外线测试仪/发射率测试仪/发射率检测仪 型号：HAIR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点： 1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。 2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。 3．在仪器

供应商：北京亚欧德鹏科技有限公司

双波段发射率测试仪/远红外线测试仪/发射率测试仪/发射率检测仪 型号：DP-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点： 1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪（能显示到1mk），使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。 2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。 3．在仪器设计

供应商：北京亚欧德鹏科技有限公司

双波段发射率测试仪/远红外线测试仪/发射率测试仪/发射率检测仪 型号：DP-IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点： 1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪（能显示到1mk），使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。 2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。 3．在仪

供应商：北京恒奥德仪器仪表有限公司

双波段发射率测试仪/远红外线测试仪/发射率测试仪/发射率检测仪 型号：HAIR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点： 1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪（能显示到1mk），使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。 2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。 3．在仪器

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双波段发射率测试仪/远红外线测试仪/发射率测试仪/发射率检测仪  型号：LDX-IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点： 1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。 2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的

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  MJLD型吸收率和法向发射率测量装置 产品介绍        MJLD型吸收率和法向发射率测量装置，主要用于测量材料的太阳吸收比和法向发射率。它是将吸收率测量装置和法向发射率测量装置合为一体，配有计算机和专用工作软件，实现自动测量的先进测量设备。本装置是由国防航天科技企业和航天著名专家研究员联合研制。是航天系统测量专家的智慧结晶。本设备是国内*，填补国内测量材料太阳吸收比和法向发射率仪器的空白，同时在测量方法上有进一步的创新。 产品技术

供应商：北京恒奥德仪器仪表有限公司

1.类型双波段发射率测试仪品Pai恒奥德型号H9892测量范围见资料（MΩ）双波段发射率测试仪/远红外线测试仪/发射率测试仪/发射率检测仪 型号：H9892双波段发射率测试仪、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。仪器特点：1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。2．采用了独特的光