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多功能数字式四探针测试仪/产品/四探针电阻率仪型号：JG-ST2258A概述JG-ST2258A型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。本测试仪特赠设测试结果分类功能，Z大分类10类仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；自动转换量程；测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。基本技术参数1. 测量范围、分辨率电    阻：     1.0×10-3 ～ 200.0×103  Ω,    分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103  Ω电 阻 率：     10.0×10-3 ...

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【简单介绍】DP-ST2258A型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。【详细说明】多功能数字式四探针测试仪/产品/四探针电阻率仪型号：　DP-ST2258A概述DP-ST2258A型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。本测试仪特赠设测试结果分类功能，Z大分类10类仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；自动转换量程；测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。基本技术参数1. 测量范围、分辨率...

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多功能数字式四探针测试仪/产品/四探针电阻率仪型号： RHA-JG-ST2258A概述  RHA-JG-ST2258A型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。  本测试仪特赠设测试结果分类功能，Z大分类10类  仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；自动转换量程；测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。基本技术参数1. 测量范围、分辨率电 阻： 1.0×10-3 ～ 200.0×103 Ω, 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103 Ω电 阻 率： 10.0×10-3 ～ 20.0×103...

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JG-ST2258A型多功能数字式四探针测试仪运用四探针测量原理，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。　　本测试仪特增设测试结果分类功能，Z大分类10类 技术参数： 1. 测量范围、分辨率电 阻： 1.0×10-3 ～ 200.0×103 Ω, 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103 Ω电 阻 率： 10.0×10-3 ～ 20.0×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103 Ω-cm方块电阻： 10.0×10-3 ～ 20.0×103 Ω/□ 分辨率1.0×10-3 ～ 0.1×103 Ω/□ 2. 可测半导体材料尺寸直 径： 测试台直接测试方式 Φ15～130mm，其他方

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方块电阻测试仪  四探针方块电阻测试仪 半导体方块电阻测量仪   型号:DL10-GT14-ST-21详细说明方块电阻测试仪是四探针方块电阻测试仪中的新一代产品，是一种依照类似国家标准和美国A.S.T.M标准而设计，专门测量半导体方块电阻(或称薄屋电阻、面电阻，单位Ω/□)的新型仪器。可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(如ITO透明导电氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。该仪器以大规模集成电路为主要核心；用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源；带回路有效正常指示电路；并配以大型LCD显示读数，使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。特 点* 采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定；* 以大屏幕LCD显示读数，直观清晰；* 采用单个干电池供电，带电池欠压指示；* 体积≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；* 轻便手持式设计操

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【简单介绍】DP-XX-2型方块电阻测试仪,是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻【详细说明】方块电阻测试仪/方块电阻测定仪/四探针方块电阻测试仪  型号：DP-XX-2DP-XX-2型方块电阻测试仪,是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻（面电阻）的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜）……等同类物质的薄层电阻特点:1、采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定。2、以大屏幕LCD显示读数，直观清晰3、采用单个电池供电，带电池欠压指示4、体积≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g5、可配台式探头和特制之手握式探头，对应可采用台式和手握式操作，使用简易6、带探头与被测物

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方块电阻测试仪/方块电阻测定仪/四探针方块电阻测试仪 型号：RHA-XX-2RHA-XX-2型方块电阻测试仪,是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻特点:1、采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定。2、以大屏幕LCD显示读数，直观清晰3、采用单个电池供电，带电池欠压指示4、体积≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g5、可配台式探头和特制之手握式探头，对应可采用台式和手握式操作，使用简易6、带探头与被测物质接触良好指示(LED)7、单电源开关，推拉式探头－主机接插件，操作极其简便。 技术指标测量范围：基本量程：方块电阻 1.00-199.99(Ω/口)扩展量程: 方块电阻 10.0-1999.9(Ω/口)测量不确定度≤5%探

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方块电阻测试仪/方块电阻测定仪/四探针方块电阻测试仪 型号：XRS-XX-2新款XRS-XX-2型方块电阻测试仪,是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻特点:1、采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定。2、以大屏幕LCD显示读数，直观清晰3、采用单个电池供电，带电池欠压指示4、体积≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g5、可配台式探头和特制之手握式探头，对应可采用台式和手握式操作，使用简易6、带探头与被测物质接触良好指示(LED)7、单电源开关，推拉式探头－主机接插件，操作极其简便。 技术指标测量范围：基本量程：方块电阻 1.00-199.991.00-199.99(Ω/口)扩展量程: 方块电阻 10.0-1999.910

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天天特价 方块电阻测试仪/方块电阻测定仪/四探针方块电阻测试仪 半价优惠 型号：LDX-XX-2LDX-XX-2型方块电阻测试仪,是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻特点:1、采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定。2、以大屏幕LCD显示读数，直观清晰3、采用单个电池供电，带电池欠压指示4、体积≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g5、可配台式探头和特制之手握式探头，对应可采用台式和手握式操作，使用简易6、带探头与被测物质接触良好指示(LED)7、单电源开关，推拉式探头－主机接插件，操作极其简便。 技术指标测量范围：基本量程：方块电阻 1.00-199.99(Ω/口)扩展量程: 方块电阻 10.0-1999.

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