供应商：北京华测试验仪器有限公司

 公称型号HEST-600高温四探针测试系统 HEST-600高温四探针测试系统产品简介●HEST-600高温四探针测量系统，该系统可以测量硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻 以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻，该设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M 标准而设计的。●采用由四端测量方法测试电阻率系统与高温试验箱为一体的专用的高温测试系统，满足半导体及导体材料因温度变化对电阻值变化的 测量要求，通以在高温 、真空、气氛的条件下测量导电材料电阻和电阻率，可以分析被测样的电阻和电阻率随温度、 时间变化的曲 线． 目前主要针对圆片、方块、长条等样品进行测试，可以广泛用于碳系导电材料、 金属系导电材料、 金属氧化物系导电材料、结 构型高分子导电材料、复合导电材料等材料的电阻率测

供应商：北京华测试验仪器有限公司

 HEST-800产品器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备10英寸触摸屏，软件可保存和打印数据，自动生成报表；本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电 流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导 率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测...

供应商：北京中仪万成科技有限公司

 FT-351高温四探针电阻率测试系统一、概述：产品采用由四探针双电测量方法测试方阻和电阻率系统与高温试验箱结合配置专用的高温测试探针治具，满足半导体材料因温度变化对电阻值变化的测量要求，通过先进的测控软件可以显示出温度与电阻，电阻率，电导率数据的变化曲线，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。二、适用行业：产品广泛用于：生产企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻、电阻率和电导率数据.三、功能介绍：液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全...

供应商：北京华测试验仪器有限公司

公称型号北京产品厂家一、公司介绍：北京华测试验仪器有限公司成立于2012年，是一家专注于新材料检测领域，集研发、生产和销售为一体技术企业。公司以严格的质量标准贯穿于产品的研发、生产、销售、管理和服务。公司产品广泛应用于全国二十多个省、市、自治区，主要致立于材料检测仪器开发、检测、自动化设备等服务。公司先后为西门子、NSK、施密特、西安高压电器研究所、西交大（国家电力设备与电气绝缘国家ZD试室）、化工集团、巨化集团、北京航材院、中航西安飞行自动控制所、蓝星化工、北京航空航天大学等国内企业服务，已成为全国众多ZD院校、航天科技企业、ZD实验室新材料试验、检测仪器*主要供应商。 公司主营产品——几大系列：介电击穿强度试验仪（电压击穿试验仪）、表面体积电阻率测试仪（高阻计）、电痕化指数试验仪（漏电起痕试验仪）、耐电弧试验仪、冲击电压试验仪、...

供应商：北京华测试验仪器有限公司

公称型号HEST-600触摸屏产品HEST-600触摸屏产品产品用途  ●HEST-800高温四探针测量系统，该系统可以测量硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻 以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻，该设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M 标准而设计的。●采用由四端测量方法测试电阻率系统与高温试验箱为一体的专用的高温测试系统，满足半导体及导体材料因温度变化对电阻值变化的 测量要求，通以在高温 、真空、气氛的条件下测量导电材料电阻和电阻率，可以分析被测样的电阻和电阻率随温度、 时间变化的曲 线． 目前主要针对圆片、方块、长条等样品进行测试，可以广泛用于碳系导电材料、 金属系导电材料、 金属氧化物系导电材料、结 构型高分子导电材料、复合导电材料等材料的...

供应商：北京华测试验仪器有限公司

公称型号HEST-600金属导电材料产品HEST-600金属导电材料产品产品特点1、可以测量高温、真空、气氛下薄膜方块电阻和薄层电阻率；2、软件、触摸屏、高温炉等集成于一体，可以进行可视化操作；3、可实现纯净气氛条件下的测量；同时保证探针在高温下不氧化；4、采用labview软件开发，操控性、兼容性好、方便升级；5、可自动调节样品测试电压，探针和薄膜接触闪络现象；6、控温和测温采用同一个传感器，保证样品每次采集的温度都是样品实际温度；    7、可配套使用Keithley2400或2600数字多用表；公称型号HEST-600金属导电材料产品HEST-600金属导电材料产品产品优势● TVS瞬间YZ防护技术： 光耦与隔离无非是提高仪器的采集的抗干扰处理,对于闪络放电过程中的浪涌对控制系统的防护起不到...

供应商：武汉佰力博科技有限公司

佰力博产品采用先进双电测四探针测量原理，专门用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能，该系统采用直排四探针测量原理和单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准设计研发，可以实现高温、真空及惰性气氛条件下测量硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率和硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻。高温测量过程中，控温精度可达到±1℃。双电测组合目前双电测组合（亦称双位组合）四探针法有三种模式：I13V24和I14V23模式（1），I12V34和I14V23模式（2），I12V34和I13V24模式（3），HRMS-800产品采用模式（2），通过用计算机对三种模式的理论进行比较研究的结果证明：对无穷大被测片三种模式都一样，可是测量小片或大片边缘位置时，模式（2）更好，它能自动消除边界影响，略优于模式（3），更好于模式（1）技术参...

供应商：武汉佰力博科技有限公司

Partulab佰力博自主研发HRMS-800产品，可以实现600℃高温、真空、气氛条件下测量半导体材料的方块电阻，薄膜、薄片材料的方块电阻。该系统广泛应用于高校科研院所和企业单位半导体薄膜和薄片材料电学性能研究。双电测组合目前双电测组合（亦称双位组合）四探针法有三种模式：模式（1），模式（2），模式（3），HRMS-800高温半导体材料四探针测量系统采用模式（2），通过用计算机对三种模式的理论进行比较研究的结果证明：对无穷大被测片三种模式都一样，可是测量小片或大片边缘位置时，模式（2）更好，它能自动消除边界影响，略优于模式（3），更好于模式（1）。 技术参数测量温度：RT-600℃针间绝缘电阻：≥1000MΩ控温精度：±1℃样品尺寸：薄膜φ15~30mm，d＜4mm电阻：10-5~105Ω输入电压：110~220V电阻率：10-5~105Ω.cm数据传输：4个USB接口方块电...

供应商：北京华测试验仪器有限公司

                        金属导电材料产品HEST-600概述：●HEST-600高温四探针测量系统，该系统可以测量硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻 以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻，该设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M 标准而设计的。●采用由四端测量方法测试电阻率系统与高温试验箱为一体的专用的高温测试系统，满足半导体及导体材料因温度变化对电阻值变化的 测量要求，通以在高温 、真空、气氛的条件下测量导电材料电阻和电阻率，可以分析被测样的电阻和电阻率随温度、 时间变化的曲 线． 目前主要针对圆片、方块、长条等样品进行测试，可以广泛用于碳系导电材料、 金属系导电材料、 金属氧化物系导电材料、结 构型高分子导电材料、复合导电材料等材料的电阻率测量。 过先进的测控软件可以显示出温度...

供应商：宁波瑞柯伟业仪器有限公司

产品FT-352导体材料高温电阻率测试系统一、概述：采用由四端测量方法测试电阻率系统与高温试验箱结合配置专用的高温测试探针治具，满足半导体及导体材料因温度变化对电阻值变化的测量要求，通过先进的测控软件可以显示出温度与电阻，电阻率，电导率数据的变化曲线，是检验和分析材料质量的一种重要的工具。二、适用行业：             广泛用于：生产企业、高等院校、科研部门对导体材料在高温下电阻率数据的测量.三、功能介绍：液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、电导率，...