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- 产地:中国大陆
- 供应商:河北慧采科技有限公司
产品简介:nn性能特点n 技术指标nnn高准确度,测试信号的频率误差≤0.01%n高精度,五次回扫时的测试误差≤0.1%±1Hz(±1 个字)n测试频率范围宽,全频段测试时为 20Hz~20kHzn试速度快,可直接显示F0曲线n操作方便,显示清晰n结构精巧,方便携带nnnn型号nZC5990Bnn频率范围n$n20Hz ~ 20kHznn$n频率准确度n$n±0.01%nn$n测量精度n$n0.1%±1Hz(±1 个字)nnn频率稳定性n$n优于 100ppmnn$n总谐波失真(THD+N)n$n≤0.5% (全频段)nn$n输出电压n$n5Vrmsnn$n测量电流n400mAnn工作电压n$n~220V±10%/0.2$n安庆综合电声测试仪器延吉半导体产品延吉行业发展趋势多种型号图片$n $n$n$n$n $n $n型号:...
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分立器件测试仪 IGBT测试仪
- 型号: 谊邦YB580
- 产地:中国大陆
产品介绍 YB580 IGBT(绝缘栅双极型晶体管)测试系统(以下简称 YB580 测试系统)符合:国际电工委员会 IEC 60747-9-2001 规范,符合国标 GB/T17007-1997 规范。YB580 测试系统是本公司推出的一种先进的 IGBT 测试系统。适合研究所、生产企业做元器件筛选检验,IGBT 生产厂用做生产测试,院校做测试分析。系统可扩展性强,通过选件可以提高电压、电流的测试能力,自动快速测试可以满足用户大生产需要,故障率低也保证了用户的生产效率。在 PC 窗口提示下输入被测器件的测试参数即可完成填表编程,操作人员不需具备专业计算机编程语言知识,使用简捷方便。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证各种情况下测试结果的准确可靠。系统面板的显示装置能够及时显示系统
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ST-AC1200_X 分立器件测试仪MOSFET动态参数测试
- 型号: ST-AC1200_X
- 产地:西安市
MOSFET动态参数测试仪ST-AC1200_X 用于测试器件级的 Diode,IGBT,MOSFET动态交流参数1200V/100A,短路电流2500A替代ITC57300,多项功能及指标优于ITC57300♦ 技术规格基础能力*大输出能力:电压1200V电流200A*小时间测量值:0.1nsWindows系统的控制计算机水印签字*西安天光测控*水印签字LabVIEW软件界面水印签字*西安天光测控*水印签字物理规格单机尺寸:800×800×1800mm水印签字*西安天光测控*水印签质 量:165kg水印签字*西安天光测控*水印签字 系统功耗:200w ST-AC1200_S_R开关时间(阻性)测试单元 美军标750方法为3472脉宽:0.1us~100us步进0.1µs栅极电压:0~20V,分辨率0.1V栅极电流*大10A水印签字*西安天光测控*水印签字漏极电流*大75A(
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NIBJ-2939 NIBJ-2939半导体分立器件测试仪
- 型号: NIBJ-2939
- 产地:北京
半导体产品 型号:NIBJ-2939货号:ZH9813产品简介: 该仪器充分吸收国外先进测试系统的特点,采用了先进的嵌入式计算机技术和优化结构技术、16位并行A/D和D/A技术、多级开尔文反馈技术、小信号精密测试技术以及阵列开关结构技术,并选用优质材料制作。在系统设计、选材、工艺、制作、调试、校验等诸多方面与国内现有同类系统相比均有较大突破,从而大大提高了系统的技术性能和可靠性,保证了该系统各项技术性能指标处于国际先进、国内领先的地位。 其特点是:侧重于中小功率器件、测试品种覆盖面广、测试精度高、电参数测试全、速度快、有良好的重复性和一致性、很高的工作稳定性和可靠性,很强的保护系统和被测器件保护能力。系统软件功能强大、使用灵活方便、操作简单。系统软件稳定可靠、硬件故障率极低,在实际测试应用中各项技术指标均可真实达...
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ZH9813 ZH9813半导体分立器件测试仪
- 型号: ZH9813
- 产地:北京
半导体产品 型号:ZH9813 产品简介: 该仪器充分吸收国外先进测试系统的特点,采用了先进的嵌入式计算机技术和优化结构技术、16位并行A/D和D/A技术、多级开尔文反馈技术、小信号精密测试技术以及阵列开关结构技术,并选用优质材料制作。在系统设计、选材、工艺、制作、调试、校验等诸多方面与国内现有同类系统相比均有较大突破,从而大大提高了系统的技术性能和可靠性,保证了该系统各项技术性能指标处于国际先进、国内领先的地位。 其特点是:侧重于中小功率器件、测试品种覆盖面广、测试精度高、电参数测试全、速度快、有良好的重复性和一致性、很高的工作稳定性和可靠性,很强的保护系统和被测器件保护能力。系统软件功能强大、使用灵活方便、操作简单。系统软件稳定可靠、硬件故障率极低,在实际测试应用中各项技术指标均可真实达到手册技术要求。 ...
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STI5000C STI5000C分立器件测试仪
- 型号: STI5000C
- 产地:上海
STI5000C产品【上海云烨电子科技有限公司(热线:)】进口大功率高精度晶体管图示仪,广泛应用于半导体分立器件封装测试,制造企业的半导体器件分立来料检验,半导体失效分析实验,高等院校和研究所教学科研等。 Scientific Test, Inc,总部位于美国德州。简称ST,专注于分立元器件的测试源的开发,我们惊异地发现美国级,火箭级,卫产品所使用的器件报告。每个分离元器件报告,都是采用ST的数据存档格式。 ST5000C 测试系统是一项高速多用途半导体分立器件智能测试系统。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力。可真实准确测试达十九大类二十七分类大、中、小功率的半导体分立器件。ST产品使用比较方便,只需要通过USB或者232与电脑连接,通过电脑中友好的人机界面操作,即可完成测试。并可以实现测试数据以 EXCEL的格式保存,特性曲线保存相当方便。
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STI5000C 分立器件测试仪
- 型号: STI5000C
- 产地:上海
产品【上海云烨电子科技有限公司(热线:)】进口大功率高精度晶体管图示仪,广泛应用于半导体分立器件封装测试,制造企业的半导体器件分立来料检验,半导体失效分析实验,高等院校和研究所教学科研等。 一般使用简介 1.“基极阶梯信号”旋钮 此旋钮给基极加上周期性变化的电流信号。每两级阶梯信号之间的差值大小由“阶梯选择毫安/级”来选择。为方便起见,一般选10μA。每个周期中阶梯信号的阶梯数由“级族”来选择,阶梯信号每簇的级数,实际上就是在图示仪上所能显示的输出特性曲线的根数。阶梯信号每一级的毫安值的大小,就反映了图示仪上所显示的输出特性曲线的疏密程度。 2.“零电压”、“零电流”开关 此开关是对被测晶体管基极状态进行设置的开关。当测量管子的击穿电压和穿透电流时,都需要使被测管的基极处于开路状态。这时可以将该开关设置在“零电流”挡(只有开路时,才能保证电流为零)。当测量晶体管的击穿电...
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厂家SIMI2939(CS2935)半导体分立器件测试仪价格
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厂家SIMI2939(CS2935)半导体产品价格 一、产品特点:测试品种覆盖面广、测试精度高、电参数测试全、速度快、有良好的重复性和一致性、工作稳定可靠,具有保护系统和被测器件的能力。被测器件可通过图形显示,系统软件功能全、使用灵活方便、操作简单。系统软件稳定可靠、硬件故障率低,在实际测试应用中各项技术指标均可达到器件手册技术指标及国标要求。二、厂家SIMI2939(CS2935)半导体产品价格测试参数1. 二极管 VF、IR、BVR2. 稳压(齐纳)二极管 VF、IR、BV Z3. 晶体管 Transistor(NPN型/PNP型) VBE、ICBO、 LCEO、IEBO、BVCEO、BVCBO、BVEBO、hFE、VCESAT、VBESAT 、VBEON4. 可控硅整流器(晶闸管) IGT、VGT、 IH、IL 、V...
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EN-3020B分立器件测试仪
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EN-3020B产品 概述:EN-3020B型产品是用于二极管、IGBT和MOSFET的静态参数测试。系统的测试原理符合相应的国家标准、军标,系统为独立式单元,封闭式结构,具有升级扩展潜能。EN-3020B产品系统特点: 功率源 3000V/200A 测试系统整体采用计算机操控 测试数据由计算机记录,并进行 Excel 处理 采用脉冲法测试,脉宽为国军标 自动化程度高(可按设定的程序自动测试) 测试灵活(应对器件及多单元模块测试)EN-3020B产品Labview 平台开发,数据编辑处理功能强,菜单式,模块化,人机友好设备操作简单、性能稳定非常适合电气,电子类厂商, 研究所做 IQC 来料检验、器件选型,失效分析以及学校教学和轨道机车地铁高铁检测使用。
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CS2935 半导体分立器件测试仪
- 型号: CS2935
半导体产品 型号:CS2935 一、产品特点: 测试品种覆盖面广、测试精度高、电参数测试全、速度快、有良好的重复性和一致性、工作稳定可靠,具有保护系统和被测器件的能力。测试仪由计算机操控,测试数据可存储打印。除具有点测试功能外,还具有曲线扫描功能(图示仪功能)。系统软件功能全、使用灵活方便、操作简单。系统软件稳定可靠、硬件故障率低,在实际测试应用中各项技术指标均可达到器件手册技术指标及国标要求。 二、测试参数 1. 二管 VF、IR、BVR 2. 稳压(齐纳)二管 VF、IR、BV Z 3. 晶体管 Transistor(NPN型/PNP型) VBE、ICBO、 LCEO、IEBO、BVCEO、BVCBO、BVEBO、hFE、VCESAT、VBESAT 、VBEON 4. 可控硅整流器(晶闸管) IGT、VGT、 IH、IL...
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NIBJ-2939 半导体分立器件测试仪 型号:NIBJ-2939 中慧
- 型号: NIBJ-2939
半导体产品 型号:NIBJ-2939货号:ZH9813产品简介:该仪器充分吸收国外先进测试系统的特点,采用了先进的嵌入式计算机技术和优化结构技术、16位并行A/D和D/A技术、多级开尔文反馈技术、小信号精密测试技术以及阵列开关结构技术,并选用优质材料制作。在系统设计、选材、工艺、制作、调试、校验等诸多方面与国内现有同类系统相比均有较大突破,从而大大提高了系统的技术性能和可靠性,保证了该系统各项技术性能指标处于国际先进、国内ling先的地位。其特点是:侧重于中小功率器件、测试品种覆盖面广、测试精度高、电参数测试全、速度快、有良好的重复性和一致性、很高的工作稳定性和可靠性,很强的保护系统和被测器件保护能力。系统软件功能强大、使用灵活方便、操作简单。系统软件稳定可靠、硬件故障率极低,在实际测试应用中各项技术指标均可真实达到手册技术要求。系统采用方便易学的窗口菜单界面,在PC机窗口提示下...