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- 型号: 颗粒碰撞噪声检测仪PIND4511M4
- 产地:四川 成都市
- 供应商:成都昊普特科技有限公司
产品中文网站:美国SD公司的产品用于电子元器件封装后,对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验,目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子,是一种非破坏性实验。 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。工作原理:颗粒碰撞噪声检测(Particle Impact Noise Detection P.I.N.D.)是一种对多余物检验的有效手段。其原理是利用振动台产生一系列指定的机械冲击和振动,通过冲击使被束缚在产品中的颗粒(即多余物)松 动,再通过一定频率的振动,使多余物在系统内产生位移。活动的多余物在产品中发生位移的过程,是多余物相对产品壳体的滑动和撞击的一个随机组合过程。在这个过程中,将产生应力弹性波和声波。这两种波在产品壳体中传播并形成混响信号,这个混响信号被定义为位移信...
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ZH-4511L ZH-4511L颗粒碰撞噪声检测仪 美国
- 型号: ZH-4511L
- 产地:北京
产品 美国 型号:ZH-4511L货号:ZH3141产 产品广泛应用于各类电子和机械类产品的设计开发、品质测试和程序改进。 产品(SD PIND)用于电子元器件封装后,对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验,目的在于检测器件封装腔体内存在的多余粒子,是一种非破坏性实验。 产品适用范围:用于检测集成电路、继电器、半导体分立器件、光电器件等电子 元器件封装内的多余物松散颗粒,即PIND试验。 双面声藕合胶片和声藕合专用胶水是专门用于产品实验时使用的。 符合标准:MIL-STD883E, MIL-STD750, and MIL-STD39016和国军标。品简介: 技术指标: ...
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ZH3142 ZH3142颗粒碰撞噪声检测仪 美国
- 型号: ZH3142
- 产地:北京
产品 美国 型号:ZH3142 产 产品广泛应用于各类电子和机械类产品的设计开发、品质测试和程序改进。 产品(SD PIND)用于电子元器件封装后,对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验,目的在于检测器件封装腔体内存在的多余粒子,是一种非破坏性实验。 产品适用范围:用于检测集成电路、继电器、半导体分立器件、光电器件等电子 元器件封装内的多余物松散颗粒,即PIND试验。 双面声藕合胶片和声藕合专用胶水是专门用于产品实验时使用的。 符合标准:MIL-STD883E, MIL-STD750, and MIL-STD39016和国军标。品简介: 技术指标: 型...
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ZH3141 ZH3141颗粒碰撞噪声检测仪 美国
- 型号: ZH3141
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产品 美国 型号:ZH3141 产 产品广泛应用于各类电子和机械类产品的设计开发、品质测试和程序改进。 产品(SD PIND)用于电子元器件封装后,对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验,目的在于检测器件封装腔体内存在的多余粒子,是一种非破坏性实验。 产品适用范围:用于检测集成电路、继电器、半导体分立器件、光电器件等电子 元器件封装内的多余物松散颗粒,即PIND试验。 双面声藕合胶片和声藕合专用胶水是专门用于产品实验时使用的。 符合标准:MIL-STD883E, MIL-STD750, and MIL-STD39016和国军标。品简介: 技术指标: 型...
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ZH3142 ZH3142颗粒碰撞噪声检测仪 美国
- 型号: ZH3142
- 产地:北京
产品 美国 型号:ZH3142 产 产品广泛应用于各类电子和机械类产品的设计开发、品质测试和程序改进。 产品(SD PIND)用于电子元器件封装后,对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验,目的在于检测器件封装腔体内存在的多余粒子,是一种非破坏性实验。 产品适用范围:用于检测集成电路、继电器、半导体分立器件、光电器件等电子 元器件封装内的多余物松散颗粒,即PIND试验。 双面声藕合胶片和声藕合专用胶水是专门用于产品实验时使用的。 符合标准:MIL-STD883E, MIL-STD750, and MIL-STD39016和国军标。品简介: 技术指标: 型...
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ZH3141 ZH3141颗粒碰撞噪声检测仪 美国
- 型号: ZH3141
- 产地:北京
产品 美国 型号:ZH3141 产 产品广泛应用于各类电子和机械类产品的设计开发、品质测试和程序改进。 产品(SD PIND)用于电子元器件封装后,对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验,目的在于检测器件封装腔体内存在的多余粒子,是一种非破坏性实验。 产品适用范围:用于检测集成电路、继电器、半导体分立器件、光电器件等电子 元器件封装内的多余物松散颗粒,即PIND试验。 双面声藕合胶片和声藕合专用胶水是专门用于产品实验时使用的。 符合标准:MIL-STD883E, MIL-STD750, and MIL-STD39016和国军标。品简介: 技术指标: 型...
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PIND4511L-R 颗粒碰撞噪声检测仪4511L-R
- 型号: PIND4511L-R
- 产地:四川 成都市
产品中文网站: 美国SD公司的产品用于电子元器件封装后,对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验,目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子,是一种非破坏性实验。 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。 工作原理:颗粒碰撞噪声检测(Particle Impact Noise Detection P.I.N.D.)是一种对多余物检验的有效手段。其原理是利用振动台产生一系列指定的机械冲击和振动,通过冲击使被束缚在产品中的颗粒(即多余物)松 动,再通过一定频率的振动,使多余物在系统内产生位移。活动的多余物在产品中发生位移的过程,是多余物相对产品壳体的滑动和撞击的一个随机组合过程。在这个过程中,将产生应力弹性波和声波。这两种波在产品壳体中传播并形成混响信号,这个混响信号被定义为位...
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PIND4511M-R 颗粒碰撞噪声检测仪
- 型号: PIND4511M-R
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PIND4511A 颗粒碰撞噪声检测仪
- 型号: PIND4511A
- 产地:四川 成都市
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PIND4511L 颗粒碰撞噪声检测仪4511L
- 型号: PIND4511L
- 产地:四川 成都市
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PIND4511M 颗粒碰撞噪声检测仪4511M
- 型号: PIND4511M
- 产地:四川 成都市
产品中文网站:工作原理:颗粒碰撞噪声检测(Particle Impact Noise Detection P.I.N.D.)是一种对多余物检验的有效手段。其原理是利用振动台产生一系列指定的机械冲击和振动,通过冲击使被束缚在产品中的颗粒(即多余物)松 动,再通过一定频率的振动,使多余物在系统内产生位移。活动的多余物在产品中发生位移的过程,是多余物相对产品壳体的滑动和撞击的一个随机组合过程。在这个过程中,将产生应力弹性波和声波。这两种波在产品壳体中传播并形成混响信号,这个混响信号被定义为位移信号。采用压电传感器拾取到位移信号后,经前置放大器放大,位移信号由检测装置的主机采集、处理并显示。检测人员可以依据显示的信号波形判定出信号性质,以此得出检测结论。选型说明:每种型号的产品都包括:控制器,振动台,传感器,灵敏度测试单元,软件,示波器,电缆,耗材及相关文件。其型号选择...