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金属电子逸出功测定仪 NTP-W-Ⅲ

上传人: 上海科学仪器有限公司 |大小:25.5KB|浏览:182次|时间:2018-09-24
金属电子逸出功测定仪 NTP-W-Ⅲ
文档简介

金属电子逸出功测定仪/测定仪型号:NTP-W-Ⅲ[仪器特点]1、数据采集采用四块三位半数字表独立显示,无需另接测量仪表,数据稳定极ng确2、实验器材全面,采用优良接插件[实验目的]1、了解热电子发射的基本规律2、用理查孙直线法测定金属钨电子的逸出功<或逸出电位>3、研究二极管的伏安特性4、用磁控条件测量电子荷质比5、学习避开某些不易测常数而直接得到结果的实验方法[技术参数](1)数据采集:四块三位半数字表分别显示灯丝电流、阳极电压、阳极电流、磁控电流(2)理想二极管:纯钨丝(3)灯丝电流:DC0~0.750A,连续可调,精度:1mA,三位半数字显示(4)阳极电压:DC0~199.9V,连续可调,精度:0.1V,三位半数字显示(5)阳极电流:测量范围:0~1999uA,精度:1uA,三位半数字显示(6)磁控电流:DC0~0.800A,连续可调,精度:1mA,三位半数字显示(7)电源主机尺寸:330mm(W)×300mm(D)145(H)mm[仪器组成]1、NTP-W-Ⅲ金属电子逸出功测定仪电源主机1台2、金属电子逸出功测试台(包含理想二极管)1台3、理想二极管磁控线圈1只4、实验连接线8根5、使用说明书1本6、产品合格证1只7、三相电源线1根8、保险丝(1A)2只
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