温度传感器测试及半导体致冷控温实验仪
- 上传人: 上海科学仪器有限公司 |大小:9.54KB|浏览:1434次|时间:2018-09-24
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对温度传感器性能的了解及测试是大学物理实验的一项必备内容,但大多数实验仪器只具备做环境温度以上的实验,HAD-FD-TM温度传感器测试及半导体致冷控温实验仪具备了半导体致冷功能,使之能做环境温度以下的实验。本仪器主要测试温度传感器AD590的性能(可根据要求增加多种温度传感器的测试)及了解半导体致冷堆的性能。 仪器主要由以下部分组成: 1.TCF708控温仪 2.四位半数字电压表(0-2V) 3.加热井和致冷井装置 4.AD590实验系统 应用该仪器可以完成以下实验: 1.学习半导体制冷的原理。 2.测量电流型温度传感器AD590的特性。 3.学习智能温度调节仪控温的原理及调节方法。 仪器主要技术参数: 1.加热范围环境温度-120℃ 2.致冷范围环境温度-低于环境温度30℃ 3.控温精度0.1℃ 4.测温精度±3% 北京恒奥德仪器仪表有限公司 联系方式:010-51658042/51760331/51717696 手机:15010245973/15313176001/15313175998 联系人:李经理 地址:北京市海淀区阜城路42号院中裕商务花园6C-211 传真:010-51717696 邮箱:hadgs2009@163.com 网址:http://www.51658042.com。http://www.had200911.cn :http://had200911.b2b.hc360.com。54pc.com/netshow/20100104193745/ QQ:1968156761116912188023626135142661074941
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