GB/T 2423.27-2005低温/低气压/湿热连续综合试验

收藏 评价 举报

• 分享

GB/T2423.27-2005电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/AMD：低温/低气压/湿热连续综合试验本部分提供了由低温、低气压和湿热组成的标准环境试验程序。首先低温和低气压结合在一起，其次升温，然后与湿热条件结合在一起。本试验应用了试验A和试验M。虽然未完全按照试验D引入湿度，但用“Z/AMD”来表示本试验Z恰当和Z具提示性。GB/T2423.27-2005用于飞行器所使用的器件和设备，特别是在非加热和非增压部位的器件和设备。试验环境的模拟可使用武汉尚测试验设备有限公司生产的低温恒定湿热试验箱。试验箱的生产制造要求应按照GB/T2423.27-2005第7条规定的内容执行（以下）。1、试验箱内的温度应以不超过1℃/min（5min的平均值）的速率降低到相关规范规定的低温值，这个值试验A给出的数值之一，当试验样品达到温度稳定时，应按照相关规范的规定进行功能检查或任何必要的检测；2、温度维持在规定值，试验箱内的气压应以不超过15kPa/min的速率降至相关规范规定的低压值，这个值应是试验M中给出的数值之一。应按照相关规范进行功能检查或任何必要的检测。3、气压维持在规定值，试验箱温度应以大致均匀的速率在1h内升高到30℃或室内温度（以高者为准）。同时试验箱内应产生或导入水汽，水汽的增加速率应足以使试验样品结霜；4、当试验样品的温度上升到0℃~5℃范围内，且试验样品的霜已经溶解时，试验箱内的气压应以大致均匀的速率在15min~30min内恢复到室内气压值；5、箱内温度达到30℃或室内温度后（以高者为准）应保持1h，但如果检测时间较长，则保温时间应足以完成检测。在此期间，湿度应保持大于95%箱内出现水滴；GB/T2423.27-2005发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局ZG国家标准化管理委员会
标签：

• GB 2423.27-81电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AMD:低温

  GB2423.27-81电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验方法1.目

• GB/T2423.27-2005试验Z-AMD：低温-低气压-湿热连续综合试

  上海林频仪器股份有限公司座落于ZG上海市科技产业基地之一的闵行经济技术开发区。是一家专业从事环境试验设备研发

• GB/T2423.27-试验：低温低气压湿热连续综合试验

  GB/T2423.27-2005电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验ZAMD：低温低气压湿热连续综合试

• GB-T2423.27-2005 低温-低气压-湿热连续综合试验

  北京雅士林试验设备有限公司位于ZG北京，是一家专业从事环境试验设备、检测设备生产、研发、销售于一体的高新技术

• GBT 2423.27-1981 电工电子产品基本环境试验规程 试验ZAMD

  GBT 2423.27-1981 电工电子产品基本环境试验规程 试验ZAMD低温低气压湿热连续综合试验.pd

• GBT 2423.27-1981 电工电子产品基本环境试验规程 试验ZAMD

  GBT 2423.27-1981 电工电子产品基本环境试验规程 试验ZAMD低温低气压湿热连续综合试验

• GBT 2423.27-1981 电工电子产品基本环境试验规程 试验ZAMD

  GBT 2423.27-1981 电工电子产品基本环境试验规程 试验ZAMD低温低气压湿热连续综合试验

• GBT 2423.27 试验ZAMD低温低气压湿热连续综合试验

  GBT2423.27-1981电工电子产品基本环境试验规程试验ZAMD低温低气压湿热连续综合试验

• GBT 2423 试验ZAMD低温低气压湿热连续综合试验

  GBT2423.27-1981电工电子产品基本环境试验规程试验ZAMD低温低气压湿热连续综合试验

• GBT 2423.27 ZAMD低温低气压湿热连续综合试验

  GBT2423.27-1981电工电子产品基本环境试验规程试验ZAMD低温低气压湿热连续综合试验