采用配有Zxin全能型测量附件的 AgilentCary 5000 紫外-可见-近红外分光光度计对薄膜进行光学表征

收藏 评价 举报

• 分享

该研究的详细情况S次发表在《应用光学》2012 年 1 月 10 日号（总第 51 卷，第二期）上。极ng确测定薄膜和多层镀膜的光学参数（使用光学镀膜的逆向工程）对于生产高质量的产品至关重要。这些数据可以给设计和生产环节提供反馈。对每一层依次进行评估后得到的逆向工程结果可以用来调整沉积参数，重校监测系统，改善对各层的厚度控制。

标签：

• V-1100可见分光光度计

  V-1100可见分光光度计

• UL-1000超微量分光光度计

  UL-1000超微量分光光度计

• UL-2000超微量分光光度计

  UL-2000超微量分光光度计

• UV-1900紫外可见分光光度计

  UV-1900紫外可见分光光度计

• UV-1100紫外可见分光光度计

  UV-1100紫外可见分光光度计

• 浅谈分光光度计的精度暨验证

  浅谈分光光度计的精度暨验证

• 用紫外-可见-近红外分光光度计测量粉末状TiO2带隙的简单方法

  用紫外-可见-近红外分光光度计测量粉末状TiO2带隙的简单方法

• 分光光度计的应用常识

  分光光度计的应用常识