ASAP 系列仪器微孔分析时自由空间的测量
- 上传人: 上海科学仪器有限公司 |大小:219.5KB|浏览:331次|时间:2018-08-31
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许多微孔材料(例如分子筛,活性炭等。)在进行自由空间测量时,由于暴露在He气中几个小时,会将He捕捉并保存在它们复杂的孔结构中,Z终影响到分析低压区数据,在低压区出现S型曲线。本文针对这种情况,给出了相应的解决方案,不仅罗列出相应的注意事项和需要采用的工具,还详细的描述了测试文件如何编辑和选择,并进行了举例说明。
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