TEA采用创新的光干涉原理ZG技术,可无损检测块体和薄膜样品透明材料的热膨胀系数,广泛应用于辅助各种新材料,尤其是薄膜材料的研究与开发以及质量检验。
热膨胀系数分析仪独特技术
自主知识产权产品,拥有多项技术ZG。
基于光干涉原理的创新技术,通过照射到样品上下表面产生的两束反射光发生干涉,得到光功率随温度的变化曲线,通过计算得到材料的热膨胀系数。
采用PID调节与模糊控制相结合形式控制的红外加热方式,大温区连续、高速温度跟随、既定程序升温及保持控制。
非接触式无损检测,测试精度高。
具备外接抽真空设备、循环水冷设备及载气或制冷能力。
热膨胀系数分析仪技术参数
型号 | TEA-300 | TEA1200 | TEA-1800 |
温度范围 | RT~300℃ | RT~1200℃ | RT~1800℃ |
程序升温重复性偏差 | <1.0% | ||
程序升温速率偏差 | <1.0% | ||
热膨胀系数测量精密度偏差 | <4.5% | ||
热膨胀系数测量正确度偏差 | <±15% | ||
最大工作功率 | 4.0kw | ||
最大升温速度 | 50℃/s(50℃~1200℃、真空氛围),45℃/s℃/(50℃~1200℃,N₂氛围) | ||
温度一致性 | ±2.0℃(1200℃,真空),±4.5℃(1200℃,N₂) | ||
制冷要求 | 水冷 | ||
热膨胀分辨率 | 266nm |
热膨胀系数分析仪样品要求
尺寸:长×宽5x5~20x20mm2,厚度2.0mm(含基底)以下为宜
适用于透光材料的热膨胀系数检测
具备光学反射双平面
检测样品的热膨胀量≥266nm
热膨胀系数分析仪测试原理
1.入射光 2.光束隔离器 3.投射光 4.待测样品
5.反射光 6.反射光 7.聚光镜 8.滤光片 9.光电传感器
光路原理图
激光器射出的光线经分光镜照射到样品上表面,产生反射光,同时投射光照射到下表面也产生一束反射光,两束反射光在光电探测器处发生干涉,反射光功率发生周期性变化,得到光功率随材料温度的变化曲线,通过计算得到热膨胀系数。
- 产品分类
- 品牌分类
-
仪企号
武汉嘉仪通科技有限公司
-
友情链接