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RTS-LIBS拉曼光谱联用系统LIBS 与拉曼光谱联用技术      激光诱导击穿光谱（LIBS）是一种通过脉冲激光轰击样品获得样品轰击面区域原子发射光谱的分析方法，

光学低温恒温器      4K光学低温恒温器标配真空样品环境，具有变温范围大、操作简单和应用范围广等特点，降温至4K时间仅需90分钟（空载），可选配铟密封腔的氦气样品环

拉曼电镜光谱联用技术产品简介      扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，实现对物

定制化原位显微光学/光谱学测试系统Customized In-situ Optical / Spectroscopic MicroscopeSystem      我公

全晶圆半导体参数非接触测试解决方案Full-wafer Noncontac Measuring Solutions forSemiconductor Parameters   

超高真空光学显微镜/光谱仪测试系统Ultra-high Vacuum (UHV) Optical / SpectroscopicMicroscope System    &nbs

zolix|宽场荧光显微成像模组，以自动化显微镜模组为基础，针对 SiC 等化合物半导体晶圆位错、层错等缺陷检测需求。

近中红外荧光光谱系统近中红外具体指哪个波段？      红外波，是电磁频谱中的重要组成部分。相较于我们常说的可见光波段，是人眼所无法看到的成分。红外辐射覆盖从700nm

CXZ10-120 电动升降滑台zolix产品说明：      CXZ 系列电动升降滑台是北京卓立汉光仪器有限公司为解决小尺寸、高重复使用频率等情况专门设计的电动升降滑

RTS-LTRS 光镊拉曼光谱系统是北京卓立汉光仪器有限公司全新推出的光镊-拉曼联用系统，该系统结合先进的光镊微控技术与拉曼分子识别分析技术，高度集成、性能稳定、易于操作，能够实现同时控制大量(200...

半导体缺陷检测：自动化显微成像模组针对半导体集成电路工艺线从表面缺陷检查到图形尺寸测量等各环节自动化视觉检测需求。产品特性和核心技术：激光自动聚焦：·自主研制的激光辅助离焦量传感器。·可在无图案晶圆

OLED-IVL及视角测量系统，是集成PR系列成像亮度计、源表、CCD精 准对位以及多轴高精度运动机构的一整套测试方案。该系列设备具有4款标准机型，可满足客户IVL测试时单工位、多工位、变温以及带视

AR/VR光色性能综合测试系统简介该系统是集成AR镜头、六轴串联机器人、工控机、检测软件为一体的自动化测试系统，应用于AR、VR等消费电子显示测试与评价。系统检测参数亮度及亮度均匀性、色度及色度均匀

LCD光色性能综合测试系统简介：该系统是集成亮度计、暗室、高精度运动机构、系统软件、信号机、CCD对位、工控机为一体的自动化检测系统。主要应用于大尺寸模组、户外拼接屏、会议屏、电视等的光色参数检测，

简介该系统是集成亮度计、暗箱、高精度运动机构、系统检测软件、多通道电源、CCD自动对位、工控机为一体的自动化检测系统，主要应用于OLED加速老化寿命测试。系统主要测试参数寿命老化曲线，可兼容IVL测

简介该系统是集成系统检测软件、多通道电源、硅光电二极管光电转换、工控机为一体的自动化检测系统，主要应用于OLED TEG/JIG加速老化寿命测试。系统主要测试参数绘制OLED寿命老化曲线系统特点可根