科研分析仪器

全晶圆半导体参数非接触测试解决方案Full-wafer Noncontac Measuring Solutions forSemiconductor Parameters   

zolix|宽场荧光显微成像模组，以自动化显微镜模组为基础，针对 SiC 等化合物半导体晶圆位错、层错等缺陷检测需求。

半导体缺陷检测：自动化显微成像模组针对半导体集成电路工艺线从表面缺陷检查到图形尺寸测量等各环节自动化视觉检测需求。产品特性和核心技术：激光自动聚焦：·自主研制的激光辅助离焦量传感器。·可在无图案晶圆

半导体晶圆拉曼光谱测试系统具有自动对焦和实时表面跟踪功能，无需样品标记，可进行无损非接触式测量，空间分辨率＜1μm。系统可以对第三代半导体进行组分、应力、载流子浓度、结晶度和缺陷进行检测，广泛地应用于...

半导体晶圆PL光谱测试系统针对第三代半导体，如GaN、InGaN、AlGaN等，进行温度相关光谱和荧光寿命测试。同时可测量外延片的膜厚、反射率及相应的Mapping图。

北京卓立汉光仪器有限公司全新推出微区磁光克尔及磁圆二色测试系统，可根据用户需求提供定制化解决方案，产品范围涵盖微区磁光克尔系统和磁圆二色测试系统，并可根据用户需求升级拓展拉曼，荧光，荧光寿命及二次谐波...

卓立汉光推出地全自动显微角分辨光谱及成像系统主要用于表征经样品透反射的白光角分辨谱及表征自身荧光或SHG发射光散射光的空间光角度分布信息。常见应用有单分子或量子点的荧光角分辨成像及拍谱、金属或介质的超...

FI-RXMI100 手持式分析仪将傅里叶红外的快速、准确、高效、智能等优势完美集成，具有光谱分辨率高、功耗低、重量轻、体积小等绿色环保的特点，可轻松应对现场*一响应的采样需求。

FI-RXT-TS 是专用于分析实验室液体和固体样品的双通道近红外光谱仪。该套设备共用同一个干涉仪和检测器，通过光路的切换实现对两种不同状态样品进行透射和反射测量。

FI-RXMo100便携式傅里叶变换红外光谱仪专门应用于突发性事故现场、爆炸事件、化学事故现场、卫生医疗、地震、火灾、实验室未知物质科学研究等重大污染事故和极端环境中，是一种对各种未知化学物质进行现场...

FI-RXM-S 是公司经过多年的探索与实践发布的一款全波段的高性能傅里叶变换近红外产品。该产品采用积分球漫反射系统，很好的解决了固体样品漫反射测定时光谱匀化问题，适用于各类固体产品如饲料类、乳制品类...

真空型傅里叶变换红外光谱仪FI-RXF300V，是全新推出的一款高端研究级红外光谱仪。与传统的红外光谱仪不同，真空红外，顾名思义，就是采取全真空光学设计，所有红外光路及样品均处于真空环境中，测试过程无...

FI-RXF200 是新推出的一款研究型傅里叶变换红外光谱仪，能更好地满足科研用户不同的需求。FI-RXF200 拥有优于 0.25cm-1 光谱分辨率、光谱范围可扩展到 12800-350cm-1，...

FI-RXF100 可更换各种通用采样模块，卡扣式锁紧装置，确保了光路的严格重复性及可靠性，用户可轻松进行 ATR、透射、反射及其他测量模式，是实验室和现场测试环境的必选仪器。

FI-RXF100-R傅里叶变换红外光谱仪额外配置了外置式可调节的高精度光圈，用户可以根据样品的特性（如厚度、颜色等）随时调节光圈大小，而无需在软件中进行选择，这样的设计配合不同档位的增益功能，可以让...

FI-RXF100-R-T双通道、双样品腔傅里叶红外光谱仪，是顺应市场需要推出的一款国产化研究型红外光谱分析系统，紧凑轻盈、灵活高效，可以满足透射、ATR测量、漫反射、镜反射等多种测量模式的任意组合，...