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JIB-4700F 双束加工观察系统价格:面议
- 品牌: 日本电子
- 型号:JIB-4700F
- 产地:日本
随着先进材料构造的微细化和制造过程的复杂化,形貌观察、元素分析和晶体分析等的评估技术也对分辨率和精度有了更高的要求。为了满足这些需求,JEOL推出新一代双束加工观察系统JIB-4700F。 该设备的S...
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JIB-4000Plus聚焦离子束加工观察系统价格:面议
- 品牌: 日本电子
- 型号:JIB-4000Plus
- 产地:日本
JIB-4000PLUS 聚焦离子束加工观察系统配置了高性能的离子镜筒(单束FIB装置)。 被加速的镓离子束经聚焦照射样品后,能对样品表面进行SIM观察 、研磨、及碳和钨等沉积。还可以为TEM制备薄膜...
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多束系统产品文章
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JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统升级为JIB-400
网站首页>新闻资讯>公司新闻>JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统升级了JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统升级为JIB-4000PLUSJIB-4000 聚焦离子束加工观察...
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新一代双束加工系统JIB-4700F上市
新一代双束加工系统JIB-4700F上市日本电子株式会社(执行董事兼总裁栗原权右卫门)宣布:新型FIB/SEM 双束加工观察系统JIB-4700F从2017年1月开始隆重上市。产品开发背景:随着先进材...
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JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统升级为JIB-400