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网络讲堂 | 智能镀层分析如何保证质量、提高效率
发布:日立分析仪器浏览次数:204课程简介
快速回顾一下,日立在镀层厚度测量市场具有长达45年的成功的应用历史,今天在市场上旺销的 FT110A, FT160 和 X-Strata920 分析仪器回顾起来均发展逾10年以上,并伴随一路的创新和改善,
遍观目前市场上存在的测厚仪产品, 普遍设计于数年甚至数十年前。市场期待着一款符合时代潮流,满足客户Z新需求的测厚仪。FT230应运而生。 先来看看客户需要什么?他们想要速度,这是可以理解的,因为他们始终处于增长的压力之下、在更少时间里测量更多的样品,且更多时候要求在人手较少的情况下完成。无论是满足100%检测,或加强产品线质量控制减少浪费降低成本,对我们来说的目标是一致的——即样品进出仪器的时间越快越好,FT230 被设计来缩短时间。像自动聚焦,广域相机这些功能都可以让您更快的找到测试位置并做好准备。但我们更进一步的想“是否能让客户略过所有的步骤”,这是引入一项新的超卓功能的灵感来源,FT230予以实现。 他们想要仪器易于使用,我们理解生产工厂人员变动较大,频繁的新员工培训需要教会他们使用XRF仪器,并按照SOP的指引来处理不同的测试部件,有时他们会要求厂家提供这样的培训,更多时候是在内部进行,因此希望仪器简单易用。针对于此,我们重新设计了软件的测试界面,市场上的传统测厚仪通常只有1/3甚至1/4的屏幕用来显示样品图象其余部分则用来放置控制功能及状态、统计等。这可能会把部分客户搞晕,实际上,有些功能是客户日常用不到的。像我们刚才讨论到的测量设定就是XRF测量中Z为复杂且Z花费时间的部分。我们转变了软件的屏幕分布,这看起来非常不错。 Z后,他们想要更好的连通性,这有几个不同的层面,Z简单的是数据的处理。FT Connect可以生成供内部使用的或可以共享给客户的报告。也可以控制自动输出或手动输出结果并将其发往任何你指定的地方。可以是本地数据硬盘、网址或质量管理系统、制造执行系统或ERP,一些客户正在将他们的 XRF 测试设定为联机系统,我们的设计团队将与他们一起,在需要将仪器设定为QC自动检测时协助定义仪器的命令输入和数据处理的结果输出。 还有······等等,让我们来为您一一介绍。 时间
2024年3月21日 14:00-14:45
讲师介绍
董松林
应用工程师,日立分析仪器(上海)有限公司课程提示
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