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- 品牌: 泰思肯
- 型号:TESCAN SOLARIS
- 产地:捷克
TESCAN SOLARIS 是一款镓离子源的 FIB-SEM 系统,适用于超薄 TEM 样品制备和其它具有挑战性的纳米加工任务,这些任务要求设备具有zui佳的分辨率、zui先进的离子光学系统和zui...
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- 品牌: 泰思肯
- 型号: TESCAN AMBER
- 产地:捷克
TESCAN AMBER 是TESCAN第四代 FIB-SEM 的新成员,是一款超高分辨双束 FIB-SEM 系统,它可以提供无与伦比的图像质量,具有强大的扩展分析能力,并能以JJ的精度、效率完成复杂...
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- 品牌: 泰思肯
- 型号:TESCAN SOLARIS X
- 产地:捷克
TESCAN SOLARIS X 是一款氙(Xe)等离子超高分辨双束 FIB-SEM 系统,配置新颖的 TriglavTM 超高分辨率电子镜筒以及ZX款的 iFIB+TM 离子镜筒,它的超高分辨表征能...
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- 品牌: 泰思肯
- 型号:TESCAN AMBER X
- 产地:捷克
TESCAN AMBER X 是WM结合了分析型等离子 FIB 和超高分辨(UHR)扫描电镜的综合分析平台,能够很好的应对传统的 Ga 离子 FIB-SEM 难以完成的困难挑战。
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聚焦离子束显微镜解决方案
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FIB-SEM双束电镜应用之样品的截面抛光
方案优势截面抛光是FIB主要用途之一。所谓截面抛光就是利用离子束将样品剖开观察内部的结构,从而分析样品内部的微观组织或缺陷。如下图所示,为了分析焊接界面处的产物,需要将焊接处剖开,从而可以对界面进行成...
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FIB-SEM双束电镜应用之生物样品3D重构
方案优势FIB能够通过连续切片提供3D的形貌信息,尤其在生命科学领域有着广阔的应用前景。但是生物样品都是经过染色包埋处理,在扫描电镜下很难找到需要切割的位置。TESCAN FIB-SEM标配光电联用软...
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FIB-SEM双束电镜应用之Xe等离子快速切割技术
方案优势Xe等离子FIB能够实现微纳米,甚至毫米级的快速加工。Xe等离子FIB的zui大束流为2μA,另外Xe离子的原子量更大,对纯Si的溅射效率比Ga离子约高30%。虽然Xe离子的溅射效率高,但是由...
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FIB小知识:FIB-SEM双束电镜的应用领域
方案优势FIB—SEM双束电镜应用领域: 1. 制备TEM样品 2. 截面抛光 3. 微纳米器件的制备及性能测量 4. 三维结构重构 5. 其他三维分析能力:3D EBSD, 3D EDS及SIMS
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FIB-SEM双束电镜应用之样品的截面抛光
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泰思肯贸易(上海)有限公司
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