详细介绍
主要应用单颗粒90°散射光检测和T型光栅技术完成气溶胶粒径和浓度谱测量。
粒径测试范围：0.12-105um。
颗粒最高浓度：10 P/cm 。
粒径通道：64/十倍，最高128通道，世界Z高分辨率的气溶胶粒径分布。
高温型探头可加热至最高250℃。
高压型探头可承受压力至10bar。
Welas型主机，单独配置电脑，提供zuidi时间分辨率10ms。
Promo型主机具备开放式端口，适配多种测试环境。
自带标准粉尘，可由客户自主完成校准，清洁和部件更换等工作。
主要应用于气溶胶胶检测，过滤测试等。
粒径范围：0.12-40um。
时间分辨率1s。
多种探头型号可选，满足不同测试需求。
粒径范围适用于最易穿透粒径测试（MPPS）。
产品优势
主要应用单颗粒90°散射光检测和T型光栅技术完成气溶胶粒径和浓度谱测量。
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- 霍尔效应测试仪 HALL EFFECT
- 探针台 PROBE STATION
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- 半导体测试设备
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- 纳米气溶胶测量系统
- 气溶胶稀释器
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- 光刻设备
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