详细介绍
ADMS 角分辨光谱测量仪
FOMS角分辨光谱仪是一款可变角度的多功能光谱测量仪器,采用智能旋转设计，自动控制入射与采集角度，可快速实现透过/反射/荧光/散射/辐射等多种光谱测量。适用于光子晶体等纳米材料的能带缺陷特性研究、光学元件的不同角度的透反射测量、LED等发光器件的发光特性研究。
仪器特点：
◆ 全角度测量:发射端角度范围0°至180° ,接收端角度范围0°至360° ,可以实现反射、透射、散射、荧光和辐射的全角度光谱测量;
◆ 精确角度控制:高精度电机,角度精度及重复性能优异;
◆ 多光谱测量模式:可以实现上反射、下反射、透射、散射/荧光、辐射等多种光谱测量;
◆ 宽光谱范围:内置卤素光源，可实现380~ 1700nm超宽波段光谱测量范围;
◆ 可编程测量模式:可以通过编程设置不同的角度范围和步进,来实现自动多角度光谱测量，可批量测试;
◆ 扩展性好:根据客户的需求,可以选择不同的光源、滤光片、偏振片等配件完成不同的光谱测量;
◆ 多维调节样品台:样品台由高精度三维位移台和二维倾斜台组成,可实现样品的五维正交调节。
应用领域：
光子晶体器件、材料镀膜、纳米光学材料、LED光源、液晶显示、传感器器件制备、角度相关材料分析
技术参数：
| 型号 | ADMS-NIR | ADMS-VIS |
| 调节维度 | x+y/α+β4维 | x+y/α+β4维 |
| 测量模式 | 上反射、下反射、透射、散射、辐射、 自由、编程 | 上反射、下反射、透射、散射、辐射、 自由、编程 |
| 光谱波段 | 900~1700nm | 380~1100nm |
| 入射光锥半角 | 3.9°，添加光阑后，最小锥角可达1° | 3.9°，添加光阑后，最小锥角可达1° |
| 出射光锥半角 | 3.9°，添加光阑后，最小锥角可达1° | 3.9°，添加光阑后，最小锥角可达1° |
| 外臂(入射)范围 | 0~180° | 0~180° |
| 内臂(出射)范围 | 0~360° | 0~360° |
| 最小步距角 | 0.0o12° | 0.0012° |
| 角度精度 | ±0.05° | ±0.05° |
| 功耗 | 5o W（卤素灯:9w ) | 5o W（卤素灯:9w ) |
| 计算机控制接口 | USB 2.0@480 Mbps | USB 2.0@480 Mbps |
| 电源接口 | AC 220V，标准电源插口 | AC220V，标准电源插口 |
| 尺寸(cm) | 600*300*420 | 600*300*420 |
产品优势
◆ 全角度测量:发射端角度范围0°至180° ,接收端角度范围0°至360° ,可以实现反射、透射、散射、荧光和辐射的全角度光谱测量;
◆ 精确角度控制:高精度电机,角度精度及重复性能优异;
◆ 多光谱测量模式:可以实现上反射、下反射、透射、散射/荧光、辐射等多种光谱测量;
◆ 宽光谱范围:内置卤素光源，可实现380~ 1700nm超宽波段光谱测量范围;
◆ 可编程测量模式:可以通过编程设置不同的角度范围和步进,来实现自动多角度光谱测量，可批量测试;
◆ 扩展性好:根据客户的需求,可以选择不同的光源、滤光片、偏振片等配件完成不同的光谱测量;
◆ 多维调节样品台:样品台由高精度三维位移台和二维倾斜台组成,可实现样品的五维正交调节。
◆ 精确角度控制:高精度电机,角度精度及重复性能优异;
◆ 多光谱测量模式:可以实现上反射、下反射、透射、散射/荧光、辐射等多种光谱测量;
◆ 宽光谱范围:内置卤素光源，可实现380~ 1700nm超宽波段光谱测量范围;
◆ 可编程测量模式:可以通过编程设置不同的角度范围和步进,来实现自动多角度光谱测量，可批量测试;
◆ 扩展性好:根据客户的需求,可以选择不同的光源、滤光片、偏振片等配件完成不同的光谱测量;
◆ 多维调节样品台:样品台由高精度三维位移台和二维倾斜台组成,可实现样品的五维正交调节。
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