XRF6C能量色散X射线荧光分析仪 核心参数
| 重复性: | 铬（8mg/kg）、镉（4mg/kg）、溴（2mg/kg）、汞（4mg/kg）、铅（5mg/kg） | 分析元素: | 铬、镉、溴、汞、铅等元素 |
| 仪器种类: | 台式 |
详细介绍
XRF6能量色散X射线荧光分析仪
1.XRF6能量色散X射线荧光分析仪器是基于X射线荧光分析法对样品进行定性和定量分析、检测构成元素类别和含量的仪器。
2.XRF9可以无损分析块状固体、粉末、液体样品，广泛应用于质检、电子、医药、食品、冶金、化工、地矿、考古等领域的研究开发和品质管理。
（注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。
产品特点
1.先进的多光束可调系统
2.具有高分辨率的探测器
3. 采用XYZ三维样品台
4. 大型样品分析室
5.CCD摄像及自动定位系统
6. 自动调节双层六通道滤光系统
7. 完善的辐射安全防护
8.强大功能的软件操作系统
9. 短时间多元素同时分析
10.无损分析和先进的薄样分析技术相组合
11.多种定量分析方法
12. 无需液氮和水循环冷却
13.种类齐全的选配标准样品
14.RoHS/WEEE指令快速分析
仪器配置
1.外形尺寸：750（L）×590(W)×715(H)mm3
2. 样品室尺寸：400（L）×100(W)×100(H)mm3
3. 主机质量：约45Kg
4.工作环境温度：0~40C
5. 工作环境相对湿度：≤80%
6. 元素分析范围：AI-U
7. 含量分析范围：1ppm~99.99%
8. 重复性：＜5%
9.测量时间：一般60~300s
10. 测量对象：块状物体、粉末、液体
11. 激发功率：50W
12.探测器分辨率：149gev
13.输入电源：AC110V/220V
14. 高压电源：0~50kv/0~1mA
15.X射线辐射剂量：≤1Sv/h
代表性元素120szuidi检出限LOD(mg/kg)
性能指标
塑料基体 | Cr | Br | Cd | Hg | Pb |
LOD | 8 | 2 | 4 | 4 | 5 |
产品优势
• 先进多光束可调系统；
• 高分辨率SDD 硅漂移探测器；
• 快速定性分析；
• 完善的辐射安全防护；
• RoHS/WEEE 指令元素快速分析；
• 内标法与基本参数法组成强大定量分析方法群；
• 内置各类标准样品曲线数据库。
• 高分辨率SDD 硅漂移探测器；
• 快速定性分析；
• 完善的辐射安全防护；
• RoHS/WEEE 指令元素快速分析；
• 内标法与基本参数法组成强大定量分析方法群；
• 内置各类标准样品曲线数据库。
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