表面科学

通过使用日立 扫描探针显微镜 AFM100，任何人都能轻松且稳定地获取可靠数据，从而完成从科学研究用途到质量管理中的日常作业。

体积小、操作简单、性能强（4nm@20kV）、扩展功能丰富 拥有多个探测器（SE、BSE） 拥有低真空功能，不导电和含水样品直接观察

日立高新技术公司（以下简称：日立高新）8月4日开始发售的肖特基式场发射 扫描电子显微镜"SU5000"，搭载了全新的用户界面和"EM Wizard"，无论用户...

此次推出的SU7000采用全新设计的探测器，使得对二次电子信号、背散射电子信号的检测以及分离能力大大提升。

在以纳米技术和生物技术为主的产业领域里，从物质的微细结构到组成成分，SEM在多种多样的观察与分析中得到了灵活应用。SEM用途日益扩大，但对于钢铁等工业材料和汽车零配件等超大/超重样品，由于电镜样品台能...

U9000是上高二次电子分辨率（0.4nm@30kV）和STEM分辨率（0.34nm@30kV）的扫描电镜。它采取了特的真空系统和电子光学系统，不仅分辨率性能优异，而且作为冷场发射扫描电镜甚至不需要传

产品简介日立离子溅射仪 MC1000日立MC1000离子溅射仪是由日立高新技术公司自行设计制造，针对扫描电镜的精细高端需求而设计，适合微观结构较复杂的样品，尤其适合于场发射扫描电镜的高倍率观测应用。

系统采用触摸屏自动控制，用户自定义操作方案；GX冷却，一次灌装液氮后系统运行时间可达一整天，期间无需补加液氮；广泛的自动操作：自动抽真空、自动升华、自动低电压冷溅射镀膜等。

1.高分辨成像，高衬度成像分辨率：二次电子（3.5nm@1kV），二次离子（4nm@30kV）； 2.可实时观察加工过程； 3.全自动TEM样品制备。

-高亮度场发射电子枪冷 冷场发射电子枪先天具有的高亮度和高能量分辨率的特点，使纳米量分析研究成为可能，对超高分辨图像和电子全息摄影具有大贡献。 -300kV高压系统 300kV高压系统具有更...

产品简介日立高分辨型双束系统 NX5000NX5000新型高分辨FIB-SEM双束系统采用冷场发射电子枪和全新的Aquila α镜筒，具有高分辨的观察能力；同时大束流的离子枪和实时观察功能

HT7800具有优异的操作性与多样的自动功能，通过将CCD相机与显微镜主机的操作相统一，可以在显示器画面上轻松、简便地进行操作，高刷新率的CMOS荧光相机可以实现在明亮环境下操作，特的双隙物镜可以实现...

TM4000PlusⅡ是在TM4000Ⅱ基础上增加高灵敏度低真空二次电子探头UVD，该探头在低真空环境下具有很好的成像质量。TM4000PlusⅡ可将二次电子图像和背散射电子图像叠加并实时进行显示，获...

日立ArBlade 5000离子研磨系统能够实现高产量，并制备广域横截面样品。

专用扫描透射显微镜HD-2700，配备了与德国CEOS GmbH公司（总经理Max Haider先生）共同开发的球差校正仪，显著提高了扫描透射电子显微镜的性能，更适合高纳米技术研究。由于球差校正系统校...

日立发布的200kV球差校正透射电镜HF5000，具有高稳定冷场发射电子枪，自动球差校正器，可一键操作实现自动球差校正，HAADF-STEM分辨率可以达到0.78埃；