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浑然一体的ChemiSEM技术：集成式扫描电镜成像与 X 射线能谱解决方案
发布：赛默飞世尔材料与结构分析浏览次数：2使用独立的SEM和EDS系统
存在一定的局限性
能量色散X射线能谱(EDS)常常与扫描电子显微镜（SEM）结合使用，用于确定样品的元素组成。当样品在SEM中被电子轰击时，EDS检测到样品发射的特征X射线。通过分析这些X射线的能量和强度，EDS可以识别样品中存在的元素，并提供关于其丰度的定量信息。由于SEM和EDS技术的差异，科研用户通常采购不同供应商的SEM和EDS系统，然而在实际使用过程中往往遇到一些的麻烦和困扰。而且管理独立的系统可能会导致效率低下和长期成本增加，因为需要额外的时间和资源。比如：
由于独特的硬件和软件要求，整合问题可能会出现，使得过程复杂且耗时。
软件不兼容通常需要在不同的界面之间切换，从而中断工作流程并增加出错的可能性。
从两个独立系统同步和下载数据可能会很繁琐且容易出现不准确，需要手动操作和关联。
处理多个供应商的技术支持和维护变得更加复杂，导致问题解决的延迟。
每个系统的专门培训增加了使用人员的学习时间。
校准和标准化则需要额外的专业知识以确保数据的准确和可靠。
科研用户需要一个完全的整合方案
——ChemiSEM
ChemiSEM技术结合了扫描电镜 (SEM) 和与 X 射线能谱 (EDS)，可简化对金属、陶瓷、电池、涂层、水泥和软材料等多种材料的复杂分析。
更优的用户体验
ChemiSEM通过一个软件系统同时进行SEM和EDS分析，大大减少了新用户学习时间，使得分析更加顺畅，延长了机器的有效机时，在同样的时间里分析更多的样品。
强大的分析性能
ChemiSEM技术可实时自动处理原始信号，生成定量图。对数据进行解卷积，避免出现和峰和重叠峰，并去除背景；全新功能ChemiPhase可以利用实验数据中所有具有统计学意义的谱图对每个独特的相位进行系统性的识别，而不依赖于对样品的预先假设；不仅如此，ChemiSEM技术通过持续监测样本位置，可自动校正样本漂移。
可靠的数据质量
ChemiSEM 技术提供了智能、全自动化的自动 ID 优化、数字峰值拟合和矩阵校正程序，使各类用户都能获得可靠的结果。随着数据的累积，一系列统计验证程序将持续自动对数据进行建模和优化，让用户安心使用。
多样的搭配机器
ChemiSEM技术将来可搭载 Thermo Scientific? Axia?、Apreo? 2 和 Quattro? 扫描电镜，满足不同类型用户的需求。
赛默飞诚挚邀请广大用户体验 SEM-EDS 集成解决方案，从而降低培训需求、提高效率并降低成本，如需了解更多请扫码下载电子手册。
2024-06-26相关仪器 -
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