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公司新闻
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活动回顾 | 赛默飞 X 射线衍射荧光技术交流会圆满成功!
发布:赛默飞化学分析仪器浏览次数:1242024年 06 月 21 日,赛默飞世尔科技在广州成功举办了“X 射线衍射仪新品发布及 X 射线衍射荧光技术交流会”。本次会议以“极致探索、晶透未来”为主题,吸引了来自知名高校、科研院所、政府、领军企业等 50 多位领导老师莅临现场,共同见证赛默飞首款“中国制造”科研级立式 X 射线衍射仪——ARL EQUINOX Pro 的正式亮相。
新品揭幕
在新品揭幕环节,中山大学的陈建教授与事业部的俞洋先生共同为ARL EQUINOX Pro揭幕,这一刻,不仅是对赛默飞科技实力的认可,更是对中国科研力量的一次致敬。
大会致辞
中山大学陈建教授发表了致辞,对赛默飞新品的发布表示祝贺,并对赛默飞在 X 射线衍射技术领域的贡献给予了高度评价。
事业部的俞洋先生介绍了赛默飞的发展历程和未来规划,并表示赛默飞将继续秉承“客户至上”的理念,为用户提供更加优质的产品和服务。
大会报告
报告一:《及材料表征全套解决方案》
△ 事业部智能制造与过程分析
蔡黎平高级销售经理
蔡黎平先生详细介绍了公司的全套化学分析及材料表征解决方案,展现了赛默飞在化学分析领域的深厚积累和前瞻视野。
报告二:《ARL EQUINOX Pro全新X射线衍射仪产品介绍及性能展示》
△事业部智能制造与过程分析
居威材资深应用科学家
居威材先生深入讲解了ARL EQUINOX Pro的技术特点和性能优势,展示了 ARL EQUINOX Pro 的卓越性能和广泛应用前景,让与会者对这款全新X射线衍射仪有了更全面的认识。
报告三:《多晶X 射线衍射仪应用性能与功能浅论与展望》
△ 昆明理工大学分析测试中心 王春建教授
王春建教授分享了多晶 X 射线衍射仪的应用性能与功能浅论及展望,包括其能精确测定晶体结构和晶格参数用于材料研究,可进行物相分析及晶体取向和织构分析,未来其精度效率提升,能用于更复杂体系研究且与其他技术结合更紧密,在多领域发挥更大价值。
报告四:《X射线衍射在新能源研究中的应用》
△中国科学院广州能源所 张少鸿高级工程师
张少鸿高级工程师分享了 X 射线衍射在新能源研究中的应用,包括其在分析材料结构、研究反应过程、检测晶体特性等方面的具体应用情况,助力新能源领域的技术发展与创新。
报告五:《波长色散X 射线荧光光谱仪的精度测定,国家标准GB42358 解读》
△ 广东省分析测试协会副会长 宋武元研究员
宋武元研究员为与会者解读了波长色散X射线荧光光谱仪的精度测定及GB42358的国家标准,介绍了该标准的适用范围、技术要求、试验方法等,为行业标准的制定提供了权威的声音。
报告六:《X 射线分析技术在无机非金属材料中的应用》
△佛山市陶瓷研究所检测有限公司 林珊总经理
林珊总经理介绍了 X 射线分析技术在无机非金属材料中的应用。她对 X 射线分析技术在无机非金属材料中的发展趋势进行了展望,包括更高的分辨率、更快的测量速度、更广泛的应用领域等。
会议的最后,举行了赠书仪式,广东省分析测试协会副会长宋武元研究员为与会嘉宾带来了他的著作《实用 X 射线光谱分析》,为广大业界同行提供了一份集大成的珍贵指南。
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新品仪器特点
新型电控测角系统:最新的小型化和分散化电机控制系统,可克服由于驱动电机失步或超步引起的位置误差,提高测角仪的整体控制精度和重复性
先进光子探测技术:前沿PTPC(脉冲触发实时位置)计数技术,通过同步脉冲触发探测器的电子门控电路,将测角仪实际到达位置与探测器响应进行同步,实现探测器计数与测角仪位置的精确对应,将角度位置与信号采集精确控制在行业先进级别
魔卡免维护设计:光路魔卡设计系统和机械误差动态补偿技术,通过整个光路系统上的组件、光源高低、倾角、狭缝架高低、探测器的魔卡设计,支持用户在切换光路和样品台后无需再次校正,直接使用仪器
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会议精彩瞬间
本次会议的成功举办,不仅展示了赛默飞在 X 射线衍射技术领域的领先地位,也为与会嘉宾提供了一个交流和学习的平台,共同探讨了 X 射线衍射及荧光技术的发展方向。赛默飞作为科学仪器领导者,将继续秉承“客户至上”的理念,不断推动科技进步和产业发展,为用户提供更加优质的产品和服务。
2024-06-27 -
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