标准的光学器件足够用于检测二维物体，例如，检测印刷电路板上的痕迹或对非平面物体进行定量分析。但是，在对三维物体的精准测量或特征比对中，例如，注塑件的弯曲表面，上述误差很容易产生问题。
选择配备适当光学器件的显微镜能够显著减少隐藏缺陷，提供更精准、再现性更高的测量结果，而这两项特性都是现代检测和光学测量中必不可少的。