-
产品文章
-
产品介绍 Bruker FilmTek CD椭偏仪
发布:上海尔迪仪器科技有限公司浏览次数:258——多模态临界尺寸测量和薄膜计量学
FilmTekTM CD光学临界尺寸系统是我们解决方案,可用于1x nm设计节点及更高级别的全自动化、高通量CD测量和高级薄膜分析。该系统同时提供已知和完全未知结构的实时多层堆叠特性和CD测量。
FilmTek CD利用多模测量技术来满足与开发和生产中复杂的半导体设计特征相关的挑战性需求。这项技术能够测量极小的线宽,在低于10纳米的范围内进行高精度测量。
依赖传统椭圆偏振仪或反射仪技术的现有计量工具在实时准确解析CD测量的能力方面受到限制,需要在设备研究和开发期间生成繁琐的库。FilmTek CD通过获得多模态测量技术克服了这一限制,该技术甚至为完全未知的结构提供了单一解决方案。
FilmTek CD包括具有快速、实时优化功能的专有衍射软件。实时优化允许用户以小的设置时间和配方开发轻松测量未知结构,同时避免与库生成相关的延迟和复杂度。测量能力:
·厚度、折射率和光盘计量
·未知薄膜的光学常数表征
·超薄膜叠层厚度
·广泛的关键尺寸测量应用,包括金属栅极凹槽、高k凹槽、侧壁角、抗蚀剂高度、硬掩模高度、沟槽和接触轮廓以及间距行走Bruker FilmTek CD椭偏仪在尔迪仪器有售,如有需要可联系上海尔迪仪器科技有限公司!拨打电话021-61552797!021-61552797!
2022-09-13相关仪器 -
免责声明
①本网刊载上述内容,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任
②若本站内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱:hezou_yiqi
-
仪网通银牌会员 第 4 年
上海尔迪仪器科技有限公司
认证:工商信息已核实
- 产品分类
- 品牌分类
- (德国)Diener
- (德国)德国relyon
- (日本)日本堀场
- (日本)日本坚山
- (德国)德国布鲁克
- (美国)赛默飞世尔
- (日本)日本坚山
- (意大利)意大利Copan
- (美国)美国必能信
- (德国)德国好乐
- (日本)日本雅马拓
- (韩国)韩国杰奥特
- (韩国)JEIO TECH
- (日本)日本KDF
- (德国)克吕士
- (法国)Laselec
- (意大利)意大利Steelco
- (德国)Pink
- (德国)德国美墨尔特
- (日本)日本三菱化学
- (德国)Dataphysics
-
仪企号尔迪仪器
-
友情链接
-
手机版开启全新的世界m.yiqi.com/zt2735/