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布鲁克Bruker 隧穿磁比率测量仪价格:面议
- 品牌: 德国布鲁克
- 型号:SmartProber-P1
- 产地:德国
布鲁克Bruker隧穿磁比率测量仪SmartProber-P1 ——用于企业研发和故障分析中 300mm 晶圆应用的电动系统
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Bruker隧穿磁比率测量仪价格:面议
- 品牌: 德国布鲁克
- 型号:SmartProber TT
- 产地:德国
布鲁克Bruker隧穿磁比率测量仪SmartProber TT 具有平面内磁铁的低成本台式 CIPT 系统,适用于研究和开发
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- 品牌: 德国布鲁克
- 型号:FilmTek 2000 PAR-SE
- 产地:德国
Bruker椭偏仪FilmTek 2000 PAR-SE ——用于几乎所有先进薄膜或产品晶片测量的先进多模计量
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Bruker FilmTek CD椭偏仪价格:面议
- 品牌: 德国布鲁克
- 型号: FilmTek CD
- 产地:德国
FilmTekTM CD光学临界尺寸系统是我们解决方案,可用于1x nm设计节点及更高级别的全自动化、高通量CD测量和高级薄膜分析。该系统同时提供已知和完全未知结构的实时多层堆叠特性和CD测量。 ...
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- 品牌: 德国布鲁克
- 型号:FilmTek 2000M TSV
- 产地:德国
FilmTek™ 2000M TSV计量系统为半导体封装应用提供了速度和精度组合。该系统为各种封装工艺和相关结构的高通量测量提供了测量性能和精度,包括表征抗蚀剂厚度、硅通孔(TSV)、铜柱、凸块和再分...
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- 品牌: 德国布鲁克
- 型号:FilmTek 2000 PAR-SE
- 产地:德国
FilmTek™ 2000标准杆数-SE光谱椭圆偏振仪/多角度反射仪系统结合了FilmTek技术,为从研发到生产的几乎所有薄膜测量应用提供了业界领先的精度、精度和多功能性。其标准的小点测量尺寸和模式识...
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- 品牌: 德国布鲁克
- 型号:InSight AFP
- 产地:德国
——第五代AFP具有业界高的分辨率、快的成型速度和快速的3D模具映射
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- 品牌: 德国布鲁克
- 型号:InSight CAP
- 产地:德国
Bruker全自动原子力显微镜InSightCAP紧凑型高性能剖面仪和AFMBruker的InSightCAP自动原子力轮廓仪是专门为半导体制造商和供应商设计的CMP和蚀刻计量组合平台。
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- 品牌: 德国布鲁克
- 型号: JV-QCVelox
- 产地:德国
Bruker布鲁克 JV-QCVelox X射线衍射仪 XRD ——用于 LED 和外延层晶圆分析的生产专用高分辨率 X 射线衍射系统
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- 品牌: 德国布鲁克
- 型号:JV-DX
- 产地:德国
Bruker布鲁克 JV-DX X射线衍射仪 XRD ——X射线测量满足您的研发需求 Jordan Valley 的 Delta-X 是用于材料研究、工艺开发和质量控制的新一代柔性 X 射...
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- 品牌: 德国布鲁克
- 型号:VERTEX 80/80v
- 产地:德国
bruker VERTEX 80/80v 傅立叶变换红外光谱仪 VERTEX 80和VERTEX 80v真空FTIR光谱仪采用主动准直的 UltraScan™ 干涉仪,能够为您带来极佳...
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- 品牌: 德国布鲁克
- 型号:VERTEX 70v
- 产地:德国
VERTEX70v为要求严格的分析和研究应用提供了超高性能。极具创新意义的设计成就了该系列谱仪极佳的灵活性和卓越的性能。数据采集使用delta-sigma自激型数/模转换器,该转换器具备真正的24位A...
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- 品牌: 德国布鲁克
- 型号:ContourX-100
- 产地:德国
bruker布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-100 具备高性价比的 ContourX-100 光学轮廓仪为精确的、可重复的、非接触式表面测量树立了新基准。 该系统占地面积小,所采用的简化方案...
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布鲁克原位纳米力学测试系统价格:面议
- 品牌: 德国布鲁克
- 型号:Picoindenter
- 产地:德国
Bruker的PI 系统—PicoIndenter原位纳米力学测试系统,是Bruker公司专为扫描和透射电镜设计的可以通过视频捕获功能实时监测测试过程,并同步采集力学数据的定量纳米力学测
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- 品牌: 德国布鲁克
- 型号:UMT TriboLab
- 产地:德国
ruker通用机械测试仪 (UMT) 平台自 2000 年推出型号以来,一直是市场上功能全、使用广泛的摩擦仪。现在,ZX设计的UMT TriboLab™基于多功能的设计传统构建,具有独特的模块,实现了
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- 品牌: 德国布鲁克
- 型号:Anasys nanoIR3
- 产地:德国
10nm 空间分辨率化学成像和光谱高性能纳米级 FTIR 光谱只有 nanoIR3-s 能够提供:高性能纳米级 FTIR 光谱高性能红外近场光谱,采用目前先进的纳米红外激光源纳米级 FTIR 光谱,
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德国布鲁克
布鲁克公司Bruker Corporation(NASDAQ:BRKR)于1960年创立于德国,总部位于美国马萨诸塞州Billerica,是一家根据光谱核心技术与X射线技术,开发核子、生物与化学分析系统的公司。 布鲁克公司Bruker Corporation的技术平台包括核磁共振,质谱,气相和液相色谱三重四极质谱仪,X-射线,火花发射光谱,原子力显微镜,指示笔和光学测量技术,荧光光学显微镜,和红外和拉曼分子光谱技术。 布鲁克公司为生命科学研究,医药,生物技术,应用市场,细胞生物学,临床研究,微生物利用,体外诊断,纳米技术和材料科学行业提供科学仪器,分析和诊断解决方案研究。
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德国布鲁克解决方案
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bruker白光干涉仪在光学领域的应用
【概述】bruker白光干涉仪在光学领域的应用更多详细资料,可联系上海尔迪仪器科技有限公司,拨打电话021-62211270!021-62211270!上海尔迪仪器科技有限公司是一家从事仪器设备销售、...
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Bruker纳米红外光谱仪优点及应用范围
【概述】Bruker 公司的Anasys nanoIR3型纳米红外光谱测量系统,是一款基于原子力显微镜(AFM)的纳米表征工具。其采用光热诱导共振技术(PTIR,也称AFM-IR),使红外光谱的空间分...
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盘点傅里叶红外光谱仪应用行业
【概述】傅里叶红外光谱仪是基于对干涉后的红外光进行傅里叶变换的原理而开发的红外光谱仪,主要由红外光源、光阑、干涉仪(分束器、动镜、定镜)、样品室、检测器以及各种红外反射镜、激光器、控制电路板和电源组成...
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原子力显微镜的应用范围
【概述】 材料科学领域:AFM不但可以获得材料表面的3D形貌、表面粗糙度和高度等信息,而且可以获得材料表面物理性质分布的差异,例如摩擦力、阻抗分布、电势分布、介电常数,压电特性、磁学性质等。...
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bruker白光干涉仪在光学领域的应用
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德国布鲁克技术资料
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MultiMode 8 SPM 中文操作手册
MultiMode 8 SPM 中文操作手册——有需要可以联系上海尔迪仪器科技有限公司
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纳米傅利叶红外光谱及成像系统NanoIR3_cn_尔迪仪器
bruker纳米傅利叶红外光谱及成像系统NanoIR3产品资料_cn_尔迪仪器
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机械性能与摩擦测试TriboLab_cn_尔迪仪器
机械性能与摩擦测试TriboLab_cn中文产品资料_尔迪仪器
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赛默飞荧光光谱仪Quant X的特点及参数
赛默飞荧光光谱仪Quant X优点 新型 ARL QUANT'X EDXRF 光谱仪更高效、更易于操作、拥有更多的功能,为各个应用领域的制造商和研究人员提供Z先进的仪器,帮助解决Z具挑战性的分析...
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MultiMode 8 SPM 中文操作手册
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德国布鲁克产品文章
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概述原子力显微镜:在薄膜行业中的应用
布鲁克原子力显微镜afm:在薄膜技术中的应用购买布鲁克原子力显微镜或者bruker的其他产品,可联系上海尔迪仪器科技有限公司 原子力显微镜是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分...
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公司座机坏了,有需要可以先QQ3218790381联系
公司021-61552797座机坏了,有需要可以先QQ3218790381联系
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产品介绍-Bruker NPFLEX-1000 三维光学轮廓
NPFLEX-1000三维光学轮廓仪——多功能的大样品精密加工解决方案 需要可联系上海尔迪仪器科技有限公司,拨打电话021-61552797!021-61552797! 用于快速、...
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布鲁克x射线衍射仪 D8产品介绍
bruker x射线衍射仪 D8——面向未来的X射线衍射解决方案 X射线衍射(XRD)是在环境或非环境条件下从几乎任何类型的样品中提取结构信息的方法,而不论其形状、大小或成分如何。因此,对X...
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概述原子力显微镜:在薄膜行业中的应用