STS的低配版，可升级STS 。
操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。
记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。
相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）
保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）
树脂成型
玻璃
online双折射/残余应力测量仪KAMAKIRI -X stage 核心参数
| 仪器种类: | 台式 |
详细介绍
KAMAKIRI -X stage
主要特点：
应用领域：
技术参数：
项次 | 项目 | 具体参数 |
1 | 输出项目 | 相位差【nm】，轴方向【°】 |
2 | 测量波长 | 543nm（支持客制化） |
3 | 双折射测量范围 | 0-260nm（支持客制化） |
4 | 主轴方位范围 | 0-180° |
5 | 测量重复精度 | <1nm（西格玛） |
6 | 测量尺寸 | A4(标准) |
7 | 定制选项 | 可定制大载台 |
此系列产品型号众多，未一一列出，如果您想了解更多产品信息，或者有任何问题想要咨询，请联系我们我们。
产品优势
Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片wan美结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域。
