操作简单,测量速度可以快到3秒。
采用CCD Camera,视野范围内可一次测量,测量范围广。
测量数据是二维分布图像,可以更直观的读取数据。
具有多种分析功能和测量结果的比较。
维护简单,不含旋转光学滤片的机构。
光学零件(镜片、薄膜、导光板)
透明成型品(车载透明零件、食用品容器)
高分子材料(PET PVA COP ACRYL PC COC PMMA)
透明基板(玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石)
残余应力双折射仪WPA-200-XL 核心参数
仪器种类: | 台式 |
详细介绍
主要特点:
主要应用:
技术参数:
项次 | 项目 | 具体参数 |
1 | 输出项目 | 相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】 |
2 | 测量波长 | 520nm、543nm、575nm |
3 | 双折射测量范围 | 0-3500nm |
4 | 测量最小分辨率 | 0.001nm |
5 | 测量重复精度 | <1nm(西格玛) |
6 | 视野尺寸 | 218x290mm-360×480mm(标准) |
7 | 选配镜头视野 | 无选配 |
8 | 选配功能 | 实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制,CD模式 |
测量案例:
产品优势
WPA-200-XL系列是Photonic lattic公司以其领xian世界的光子晶体制造技术开发的产品,独特的测量技术,高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。 该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量,全面掌握应力分布。可测数千nm高相位差分布的万用机器,zui适合用来测量光学薄膜或透明树脂,量化测量结果,二维图表可以更直观的读取数据。