适用于薄膜等生产线上，实现各个环节的双折射测量
LIVE实时输出双折射的信息
OK/NG可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报
操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布
实时记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。
可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。
相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）
保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）
树脂成型
玻璃
日本PHL online残余应力测量仪KAMAKIRI W 核心参数
| 仪器种类: | 台式 |
详细介绍
KAMAKIRI W
主要特点：
应用领域：
技术参数:
项次 | 项目 | 具体参数 |
1 | 输出项目 | 相位差【nm】，轴方向【°】 |
2 | 测量波长 | 520nm |
3 | 双折射测量范围 | 0-130nm/0-260nm(选配) |
4 | 主轴方位范围 | 0-180° |
5 | 测量重复精度 | <1nm（西格玛） |
6 | 测量宽度尺寸 | 350mm |
7 | 宽度方向测量点 | 2560 |
产品优势
Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片WM结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域。
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