可用来评估高相位差产品，PET薄膜和树脂成品
三波长测定双折射范围可达3000nm
可选配高相位差配件，满足10000nm的超过相位差测定需求
相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）
保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）
树脂成型
玻璃
日本PHL online 双折射测量仪WPA-KAMAKIRI 核心参数
主要参数：
| 仪器种类: | 台式 | 测量范围: | 0-3000nm |
| 准确度: | <1nm |
详细介绍
WPA-KAMAKIRI
主要特点：
应用领域：
主要参数：
项次 | 项目 | 具体参数 |
1 | 输出项目 | 相位差【nm】，轴方向【°】 |
2 | 测量波长 | 523nm、543nm、575nm |
3 | 双折射测量范围 | 0-3000nm |
4 | 主轴方位范围 | 0-180° |
5 | 测量重复精度 | <1nm |
6 | 测量尺寸 | 97×77mm ～ 2900×2310mm |
7 | 定制选项 | 光学配件，可测量超过10000nm的高相位差 |
产品优势
Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片WM结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域。
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