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上海纳腾仪器有限公司
认证:工商信息未核实
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- ( 韩国)韩国Park Systems
- ( 法国)CSI instruments
- ( 英国)Swift Instruments
- ( 美国)美国KLA
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- ( 俄罗斯)俄罗斯NT-MDT
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仪企号上海纳腾仪器有限公司
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KLA单点膜厚测量仪F20价格:面议
- 品牌:美国KLA
- 型号:F20
- 产地:美洲 美国
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KLA全自动膜厚测试仪F60价格:面议
- 品牌:美国KLA
- 型号:F60
- 产地:美洲 美国
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KLA白光共聚焦显微镜轮廓仪ZETA-20价格:面议
- 品牌:美国KLA
- 型号:ZETA-20
- 产地:美洲 美国
非接触式优点就是测量装置探测部分不与被测表面的直接接触,保护了测量装置,同时避免了与测量装置直接接触引入的测量误差。 Zeta-20三维光学轮廓仪集成了六种光学计量技术。 ZDot 测量模式同时采集...
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KLA晶圆探针式轮廓仪/台阶仪P-7价格:面议
- 品牌:美国KLA
- 型号:P-7
- 产地:美洲 美国
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- 品牌:美国KLA
- 型号:D-600
- 产地:美洲 美国
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KLA高精度台式纳米压痕仪iNano价格:面议
- 品牌:美国KLA
- 型号:iNano
- 产地:美洲 美国
iNano高精度台式纳米压痕仪是一种紧凑,用户友好的纳米机械测量系统,设计用于硬涂层,薄膜和少量材料。该系统旨在进行准确,可重复的纳米级机械测试,包括压痕,硬度,划痕和通用纳米级测试。iNano具有很...
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kla 白光干涉仪三位轮廓仪Profilm 3D价格:面议
- 品牌:美国KLA
- 型号:Profilm 3D
- 产地:美洲 美国
Profilm 3D是一款兼具垂直扫描干涉 (VSI)和高精确度相移干涉 (PSI) 技术的经济三维光学轮廓仪,其可以用于多种用途的高精度表面测量。 我司有此机器可测样。
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KLA R-50方阻测试仪价格:面议
- 品牌:美国KLA
- 型号:R50
- 产地:美洲 美国
Filmetrics R50 是KLA电阻测试家族的Z新产品。R50方阻测试仪是KLA超45年电阻测量技术地位之作。电阻测量和监控对于任何使用导电薄膜的行业都至关重要,从半导体制造到可穿戴技术所需的柔...
美国KLA
KLA-Tencor成立于1975年,位于美国加利福尼亚州的米尔皮塔斯,致力于半导体(芯片)设备领域的探索。产品主要有芯片缺陷检测仪、芯片量测仪、实时等离子蚀刻晶圆温度测量系统、套刻量测系统、表面轮廓仪、纳米机械测试仪、芯片封装设备等,产品广泛应用于半导体产品研发、设计、制造、检测等领域。