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上海纳腾仪器有限公司
认证:工商信息未核实
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仪企号上海纳腾仪器有限公司
- 品牌:美国KLA
- 型号:R50
- 产地:美洲 美国
- 供应商报价:面议
Filmetrics R50 是KLA电阻测试家族的Z新产品。R50方阻测试仪是KLA超45年电阻测量技术地位之作。电阻测量和监控对于任何使用导电薄膜的行业都至关重要,从半导体制造到可穿戴技术所需的柔性电子产品。R50在金属膜均匀性分布、离子掺杂和注入表征、薄膜厚度和电阻率分布、以及非接触膜厚等量测均进行了优化加强。
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技术参数
品牌: | 美国KLA | 型号: | R50 |
详细介绍
KLA薄膜电阻测量技术方阻测试仪包括接触(4PP)和非接触(EC)方法。
Filmetrics的R50系列方块电阻测量仪器可测量沉积在各种基材上的导电片和薄膜,跨越10个数量级范围电阻率,包括:
半导体晶圆基板
玻璃基板
塑料(柔性)基材
PCB图案特征
太阳能电池
平板显示层和图案化特征
金属箔
二、方阻测试仪主要功能
l 技术规格
测量范围:5m Ohm/sq - 5M Ohm/sq;
测量精度: +/- 1%;
重复度: 小于 0.2%;
样品图中无*的测量点位,自定义测量Recipe,可线性、矩形、
极坐标以及自定义等。
Model | Description |
R50-4PP | 四探针测试 自动XY移动台-100mm*100mm 可实现直接100mm晶圆方块电阻mapping测量 可放置直径200mm晶圆样品 |
R50-EC | 非接触涡流测试 自动XY移动台-100mm*100mm 可实现直接100mm晶圆方块电阻mapping非接触测量 可放置直径200mm晶圆样品 |
R50-200-4PP | 四探针测试 自动XY移动台-200mm*200mm 可实现直接200mm晶圆方块电阻mapping测量 |
R50-200-EC | 非接触涡流测试 自动XY移动台-200mm*200mm 可实现直接200mm晶圆方块电阻mapping非接触测量 |
三、应用
支持广泛的测量,包括但不限于以下各项:
金属膜厚度、基板厚度、方块电阻、电阻率、电导率、掺杂浓度等。