台阶仪
NanoMap-500LS
NanoMap 500LS台阶仪
特点
该款台阶仪是常规的接触式轮廓仪和扫描探针显微镜技术的wan美结合
双模式操作(针尖扫描和样品台扫描),即使在长程测量时也可以得到zuiyou化的小区域三维测图
针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式,三维扫描范围从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到50mm。
在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样品直接观察
针尖扫描采用双光学传感器,同时拥有宽阔测量动态范围(最大至500μm)及亚纳米级垂直分辨率 (最小0.1nm )
软件设置恒定微力接触
简单的2步关键操作,友好的软件操作界面
应用
台阶仪主要应用在金属材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各种材料表面的薄膜厚度,台阶高度,二维粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),三维粗糙度(Sa,Sq,Smax),划痕截面面积,划痕体积,磨损面积,磨损体积,磨损深度,薄膜应力(曲定量率半径法)等定量测量。摆脱了以往只能得到二维信息,或三维信息过于粗糙的现状。将轮廓仪带入了另一个高精度测量的新时代。
三维表面轮廓测量和粗糙度测量,即适用于精密抛光的光学表面也可适用于质地粗糙的机加工零件。
薄膜和厚膜的台阶高度测量
划痕形貌,磨损深度、宽度和体积定量测量
空间分析和表面纹理表征
平面度和曲率测量
二维薄膜应力测量
微电子表面分析和MEMS表征
表面质量和缺陷检测
环境要求
湿度:10-80%, 相对湿度,无冷凝
温度:65-85 华氏度(△T<1度/小时)
电源要求:110/240V,50/60 Hz
技术规格
类型 项目 规格
综述 小范围XY扫描头,提供高精确度
XY平台扫描,提供大尺度测量
带亮场和暗场的全时彩色CCD照相机
软件控制触针测量力,范围 0.1-100mg
触针针尖半径选件 2μm,5 μm,12.5 μm和25 μm,0.1-0.8μm可选
针尖扫描
(Piezo扫描器) 台阶高度重现性 0.6nm
垂直分辨率 0.1nm
测量高度精细范围 5μm
测量高度粗略范围 0.5mm
XY扫描分辨率 0.1μm
XY扫描定位重现性 0.2μm
扫描速度 10-50μm/sec
扫描范围 10-500μm
每次扫描数据点 100-1000数据点最多至110000数据点
样品台扫描 XY样品区域 100mm X 100mm, 150mm安装间隙
XY平台运动范围 100mm X 100mm(150mm X 150mm)
XY平台定位重现性 5μm,2μm可选
最大扫描长度 50mm
扫描速度 0.1-5mm/sec
Z平台范围 55mm
最大样品高度 50mm
手动旋转平台范围 360度
手动倾斜平台范围 ±2度
标准样品 台阶高度标准样品(NIST认证) 100μm
系统 光学照相机视场范围 1.5 X 1.5mm
光学照明 软件控制暗场和亮场
电脑 Pentium IV, USB2.0联接
操作系统 Win XP
系统动力需求 90-240V,350W
空间尺寸 20’’ 宽X 22’’长 X 25’’高
重量 160lb
联系方式:aep Technology
电话:+86-010-68187909
传真:+86-010-68187909
手机:+86-15611184708何先生
公司网址:www.aeptechnolongy.com.cn
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