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主营产品:台阶仪,白光干涉测厚仪,扫描探针显微镜/原子力显微镜/扫描隧道显微镜/磁力显微镜/静电力显微镜,其它表界面物性测试仪器,比表面分析仪/孔径分析仪,轮廓仪,叶面积仪,工具显微镜/测量显微镜,其它激光仪器
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探针接触式三维轮廓仪
  • 品牌:美国AEP Technology
  • 型号: NanoMap500LS
  • 产地:美国
  • 样册:暂无
  • 供应商报价: 面议
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详细介绍

仪器简介:

该系统利用扫描探针显微镜光杠杆位移检测技术和超平整参照面-大型样品台扫描技术,并与压电陶瓷(PZT)扫描wan美结合,可以再不丧失精度的情况下,即得到超大样品整体三维轮廓图,又呈现局部三维形貌像。其中样品台扫描参考平面使用超高平坦度光学抛光平台,有效解决了以往样品台扫面,由于丝杠公差引起的测试结果有亚微米量级的误差。

三维表面形貌/轮廓仪主要应用在金属材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各种材料表面的薄膜厚度,台阶高度,二维粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),三维粗糙度(Sa,Sq,Smax),划痕截面面积,划痕体积,磨损面积,磨损体积,磨损深度,薄膜应力(曲定量率半径法)等定量测量。摆脱了以往只能得到二维信息,或三维信息过于粗糙的现状。将轮廓仪带入了另一个高精度测量的新时代。



主要特点:

1、常规的接触式轮廓仪和扫描探针显微镜技术的wan美结合
2、双模式操作(针尖扫描和样品台扫描),即使在长程测量时也可以得到zuiyou化的小区域三维测图
3、针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式,三维扫描范围从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到50mm。
4、在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样品直接观察
5、针尖扫描采用双光学传感器,同时拥有宽阔测量动态范围(最大至500μm)及亚纳米级垂直分辨率 (最小0.1nm )
6、软件设置恒定微力接触
7、简单的2步关键操作,友好的软件操作界面

技术文档
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