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量子效率测定系统QE-2000价格：面议- 品牌： 日本大塚
- 型号：QE-2000
- 产地：日本
量子效率测量系统“QE-2000”是一种测量量子效率（量子产额）的装置。将试料放置在固定治具上之后, 按照专业软件的指示操作，可以在短时间内完成试料的测量及解析。
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OPTM 半导体膜厚测试仪价格：面议- 品牌： 日本大塚
- 型号：optm
- 产地：日本
测量目标膜的JD反射率，实现高精度膜厚和光学常数测试！ （分光干渉法）
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膜厚测量仪FE-3价格：面议- 品牌： 日本大塚
- 型号：FE-3
- 产地：日本
对于具有波长依赖性的多层膜，可以实现高精度测量！
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反射式膜厚测量仪FE-3000价格：面议- 品牌： 日本大塚
- 型号：FE-3000
- 产地：日本
可WM对应所有基板上多层膜测量的光干涉膜厚仪。实绩很多。高精度，高感度从薄膜到厚膜的广范围多层膜分析
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膜厚测量仪FE-300价格：面议- 品牌： 日本大塚
- 型号：FE-300
- 产地：日本
小型・低价格！简单操作”非接触”膜厚量测仪FE-300！
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椭圆偏振光测量仪FE5000价格：面议- 品牌： 日本大塚
- 型号：FE5000
- 产地：日本
通过自动多角度椭圆偏振光测量仪实现高速的薄膜膜厚测量和高精度的光学常数解析
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激光粒径仪价格：面议- 品牌： 日本大塚
- 型号：ELSZ-2000
- 产地：日本
ELSZ-2000激光粒径仪提供快速、准确、便捷的粒径大小测试，界连电位测试以及分子量的测试。 该分析仪可在0.6纳米至10微米粒度范围内进行粒径测量，-200到200mV间进行界达电位测量。
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日本大塚
日本大冢电子有限公司成立于1970年5月总部在日本，主要生产科学仪器，光学仪器，医疗设备，工业测量设备及零件还有配件，产品广泛应用于医疗、测试、食品、化学等领域。
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日本大塚技术资料
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量子效率测定系统QE-2000
量子效率测定系统QE-2000
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OPTM半导体膜厚测试仪
OPTM半导体膜厚测试仪
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膜厚测量仪FE-3
膜厚测量仪FE-3
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反射式膜厚测量仪FE-3000
反射式膜厚测量仪FE-3000
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量子效率测定系统QE-2000
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