TDR阻抗测试仪-ZK2130（特性阻抗测试仪）
用途
TDR阻抗测试仪是采用时域反射技术设计的，能够批量化、自动化、快速、准确测试被测件的特性阻抗，并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印等功能。适用于刚性/挠性电路板、高频电缆、高频线材制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。和传统TDR取样示波器相比，增加了针对线路板、电缆行业的标准化、自动化测试和分析软件。为特性阻抗测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。
特征
1、批量化、自动化测试，操作简单、测试快捷，适合线缆工厂快速测试。
2、Windows操作环境，友好的人机界面，自动出具测试结果。
3、提供单端和差分阻抗测试。
4、支持2通道、4通道测试。
5、快速定制测试任务及批量化、自动化测试功能。
6、集成测试文件编辑器，快速设置测试参数。
7、自动记录测试数据，生成报表并保存在磁盘上。
8、显示测试波形、统计数据分析及测试结果。
9、打印测试报表、波形及测试结果。
10、符合1394a/b、DiiVA、DP、HDMI1.4、SATA I/II、USB2.0/3.0等各种标准的特性阻抗测试要求
技术参数
项目 规格
型号： TDR-ZK2130
测量功能： 单端阻抗、差分阻抗、共模阻抗差分延迟、差分对内延迟差、差分对间延迟差
控制阻抗测试范围： 单端10Ω-150Ω
差分：20Ω-300Ω
测量精度： 50Ω±1%
重复测量精度 ： 50Ω±0.5%
测量长度 ： 0.04m～2m
水平显示分辨率 ： 0.2mm
垂直显示分辨率 ： 0.03Ω
测试方法 ： 时域反射法（TDR）
TDR 带宽 ： >3 GHZ
取样示波器带宽： >5GHz
入射脉冲上升时间： <80ps
TDR采样时间分辨率： 10ps
数据统计分析功能 ： SPC功能模块（SPC）
