详细介绍
正业科技自主研发生产PCB精密检测仪器,继特性阻抗测试仪ZK2120之后又推出新的高频特性阻抗测试仪ZK2130,ZK2130比ZK2120测的阻抗值更加精确,且ZK2130带有数据统计分析功能。ZK2013的推出更能满足客户的需求,同时也得到了广大客户的认可。
高频特性阻抗测试仪ZK2130是采用时域反射技术设计的,能够批量化、自动化、快速、准确测试PCB迹线的特性阻抗,并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印等功能。适用于电路板制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。为高频线路板特性阻抗测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。
高频特性阻抗测试仪ZK2130是采用时域反射技术设计的,能够批量化、自动化、快速、准确测试PCB迹线的特性阻抗,并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印等功能。适用于电路板制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。为高频线路板特性阻抗测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。
高频特性阻抗测试仪ZK2130特点:
1、批量化、自动化测试,操作简单、测试快捷,适合PCB工厂快速测试。
2、Windows操作环境,友好的人机界面,自动出具测试结果。
3、提供单端和差分阻抗测试。
4、支持2通道、4通道测试。
5、快速定制测试任务及批量化、自动化测试功能。
6、集成测试文件编辑器,快速设置测试参数。
7、自动记录测试数据,生成报表并保存在磁盘上。
8、显示测试波形、统计数据分析及测试结果。
9、打印测试报表、波形及测试结果。
10、符合IPC-TM-650和IPC2141标准。
高频特性阻抗测试仪ZK2130技术参数
项目 规格
型号 TDR-ZK2120
控制阻抗测试范围 20~150Ω
测量精度 50Ω±1%
测量长度 0.05~2m
水平显示分辨率 0.2mm
垂直显示分辨率 0.05Ω
测试方法 时域反射法
带宽 3GHZ
数据统计分析功能 SPC功能模块
数据统计分析功能 SPC功能模块