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- 品牌： 日本滨松
- 型号：C11222-16
- 产地：日本
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- 品牌： 日本滨松
- 型号：C14229-01
- 产地：日本
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- 品牌： 日本滨松
- 型号：C10506-05-16
- 产地：日本
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- 品牌： 日本滨松
- 型号：C10506-06-16
- 产地：日本
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失效分析系统
通过微弱的光发射和热发射来定位半导体器件上失效缺陷位置的显微镜成像系统。
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失效分析系统技术资料
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PHEMOS-1000 微光显微镜 C11222-16产品样册
PHEMOS-1000是一款高分辨率的微光显微镜，通过检测半导体缺陷引起的微弱的光发射和热发射来准确定位半导体器件的失效位置。由于PHEMOS-1000...
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Thermal F1 热发射显微镜 C14229-01产品样册
“Thermal F1”是热发射显微镜的Zxin一代产品。这款设备完全地由设计和研发PHEMOS的工程师团队负责，显微镜系统可以自动控制，同类产品中拥有...
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iPHEMOS-DD倒置发射显微镜 C10506-05-16产品样册
倒置发射显微镜是一款背面分析系统，用于侦测和识别半导体器件上的光发射和热发射。 样品可以轻松地安装到探针卡上面实施点针，信号从器件背面侦测。平台下方可...
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iPHEMOS-MP倒置发射显微镜 C10506-06-16产品样册
iPHEMOS-MP倒置微光显微镜是一款半导体失效分析系统，通过检测半导体装置缺陷引起的微弱的光发射和热发射来准确定位半导体器件失效的位置。利用其倒置型...
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PHEMOS-1000 微光显微镜 C11222-16产品样册
iPHEMOS-MP倒置微光显微镜是一款半导体失效分析系统，通过检测半导体装置缺陷引起的微弱的光发射和热发射来准确定位半导...
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倒置发射显微镜是一款背面分析系统，用于侦测和识别半导体器件上的光发射和热发射。
样品可以轻松地安装到探针卡上面...
“Thermal F1”是热发射显微镜的zuixin一代产品。这款设备完全地由设计和研发PHEMOS的工程师团队负责，显微...
PHEMOS-1000是一款高分辨率的微光显微镜，通过检测半导体缺陷引起的微弱的光发射和热发射来准确定位半导体器件的失效位...
