【概述】

【实验/设备条件】

便携式X射线荧光光谱分析仪

【样品提取】

【实验/操作方法】

• 通过对土壤、钻屑和钻芯中的探途元素进行XRF分析，可以快速发现潜在的金元素矿化的情况。

• 使用XRF分析仪对样本进行预先筛选，可以获得优选样本，合理使用分析经费，以及更准确地确定钻井的区域。

• 通过XRF技术绘制结构特性的映射图，并识别矿化蚀变区域，可以使用户更好地了解矿床，并有助于成功完成建模和定向工作。由于减少了稀释方式的使用，因此可以获得更好的金采收量。

• 在岩石地球化学应用中使用XRF技术，可以迅速、经济地为岩石进行分类。

金矿床的相关地球化学特征
资料来源：Reflex Geochemistry

【实验结果/结论】

探途元素和蚀变地球化学

大多数金矿床都有其特定的地球化学特征（如上表所示）。XRF分析仪可以探测到这些地球化学特征，从而可使地质学家更清楚地了解他们正在勘查的地质系统。典型的金探途元素包含As、Cu、Pb、Zn、Sb、Bi、Ag和W。

常见金探途元素的典型XRF检出限（Vanta VMR型号地球化学模式）

*每个光束120秒的检测时间，无干扰的二氧化硅基质；请参阅奥林巴斯有关检出限的文件，了解有关更低检出限的详细探讨说明。

用于探测金元素的XRF分析仪

众所周知，手持式XRF分析仪不能对地质样本中低含量的金元素进行直接检测（如：低ppm和ppb值）。基于实验室的火试金法被普遍认为是分析金元素的优选方法。金元素的L线处于X射线荧光能量频谱的非常拥挤的区域。在频谱的这个区域中，来自其它元素（如：As, Zn, W和Se）的干扰，会使分析仪得出错误的金元素存在的判断。

不过，在某些特定的情况下，如：高品位的（> 5 ppm）石英脉环境（相对来说没有干扰）或在精炼的金产品中（金元素有很高的含量），可以使用XRF分析仪对金元素进行直接检测。

金矿上越来越多的实验室正在使用XRF技术替代或补充火试金法，对矿石进行分析。请参阅奥林巴斯应用注释“在金矿实验室中使用手持式XRF分析仪”。在矿山上，工作人员也会使用奥林巴斯手持式XRF分析仪检测活性炭中的金元素。请参阅奥林巴斯应用注释“检测活性炭中的金元素”。

图像由Arne等提供（2014） – 在金元素勘探中对来自便携式XRF分析仪的资产规模数据的使用 – 优势和局限性，地球化学：勘探，环境，分析。
来自加拿大的金元素勘探项目，XRF分析仪在野外绘制的表面土壤中As、Cu和Pb元素等值线图对比ICP分析。

【仪器/耗材清单】

用于采矿业和地球化学领域的Vanta分析仪用于采矿业和地球化学领域的Vanta手持式XRF分析仪可以在现场立即进行元素分析，完成地球化学勘探、矿石品位控制、选矿及环境治理工作。